Além disso, o procedimento para a realização do ponto crítico utiliza 1h30 e
requer o monitoramento constante porque as amostras devem permanecer em um
líquido próprio durante o tempo todo (KENNEDY; WILLIAMS; GRAY, 1989).
Todavia, para este estudo, em um plano piloto inicial, utilizando a técnica de
preparo do HMDS, devido à fina espessura das fatias, muitas amostras fraturaram logo
após o procedimento, antes mesmo de ir para o vácuo, inviabilizando sua utilização.
Decidiu-se por realizar uma técnica de preparo das amostras seguida por outros autores
(BOLHUIS; GEE, 2005; MONTES, 2002; MOURA, 2003), a qual agrediu menos as
amostras e não fraturou as fatias antes de serem analisadas.
O ponto mais relevante talvez esteja no momento da realização do vácuo para o
preparo das amostras. Pesquisadores mostraram em seu trabalho que sua aplicação pode
introduzir artefatos capazes de afetar os resultados da pesquisa (RODA; GUTMANN,
1994). Por isso, a técnica da confecção e análise complementar de réplicas de resina
epóxica pode ser uma boa alternativa para este tipo de análise, como encontrado em
trabalhos na literatura (BOLHUIS; GEE, 2005; MONTES, 2002; MOURA, 2003). Para
esta pesquisa, as réplicas confeccionadas deram informações sobre as interfaces
estudadas e, através delas, mediu-se o tamanho da fenda formada, quando presente. Para
a microscopia óptica esta análise não foi possível, devido ao aumento limitado das
amostras (500x), no caso da MEV baixo vácuo, os detalhes para a visualização não
eram tantos a ponto de se conseguir quantificar o tamanho da fenda. E a MEV AV, após
a constatação da presença de fendas, nos corpos-de-prova, depois de submetidos ao
vácuo (Figura 5.12), foi desconsiderada para esta medição.
Vale ressaltar que o sucesso ou a falha na obtenção de informações confiáveis
quanto à estrutura ou a química de espécies orgânicas, poliméricas, biológicas e
hidratadas, as quais serão examinadas por um feixe de elétrons, depende exclusivamente