Download PDF
ads:
UNIVERSIDADE FEDERAL DO RIO GRANDE DO SUL
INSTITUTO DE QUÍMICA
PROGRAMA DE PÓS-GRADUAÇÃO EM QUÍMICA
Viviane Dalmoro
REVESTIMENTOS A BASE DE TEOS COM INCORPORAÇÃO DE ÁCIDOS
FOSFÔNICOS COMO PRÉ-TRATAMENTO PARA LIGAS DE ALUMÍNIO
Dissertação apresentada como requisito parcial para a
obtenção do grau de Mestre em Química
Prof
a
. Dr
a
. Denise Schermann Azambuja
Porto Alegre, agosto/2009.
ads:
Livros Grátis
http://www.livrosgratis.com.br
Milhares de livros grátis para download.
A presente dissertação foi realizada inteiramente pelo autor, exceto as colaborações as quais
serão devidamente citadas nos agradecimentos, no período entre (agosto/2007) e
(agosto/2009), no Instituto de Química da Universidade Federal do Rio Grande do Sul sob
Orientação da Professora Doutora Denise Schermann Azambuja. A dissertação foi julgada
adequada para a obtenção do título de Mestre em Química pela seguinte banca examinadora:
Comissão Examinadora:
Prof
a
. Dr
a
. Iduvirges Lurdes Muller
Escola de Engenharia – Universidade Federal do Rio Grande do Sul
Prof
a
. Dr
a
. Jane Zoppas Ferreira
Escola de Engenharia – Universidade Federal do Rio Grande do Sul
Prof. Dr. Reinaldo Simões Gonçalves
Instituto de Química – Universidade Federal do Rio Grande do Sul
ads:
III
AGRADECIMENTOS
À Prof
a
. Dr
a
. Denise Schermann Azambuja
Ao prof João Henrique Zimmoch dos Santos
À minha família
Aos colegas de Laboratório
As minhas amigas Fernanda Trombetta da Silva, Yara Patrícia da Silva, Letícia Guerreiro
Trindade, Fabiana Nogueira Grosser, Patrícia dos Santos Côrrea, Tanara Magalhães Campos
IV
SÚMARIO
Lista de Figuras.........................................................................................................................VI
Lista de Tabelas........................................................................................................................XI
Lista de Abreviaturas ............................................................................................................XIII
Resumo....................................................................................................................................XV
Abstract.......... ........................................................................................................................XVI
Introdução...................................................................................................................................1
Capítulo I Estudo de revestimentos TEOS/ácido fosfônicos para a proteção contra
corrosão da liga AA1100
I.1 Revisão bibliográfica.............................................................................................................3
I.1.1 Revestimentos de silano.................................................................................................3
I.1.1.1 Parâmetros que influenciam a deposição de silano...........................................6
I.1.1.1.1 Composição do banho..............................................................................6
I.1.1.1.2 Tempo de hidrólise..................................................................................7
I.1.1.1.3 Pré-tratamento..........................................................................................7
I.1.1.1.4 Tempo e temperatura de cura..................................................................7
I.1.1.2 Revestimentos de silanos depositados em ligas da série 1000 e liga
AA1100.......................................................................................................................................8
I.1.1.3 Revestimentos a base de TEOS.........................................................................9
I.1.2 Ácidos fosfônicos.........................................................................................................10
I.2 Procedimento experimental.................................................................................................14
V
I.2.1 Materiais.....................................................................................................................14
I.2.2 Preparação dos banhos................................................................................................15
I.2.3 Processo de revestimento............................................................................................16
I.2.4 Caracterização dos revestimentos...............................................................................16
I.2.4.1Técnicas eletroquímicas...................................................................................16
I.3.2.2 Técnicas de análise de superfície....................................................................17
I.3 Resultados e discussões.......................................................................................................18
I.3.1 Comportamento da liga AA1100 não revestida...........................................................18
I.3.2 Comportamento da liga AA 1100 revestida com TEOS..............................................22
I.3.3 Efeito da concentração do ácido aminotrimetilenofosfônico - ATMP ......................25
I.3.4 Efeito da concentração do ácido etilenodiaminotetrametilenofosfônico
EDTPO......................................................................................................................................30
I.3.5 Comparação entre os revestimentos.............................................................................34
I.4 Conclusões...........................................................................................................................36
Capítulo II Estudo de revestimentos TEOS/ácido fosfônicos para a proteção contra
corrosão da liga AA2024
II.1 Revisão bibliográfica..........................................................................................................37
II.1.1 AA 2024-T3................................................................................................................37
II.1.1 Revestimentos de silano aplicados na AA2024..........................................................42
II.2 Procedimento experimental................................................................................................45
II.2.1 Preparação do substrato.............................................................................................45
II.2.2 Preparação dos revestimentos...................................................................................45
VI
II.2.3 Caracterização dos revestimentos.............................................................................46
II.2.3.1 Técnicas eletroquímicas................................................................................46
II.2.3.2 Técnicas de análise de superfície..................................................................47
II.2.3.3 Espectroscopia de infravermelho (IV)..........................................................47
II.2.3.4 Medidas de espessura....................................................................................47
II.3 Resultados e discussões...................................................................................................48
II.3.1 Estudo da liga AA2024-T3 não revestida..................................................................48
II.3.1.1 Caracterização eletroquímica.........................................................................48
II.3.1.2 Caracterização da superfície..........................................................................51
II.3.2 Efeito do pré-tratamento da liga na deposição de TEOS/ácido fosfônico................53
II.3.2.1 Caracterização eletroquímica.........................................................................53
II.3.2.2 Caracterização da superfície...........................................................................65
II.3.3 Efeito da concentração de ATMP no desempenho dos revestimentos
TEOS/ATMP............................................................................................................................70
II.3.3.1 Caracterização eletroquímica.........................................................................70
II.3.3.2 Caracterização da superfície..........................................................................76
II.3.4 Efeito da concentração de EDTPO no desempenho dos revestimentos
TEOS/EDTPO...........................................................................................................................80
II.3.2.1 Caracterização eletroquímica.........................................................................80
II.3.2.2 Caracterização da superfície...........................................................................86
II.3.5 Efeito do tempo de hidrólise para o sol-gel TEOS/EDTPO......................................89
II.3.5.1 Caracterização eletroquímica.........................................................................89
II.3.5.2 Acompanhamento do tempo de hidrólise através de IV................................90
II.3.6 Comparação entre revestimento EDTPO, TEOS e TEOS/EDTPO............................92
VII
II.3.7 Incorporação de nanopartículas de sílica ao sol-gel TEOS/EDTPO..........................94
II.4 Conclusões..........................................................................................................................97
III Conclusão geral....................................................................................................................98
IV Referências...........................................................................................................................99
V Anexo..................................................................................................................................104
VIII
LISTA DE FIGURAS
Figura 1: Esquema da deposição de silano na superfície metálica.
7
..........................................4
Figura 2: Esquema do filme formado por (a) bissilanos e (b) monosilanos proposto por Zhu e
van Ooij.
27
...................................................................................................................................5
Figura 3: Representação da permeabilidade do revestimento BTSE sobre alumínio quando
imerso em solução de cloreto.
28
..................................................................................................6
Figura 4: Esquema da interação do grupo fosfônico com a superfície do óxido de
alumínio.
51
.................................................................................................................................12
Figura 5: Representação esquemática da ligação entre o silano funcionalizado com fosfônico
e a superfície do magnésio.
17
....................................................................................................13
Figura 6: Estrutura molecular (a) EDTPO (ácido etilenodiamino tetrametilenofosfônico) e (b)
ATMP (ácido aminotrimetilenofosfònico)...............................................................................14
Figura 7: Digramas de Bode (a) e de Nyquist (b) para a liga AA1100 após () 1h, () 24h,
() 48h, () 7 dias, () 15 dias, () 50 dias de imersão em NaCl 0,05 molL
-1
....................18
Figura 8: Circuito elétrico equivalente usado para o ajuste dos dados de EIE da liga nua
AA1100 após 24h de imersão em NaCl 0,05molL
-1
.................................................................20
Figura 9: Diagramas de (a) Bode e (b) Nyquist para o branco após () 1h, () 24h, () 48h,
() 7 dias, () 15 dias, () 30 dias, () 50 dias de imersão em NaCl 0,05 mol L
-1
(c)
diagrama de Nyquist para os tempos de () 1h, () 24h, () 48h de
imersão......................................................................................................................................23
Figura 10: Diagramas de Bode da liga AA1100 com os revestimentos de TEOS com
incorporação de () 5,00x10
-5
molL
-1
de ATMP, () 5,00x10
-4
molL
-1
de ATMP, () 5,00x10
-
3
molL
-1
de ATMP para 1h (a), 24h (b), 48h (c), 7 dias (d), 15 dias(e) e 30dias(f) imersos em
0,05molL
-1
NaCl........................................................................................................................26
Figura 11: Circuito elétrico equivalente usado para o ajuste dos dados de EIE da liga
AA1100 com os revestimentos TEOS/5,00x10
-5
ATMP e TEOS/5,00x10
-4
ATMP após 24h de
imersão em NaCl 0,05molL
-1
....................................................................................................28
Figura 12: Diagramas de Bode para a liga AA1100 com os revestimentos de TEOS com
incorporação de () 3,75x10
-5
molL
-1
de EDTPO, () 3,75x10
-4
molL
-1
de EDTPO após 1h
IX
(a), 24h (b), 48h (c), 7 dias (d), 30 dias(e) e 50dias(f) de imersão em 0,05molL
-1
NaCl..........................................................................................................................................31
Figura 13: Circuito elétrico equivalente usado para o ajuste dos dados de EIE da liga
AA1100 com os revestimentos TEOS/3,75x10
-5
EDTPO e TEOS/3,75x10
-4
após 24h de
imersão em NaCl 0,05molL
-1
....................................................................................................32
Figura 14: Curva de polarização catódica (a) e anódica (b) para a liga AA1100 com os
revestimentos: branco (--); TEOS/5,00x10
-5
ATMP (--); TEOS/5,00x10
-4
ATMP (--);
TEOS/5,00x10
-3
ATMP (--); TEOS/3,75x10
-5
EDTPO (--) e TEOS/3,75x10
-4
EDTPO (--),
imersos por 24h em 0,05molL
-1
NaCl......................................................................................34
Figura 15: Microscopia de força atômica da liga nua (a) e do revestimento TEOS/5,00x10
-4
ATMP (b) antes da imersão na solução de cloreto...................................................................35
Figura 16: Microscopia eletrônica de varredura da liga AA1100 com os revestimentos (a)
branco e (b) TEOS/5,00x10
-4
ATMP antes da imersão na solução de cloreto..........................35
Figura 17: Microscopia eletrônica de varredura de uma área típica da superfície da liga
AA2024-T3mostrando a distribuição e o tipo de partículas. As partículas com formato
arredondado (round particles) referem a Al-Cu-Mg e as com formato irregular (Irregularly
shapes particles) a Al-Cu-Fe-Mn.
(66)
........................................................................................39
Figura 18: Comparação da mesma área da superfície (a) antes e (b) após imersão em NaCl
0,5 mol L
-1
por 24h.
(66)
..............................................................................................................40
Figura 19: Curva de polarização da área contendo o intermetálico AlCuMg (curva pontilhada
AlCuMg inclusion), AlCuFeMn (curva escura - AlCuFeMn inclusion) e de uma área sem
nenhum intermetálico na superfície da liga em NaCl 1 molL
-1
a 1 mVs
-
1(67)
............................................................................................................................................40
Figura 20: Esquema do mecanismo de redistribuição de cobre por dissolução dos
intermetálicos Al
2
CuMg na liga AA2024-T3.
(71)
.....................................................................41
Figura 21: Diagramas de Bode e Nyquist para a liga AA2024-T3 após () 1h, () 24h, ()
48h, () 72h, () 7 dias, () 15 dias, () 30 dias e () 50 dias de imersão em NaCl 0,05
molL
-1
........................................................................................................................................49
Figura 22: Circuito elétrico equivalente utilizado para simular os dados experimentais da liga
AA2024 após 1h de imersão em 0,05 molL
-1
NaCl.................................................................50
Figura 23: Circuito elétrico equivalente utilizado para simular os dados experimentais da liga
AA2024 após 24h de imersão em 0,05 molL
-1
NaCl...............................................................50
X
Figura 24: Microscopia eletrônica de varredura e espectroscopia de energia dispersiva da liga
AA2024 antes da imersão em solução de NaCl........................................................................52
Figura 25: Microscopia eletrônica de varredura e espectroscopia de energia dispersiva da liga
AA2024 após 48h de imersão em NaCl 0,05molL
-1
.................................................................52
Figura 26: Diagramas de Bode para a liga AA2024-T3 com os filmes aacTN4(),
aacnTN4(), nTN4() após 1h (a), 24h (b), 48h (c), 72h (d), 7 dias(e) e 15 dias (f) de
imersão em NaCl 0,05molL
-1
....................................................................................................54
Figura 27: Diagramas de Bode para a liga AA2024-T3 com os filmes aacTN4(),
aacnTN4(), nTN4() após 30dias(a) e 50dias(b) de imersão em NaCl 0,05molL
-1
.............55
Figura 28: Diagramas de Bode e de Nyquist para a liga AA2024-T3 com revestimentos
MPTN4(), aacTN4(), aacnTN4(), nTN4() após 1h, 48h e 15 dias de imersão em NaCl
0,05molL
-1
.................................................................................................................................58
Figura 29: Circuito elétrico equivalente usado para analisar os dados experimentais das
amostras aacTN4, nTN4 e aacnTN4 a partir de 24h de imersão..............................................59
Figura 30: Evolução das capacitâncias e das resistências da alta e da baixa frequencia para o
filmes aacTN4() aacnTN4 () e nTN4 () com tempo de imersão em NaCl 0,05mol.L
-1
...62
Figura 31: Evolução das resistências da alta e baixa frequência para o filmes aacnTN4 () e
nTN4 () com tempo de imersão em NaCl 0,05mol.L
-1
.........................................................62
Figura 32: Cronoamperiometria aplicando o potencial anódico -0,3V(ECS) para a liga
AA2024-T3 e com os filmes aacTN4, aacnTN4 e nTN4 após 24h de imersão em 0,05molL
-1
NaCl..........................................................................................................................................65
Figura 33: Microscopia eletrônica de varredura para a liga AA2024 com o filme aacTN4
antes da imersão........................................................................................................................66
Figura 34: Microscopia eletrônica de varredura para a liga AA2024 com o filmes nTN4 (a)
aacnTN4 (b) antes da imersão...................................................................................................67
Figura 35: Microscopia de varredura para a liga AA2024 com o filme aacTN4(a) aacnTN4
(b) e nTN4 (c) após 48h de imersão em 0,05mol.L
-1
NaCl.......................................................68
Figura 36: Diagramas de Bode para a liga AA2024 com os filmes aacTN5 (), aacTN4 () e
aacTN3() após 1h (a) e 24h (b) de imersão em 0,05molL
-1
NaCl..........................................................................................................................................70
XI
Figura 37: Diagramas de Bode para a liga AA2024 com os filmes aacTN5 (), aacTN4 () e
aacTN3 após () 48h (a), 72h (b), 7 dias (c), 15 dias (d) e 30dias (e) de imersão em
0,05molL
-1
NaCl........................................................................................................................71
Figura 38: Evolução das capacitâncias e das resistências da baixa e da alta frequencia para os
filmes aacTN5() aacTN4 () e aacTN3 () com tempo de imersão em NaCl 0,05 mol L
-
1
.................................................................................................................................................74
Figura 39: Cronoamperiometria aplicando o potencial anódico -0,3V para a liga AA2024-T3
e com os filmes aacTN5, aacTN4 e aacTN3 após 24h de imersão em 0,05molL
-1
NaCl..........................................................................................................................................76
Figura 40: Microscopia eletrônica de varredura para a liga AA2024 com o filmes aacTN3 (a)
aacTN5 (b) antes da imersão.....................................................................................................77
Figura 41: Microscopia eletrônica de varredura para a liga AA2024 com o filmes aacTN3 (a)
aacTN5 (b) após 48h de imersão em NaCl 0,05mol L
-1
...........................................................77
Figura 42: Espectros de EDS para a liga AA2024 com o filmes aacTN3 (a) e aacTN5 (b)
após 48h de imersão em NaCl 0,05mol L
-1
...............................................................................78
Figura 43: Espectros de EDS para a liga AA2024 com o filme aacTN5 após 48h de imersão
em NaCl 0,05mol L
-1
................................................................................................................78
Figura 44: Diagramas de Bode para a liga AA2024-T3 com os filmes aacTE4(), aacTE5()
após 1h (a) e 24h (b) de imersão em NaCl 0,05 mol L
-1
...........................................................80
Figura 45: Diagramas de Bode para os revestimentos aacTE4 () e aacTE5 () após 48h (a),
72h (b), 7 dias(c) e 15 dias (d) 30dias (e) e 50dias (f) de imersão em NaCl 0,05
mol L
-1
.......................................................................................................................................81
Figura 46: Evolução das capacitâncias e das resistências da alta e da baixa frequencia para a
liga com os filmes aacTE4() e aacTE5 () com tempo de imersão em NaCl 0,05 mol.L
-
1
.................................................................................................................................................84
Figura 47: Cronoamperiometria aplicando o potencial anódico -0,3V para a liga AA2024-T3
e com os filmes aacTE4 e aacTE5 após 24h de imersão em 0,05molL
-1
NaCl.........................................................................................................................................86
Figura 48: Microscopia eletrônica de varredura para a liga com o filmes aacTE4 (a) aacTE5
(b) antes da imersão................................................................................................................86
Figura 49: Microscopia eletrônica de varredura para a liga com o filmes aacTE4 (a) aacTE5
(b) após 48h de imersão em NaCl 0,05mol L
-1
.........................................................................87
XII
Figura 50: Espectros de EDS para a liga com o filmes aacTE4 (a) aacTE5 (b) após 48h de
imersão em NaCl 0,05mol L
-1
...................................................................................................88
Figura 51: Evolução da resistência medida a 10 mHz (R
10mHz
) para os filmes obtidos a partir
do banho TEOS/3,75x10
-4
EDTPO após 6h (), 24h(), 48h() e 72h() de
hidrólise.....................................................................................................................................89
Figura 52: Espectros no IV do banho TEOS/3,75x10
-4
EDTPO após 6h e 48h de
hidrólise.....................................................................................................................................90
Figura 53: Diagramas de Bode (a) e de Nyquist (b e c) para a liga nua AA2024 e com os
revestimentos aacTE4, aacEDTPO curado, aacEDTPO sem cura e aacbranco após 1h de
imersão em 0,05molL
-1
NaCl....................................................................................................93
Figura 54: Diagramas de Bode para a liga AA2024-T3 com o filmes aacTE4ns ((a) curva do
ângulo de fase (θ) e (b) curva de log Zem função de log f) após ()1h, ()24h,()48h,
()72h, ()7dias e (+)15dias de imersão em NaCl 0,05mol.L
-1
..............................................94
Figura 55: Diagramas de Bode ((a) curva do ângulo de fase (θ) e (b) curva de log Z em
função de log f) para a liga AA2024-T3 com os revestimentos aacTE4 e aacTE4ns após 1h,
24h e 48h após imersão em NaCl 0,05mol.L
-1
.........................................................................95
Figura 56: Diagramas de Bode ((a) curva do ângulo de fase (θ) e (b) curva de log Z em
função de log f) para a liga AA2024-T3 com os revestimentos aacTE4 e aacTE4ns após 72h,
7 dias e 15 dias após imersão em NaCl 0,05mol.L
-1
.................................................................95
XIII
LISTA DE TABELAS
Tabela 1: Composição da liga AA1100
(% em massa)
57
..............................................................14
Tabela 2: Composição dos banhos de silano utilizados...........................................................15
Tabela 3: pH dos banhos de silano após 1e 72 horas de hidrólise...........................................16
Tabela 4: Dados do circuito equivalente para a liga AA1100 após 24h de imersão em NaCl
0,05molL
-1
................................................................................................................................20
Tabela 5: Valores de resistência medida em 10 mHz (R
10mHz
) para a liga AA1100 com os
revestimentos TEOS/5,00x10
-5
ATMP e TEOS/5,00x10
-4
ATMP em longo do tempo de
imersão......................................................................................................................................27
Tabela 6: Dados do circuito equivalente para liga AA1100 com os revestimentos
TEOS/5,00x10
-5
ATMP e TEOS/5,00x10
-4
ATMP após 24 horas de imersão em NaCl
0,05molL
-1
.................................................................................................................................29
Tabela 7: Dados do circuito equivalente para a liga AA1100 com o revestimento
TEOS/5,00x10
-3
ATMP após 24 horas de imersão em NaCl 0,05molL
-1
...............................29
Tabela 8: Dados do circuito equivalente para a liga AA1100 com os revestimentos
TEOS/3,75x10
-5
EDTPO e TEOS/3,75x10
-4
EDTPO após 24 horas de imersão em NaCl
0,05molL
-1
.................................................................................................................................33
Tabela 9: Composição química das ligas de alumínio 2024-T3 (% em massa)
57
....................37
Tabela 10: Distribuição das partículas por tipo químico.
(65)
....................................................38
Tabela 11: Dados do circuito equivalente para a liga AA2024 após 1h de imersão em NaCl
0,05molL
-1
.................................................................................................................................50
Tabela 12: Dados do circuito equivalente para a liga AA2024-T3 após 24h, 48h, 72h, 7dias,
15dias, 30dias e 50dias de imersão em NaCl 0,05molL
-1
.........................................................51
Tabela 13: Dados ajustados a partir do circuito equivalente (Figura 25) para as medidas de
EIE da liga AA2024 com o filme nTN4 após 24h de imersão em NaCl 0,05molL
-1
...............60
Tabela 14: Dados ajustados a partir do circuito equivalente (Figura 25) para as medidas de
EIE da liga AA2024 com o filme aacnTN4 após 24h de imersão em NaCl 0,05 mol L
-
1
.................................................................................................................................................60
XIV
Tabela 15: Dados ajustados a partir do circuito equivalente (Figura 25) para as medidas de
EIE da liga AA2024 com o filme aacTN4 após 24h de imersão em NaCl 0,05mol L
-
1
.................................................................................................................................................61
Tabela 16: Concentração superficial de elementos estimada por EDS em percentagem
mássica para a liga AA2024 com o revestimento aacTN4.......................................................68
Tabela 17: Concentração superficial de elementos estimada por EDS em percentagem
mássica para a liga AA2024 com o revestimento aacnTN4.....................................................68
Tabela 18: Concentração superficial de elementos estimada por EDS em percentagem
mássica para a liga AA2024 com o revestimento nTN4...........................................................69
Tabela 19: Dados ajustados a partir do circuito equivalente (Figura 25) para as medidas de
EIE da liga AA2024 com o filme aacTN3 após 24h de imersão em NaCl 0,05 molL
-
1
.................................................................................................................................................73
Tabela 20: Dados ajustados a partir do circuito equivalente (Figura 25) para as medidas de
EIE da liga AA2024 com o filme aacTN5 após 24h de imersão em NaCl 0,05 molL
-1
...........73
Tabela 21: Dados ajustados a partir do circuito equivalente R
1
(R
2
CPE
1
) para a medida de
impedância da liga AA2024 com os filme aacTE4 e aacTE5 após 1h de imersão em NaCl
0,05molL
-1
.................................................................................................................................83
Tabela 22: Dados ajustados a partir do circuito equivalente (Figura 25) para as medidas de
EIE da liga AA2024 com o filme aacTE4 após 48h de imersão em NaCl 0,05 molL
-
1
.................................................................................................................................................83
Tabela 23: Dados ajustados a partir do circuito equivalente (Figura 25) para as medidas de
EIE da liga AA2024 com o filme aacTE5 após 48h de imersão em NaCl 0,05 molL
-
1
.................................................................................................................................................83
Tabela 24: Atribuições das bandas de absorção características observadas no espectro IV do
banho TEOS/3,75x10
-4
EDTPO................................................................................................90
Tabela 25: Razão entre as alturas dos picos dos espectros de IV obtidos após 6h, 24h, 48h e
72h de hidrólise do banho TEOS/3,75x10
-4
EDTPO................................................................91
Tabela 26: Valores de resistência medida em 10mHz para a liga AA2024 com os
revestimentos aacTE4 e aacTE4ns............................................................................................96
XV
LISTA DE ABREVIATURAS
ATMP ácido aminotrimetilenofosfônico
APMS aminopropiltrimetoxisilano
BTESPT bis-[trietoxisililpropil]tetrasulfeto
BTSE bis-1,2-[trietoxisilil]etano
C capacitância
CPE elemento constante de fase
CPE
AF
capacitância da constante de tempo da alta freqüência
CPE
BF
capacitância da constante de tempo da baixa freqüência
ECS eletrodo de calomelano saturado
Ecorr Potencial de corrosão
EIE Espectroscopia de Impedância Eletroquímica
EDTPO ácido etilenodiamino tetrametilenofosfônico
EDS Espectroscopia de energia dispersiva
IV infravermelho
GPTMS glicidiloxipropiltrimetoxisilano
MEV Microscopia Eletrônica de Varredura
θ ângulo de fase
R resistência
XVI
R
10mHz
resistência medida em 10mHz
R
AF
resistência da constante de tempo da alta frequência
R
BF
resistência da constante de tempo da baixa frequência
τ constante de tempo
TEOS tetraetilortosilicato
VTES viniltrietoxisilano
VTMS viniltrimetoxisilano
Z
t
módulo da impedância total
XVII
RESUMO
O alumínio e suas ligas têm grande importância econômica, possuindo inúmeras
aplicações na construção civil, indústria automobilística e aeronáutica, devido às suas
excelentes propriedades, tais como baixa densidade, alta condutividade e resistência à
corrosão. Entretanto em presença de cloretos, ocorre a corrosão por pites. Com o objetivo de
prevenir a corrosão vários tratamentos de superfície têm sido desenvolvidos, entre os quais os
filmes de silano, considerados ambientalmente corretos. Os revestimentos de silano
apresentam-se como uma alternativa promissora para substituir o tratamento de cromatização,
apresentando propriedades de materiais orgânicos e cerâmicos. O objetivo deste trabalho foi
investigar o comportamento corrosivo das ligas AA1100 e AA2024 em NaCl 0,05molL-1,
revestidas com tetraetilortosilicato (TEOS)/ácidos fosfônicos. Os ácidos fosfônicos avaliados
foram ATMP (ácido aminotrimetilenofosfônico) e EDTPO (ácido etilenodiamino
tetrametilenofosfônico). A solução usada para a deposição consiste de 4% de TEOS
dissolvido em etanol, água na proporção volumétrica 90:6, respectivamente. Diferentes
concentrações de ácidos fosfônicos foram adicionadas ao banho de deposição. Verificou-se
que revestimentos TEOS com adição de 5,00x10
-4
mol L
-1
ATMP e TEOS com 3,75x10
-4
mol L
-1
EDTPO permitiram a formação de filmes com menor porosidade, com aumento da
resistência à corrosão da liga AA1100 para tempos prolongados de imersão.
Para a liga AA2024 vários pré-tratamentos foram testados antes da deposição dos
revestimentos. O pré-tratamento com ácido acético mostrou maior eficiência, atribuído à
dissolução dos intermetálicos presentes na liga. Revestimentos de TEOS com 3,75x10-4
molL-1 EDTPO apresentaram maior resistência de polarização. A incorporação de
nanopartículas de sílica foi avaliada, verificando-se um melhor desempenho anticorrosivo, o
qual foi relacionado ao efeito sinérgico entre o ácido fosfônico e a rede de sílica.
XVIII
ABSTRACT
Aluminum and aluminum alloys have been extensively used in many technological
applications, such as car manufacturing, building materials, and aircraft industry, due to their
excellent properties for instance, low density, high conductivity and corrosion resistance.
However, a pitting corrosion process takes place in the presence of aggressive ions like
chlorides. In order to prevent corrosion, many surface treatments have been developed, such
as silane films, which are environmentally compliant coatings. The silane coatings are a
promising alternative to replace the chromate surface treatment presenting properties of
organic and ceramic materials. The aim of this work is to investigate the corrosive behavior of
aluminum alloys AA110 and AA2024 in a NaCl 0, 05molL
-1
coated with tetraethoxysilano
(TEOS)/phosphonic acid. The phosphonic acid employed were the
aminotrimethylenephosphonic acid (ATMP) andethylenediaminetetramethylenephosponic
acid (EDTPO). The deposition solutions used here consist of 4 vol. % TEOS dissolved in
90:6 volume ratio ethanol and DI water mixed solvent. Different phosphonic acid
concentrations were added to the silane bath, being obtained that TEOS films with the
addition of 5,00x10
-4
mol.L
-1
ATMP and TEOS with 3,75x10
-4
mol.L
-1
EDTPO allow the
formation of coatings with lower porosity , improving the corrosion resistance of the
AA1100 alloy at prolonged immersion time.
For the AA2024 various pre-treatments were tested before the silane deposition. The
acetic acid pre-treatment showed the higher efficiency, which was related to the dissolution of
the intermetalics components of the alloy. The higher polarization resistance was obtained
with the films of TEOS with 3,75x10-4 mol.L-1 EDTPO . The incorporation of nanoparticles
of silica was tested and the corrosion behavior was improved, being related to a synergic
effect between the phosphonic acid and the silica network.
1
Introdução
O alumínio é o metal mais abundante e o terceiro elemento mais abundante em massa
(depois do oxigênio e do silício) da crosta terrestre. Tem grande importância econômica,
sendo produzido em grande escala.
O alumínio e suas ligas têm sido amplamente usados em muitos campos devido a suas
excelentes propriedades, tais como baixa densidade, alta condutividade e facilidade de
manuseio
1
. Possui inúmeras aplicações entre elas: construção civil (esquadrias, coberturas e
estruturas); indústria automobilística (furgões, carrocerias abertas, tanques rodoviários,
vagões ferroviários e carrocerias de ônibus) e na indústria aeronáutica.
De um modo geral, o óxido de alumínio é estável numa faixa de pH de 4,5 a 9,0
2
,
porém é danificado em meios agressivos, como os que contêm cloretos.
Entre as ligas de
alumínio, destaca-se a
liga AA2024 amplamente usada na indústria aeroespacial devido às suas
excelentes propriedades mecânicas. Entretanto, a presença de partículas intermetálicas
associadas ao Cu pode gerar na superfície da liga células galvânicas de ação local acentuando
a corrosão por pites e estimulando a taxa de dissolução da matriz de alumínio. Desta forma, a
liga AA2024 se constitui uma das ligas comerciais de Al mais propensas à corrosão
localizada, necessitando de pré-tratamentos anticorrosivos. Os pré-tratamentos superficiais
devem aumentar a resistência à corrosão e a adesão do tratamento de pintura posterior. O
substrato é, geralmente, submetido a um pré-tratamento que usa íons cromato. A
cromatização propicia proteção contra a corrosão e aumenta a adesão de revestimentos
orgânicos, porém este processo não é considerado ambientalmente correto, devido à alta
toxicidade do cromo hexavalente.
Para reduzir a aplicação de produtos baseados em Cr(VI), numerosos processos têm
sido investigados entre os quais os silanos apresentam-se como uma alternativa
promissora,
3,4,5,6,7,8,9,10,11,12,13,14,15,16,17,18,19,20,21,22
que tem chamado grande atenção das
indústrias nos últimos anos.
23
Os filmes de silano possuem uma combinação favorável de
propriedades vantajosas incluindo baixo custo, dependendo do silano utilizado, boa proteção à
corrosão e propriedades de adesão para revestimentos orgânicos como epóxi, poliuretano,
poliésteres, e acrílicos
3
.
2
O trabalho desenvolvido nessa dissertação consistiu no estudo do comportamento
eletroquímico de duas ligas de alumínio (AA1100 e AA2024-T3) após a deposição de filmes
TEOS/ácidos fosfônicos, bem como a caracterização dos filmes testados.
O capítulo I apresenta a caracterização eletroquímica de filmes de TEOS dopados ou
não com os ácidos fosfônicos: ATMP e EDTPO, sobre a liga de alumínio AA1100. A
concentração dos ácidos fosfônicos foi investigada.
O capítulo II primeiramente foi investigado o tratamento da superfície da liga anterior
a camada de TEOS/ácido fosfônico. Após realizou-se o estudo, como no Capítulo I para a
AA1100, da concentração e da natureza dos compostos fosfônicos. Para avaliar o desempenho
destes filmes na proteção à corrosão da liga AA2024-T3 foi utilizado microscopia eletrônica
de varredura, espectroscopia de impedância eletroquimica (EIE) e simulação de circuito
equivalente (CE). A influência de variáveis como tempo de hidrólise e incorporação de
nanopartículas de sílica foi avaliada.
O propósito geral deste trabalho é avaliar o comportamento de filmes TEOS
(tetraetilortosilicato) com incorporação dos ácidos fosfônicos ATMP (ácido
aminotrimetilenofosfônico) e EDTPO (ácido etilenodiamino tetrametilenofosfônico) na
proteção à corrosão das ligas AA1100 e AA2024-T3 em NaCl 0,05molL
-1
.
Como objetivos específicos foi estudado a influência:
- da concentração e da natureza dos ácidos fosfônicos para a liga AA1100 e AA2024,
- do pré-tratamento na deposição de filmes TEOS/ácido fosfônico para a liga AA2024,
- do tempo de hidrólise para a liga AA2024 e
- da incorporação de nanopartículas de sílica ao revestimento TEOS/EDTPO para a
liga AA2024.
A caracterização foi realizada através de ensaios eletroquímicos e técnicas de análise
de superfície.
3
CAPÍTULO I Estudo de revestimentos TEOS/ácido fosfônicos para a proteção contra
corrosão da liga AA1100
I.1 Revisão bibliográfica
I.1.1 Revestimentos de silano
Revestimentos derivados de sol-gel têm aplicações em diversas áreas, como
microeletrônica e apresentam resistência à abrasão da superfície em vários substratos
4
.
Polisiloxanos funcionalizados com agentes quelantes são utilizados na extração e separação
ou isolamento de metais pesados em processo em batelada ou em colunas cromatográficas e
como suporte para uma grande variedade de reações
24
.
Nos últimos anos os revestimentos derivados de sol-gel passaram a ser estudados na
área de eletroquímica como uma alternativa ambientalmente correta para a substituição do
processo de cromatização, chamando a atenção de muitas indústrias
26
. Tais revestimentos
foram testados para vários metais como alumínio e ligas
5-11,25
, ferro e aço
12-15
e magnésio
16-18
.
Ligas de alumínio e aços são os materiais mais investigados.
Os silanos funcionalizados são moléculas híbridas que apresentam fórmula geral,
X
3
Si(CH
2
)Y, onde X representam grupos alcóxi hidrolisáveis e Y grupo organo-funcional,
como amino, vinil e mercapto
7
. Neste caso, o grupamento orgânico promove a adesão com a
tinta
5
. Quando a ligação Si-C não está presente e existe ligação Si-O a denominação é
alcóxido de silício, como TEOS (tetraetilortosiliato).
A formação de um filme de silano envolve etapas como a hidrólise e a
condensação/polimerização. A hidrólise é o primeiro passo, trata-se da formação de grupos
silanóis (Si-OH) em uma mistura de água/etanol
17
(metanol)
6-8,16
, de acordo com a reação 1:
Si-X + H
2
O SiOH + H-X (Reação 1)
Após a hidrólise o metal a ser revestido é colocado em um banho de silano e os grupos
silanóis estabelecem ligações de hidrogênio com os hidróxidos da superfície metálica
7
,
conforme a Figura 1(a). O próximo passo é o processo de cura, onde a formação de
ligações metalo-siloxano (equação 2), com a liberação de água (Figura 1(b)) resultando no
4
recobrimento do substrato metálico. Os grupos silanóis que não se ligam com o substrato são
capazes de formar ligações entre si (equação 3), chamadas de ligações siloxano. A formação
destas ligações constitui o processo de condensação e ocorre durante a hidrólise e o processo
de cura.
Me-OH + HO-Si Me-OSi + H
2
O (Reação 2)
SiOH + SiOH Si-O-Si + H
2
O (Reação 3)
Figura 1: Esquema da deposição de silano na superfície metálica
7
.
Conforme apresentado a deposição de silanos não requer a participação eletroquímica
do metal como ocorre nas camadas de conversão
5
.
Os silanos podem ser classificados de acordo com a sua natureza em dois tipos mono e
bissilanos. Os monosilanos de rmula geral, X
3
Si(CH
2
)Y
possuem três grupos
hidrolisáveis(X), ao passo que os bissilanos possuem seis grupos hidrolisáveis, possuindo a
estrutura geral X
3
Si(CH
2
)
n
Y
m
(CH
2
)
n
SiX
3
. Exemplos são bis-[trietoxisililpropil]tetrasulfeto
(BTESPT)
8
, onde Y é a cadeia de enxofre e bis-[3-(trimetoxisililpropil)amino (bis-amino)
26
,
onde Y é o grupo amino. No bissilano bis-1,2-[trietoxisilil]etano (BTSE, (C
2
H
5
O)
3
Si-
(CH
2
)
2
Si(C
2
H
5
O)
3
)
7
, o grupo Y não está presente, sendo considerado um bissilano não
funcionalizado. As moléculas de bissilano são capazes de reagir com o substrato metálico
formando uma interface com alta densidade de MeOSi e ao mesmo tempo formar um filme de
silano com maior grau de reticulação que possibilita melhores propriedades hidrofóbicas e
apreciável espessura.
27
Bissilanos formam filmes mais organizados que os monosilanos, de
acordo com o modelo abaixo (Figura 2) proposto por Zhu e van Ooij
27
. Estas características,
em geral, propiciam aos bissilanos melhor proteção contra a corrosão que os monosilanos.
5
Figura 2: Esquema do filme formado por (a) bissilanos e (b) monosilanos proposto por Zhu e
van Ooij.
27
A ação na proteção à corrosão dos revestimentos à base de silano ocorre através da
formação de um filme barreira
5
. Entretanto, estes revestimentos contêm poros, defeitos e áreas
com menor reticulação, que favorecem a entrada de espécies agressivas, tornando-se sítios
preferenciais de iniciação da corrosão
10,11
. A figura 3 ilustra a penetração de água, de oxigênio
e íons cloreto através dos defeitos do revestimento BTSE imerso em uma solução de cloreto.
Obviamente os defeitos que permitem a entrada de eletrólito são mais pronunciados em rede
de monosilanos.
6
Figura 3: Representação da permeabilidade do revestimento BTSE sobre alumínio quando
imerso em solução de cloreto.
28
I.1.1.1 Parâmetros que influenciam a deposição de silano
I.1.1.1.1 Composição do banho
O desempenho dos revestimentos depende da composição do banho: da proporção
entre os componentes do banho, do pH e do silano utilizado. Em muitos trabalhos foi utilizada
a concentração volumétrica de 90% álcool (etílico ou metílico), 5,5-6 % água, 4-4,5%
silano
7,8
. Para tornar viável industrialmente o processo, recentes trabalhos proposuseram a
diminuição da quantidade de etanol, devido a sua alta inflamabilidade e os resultados obtidos
foram satisfatórios.
29
Silanos totalmente solúveis em água como viniltriacetoxisilano e bis-[3-
(trimetoxisililpropil)amino foram estudados por Zhu e van Ooij.
30
Filmes com 2% destes
silanos tiveram bom desempenho na adesão de tintas tanto em ligas de alumínio quanto no
aço galvanizado. Porém, por apresentarem caráter hidrofílico, absorvem mais água, não sendo
tão eficientes como silanos hidrofóbicos, que necessitam da mistura água/álcool para
hidrolisar.
7
I.1.1.1.2 Tempo de hidrólise
Poucos estudos reportam a influência deste parâmetro; enquanto que em uma série de
trabalhos o sol permaneceu dias em repouso
7,8,26
antes da aplicação sobre a superfície
metálica, outros trabalhos reportam a aplicação do sol-gel após poucos minutos de sua
preparação. Não existe um tempo de hidrólise universal, variando conforme o silano e a
composição do sol-gel.
Os resultados do trabalho de Li e colaboradores
31
indicam que o tempo de hidrólise
tem maior efeito nas propriedades dos filmes GPTMS (glicidiloxipropiltrimetoxisilano) sobre
aço que a concentração de silano. Entretanto, a concentração de silano é também relevante,
visto que a razão entre Si/Fe determinada por XPS é maior com aumento da concentração de
silano no banho. Segundo os autores isso ocorre, porque mais grupos silanóis propiciando
a formação de um filme mais uniforme.
I.1.1.1.3 Pré-tratamento
Este parâmetro é pouco investigado na literatura. De maneira geral, os pré-tratamentos
baseiam-se na imersão em soluções alcalinas comerciais.
7,8,26,32
Frignani e colaboradores
6
verificaram que em ausência do pré-tratamento da liga de
alumínio AA7075 por 30s em 0,1mol.L
-1
NaOH antes da deposição de filmes de n-Octadecil
–trimetoxi-silano as reações anódicas na superfície da liga previamente lixada e
desengordurada não foram reduzidas, o inverso foi constatado com o pré-tratamento alcalino.
Os autores concluíram que a formação de ligações de hidrogênio entre os grupos silanóis e a
superfície metálica não pode ocorrer quando há carência de uma superfície hidroxilada.
.
I.1.1.1.4 Tempo e temperatura de cura
Estudos utilizando a técnica de IR de refletância revelam que com o aumento da
temperatura e do tempo de cura os espectros dos filmes de GPTMS sob aço apresentam uma
diminuição da banda devido ao estiramento Si-OH e um aumento da banda devido Si-O-Si,
ou seja, um aumento do grau de reticulação da rede de silano
3
. Conforme reportado por Li e
8
colaboradores
31
com o aumento da temperatura a água evapora mais rapidamente do filme e
as reações entre os grupos silanóis para formar as ligações siloxano e metalosiloxano são
facilitadas.
Entretanto a temperatura de cura muito elevada pode degradar o silano e as
propriedades adquiridas com pré-tratamento térmico da liga. O tempo de cura encontrado na
literatura varia de minutos até 24h. Os próprios autores consideram que 24h é um tempo
industrialmente inviável.
26
I.1.1.2 Revestimentos de silanos depositados em ligas da série 1000 e liga AA1100
A resistência à corrosão do alumínio é atribuída à formação de uma película de óxido
passivo, que é naturalmente desenvolvido na superfície sob condições atmosféricas normais.
O óxido de alumínio formado não é uniforme e espesso. Em condições normais oferece certo
grau de proteção. Quando exposto em ambientes contendo cloreto, o óxido rompe em pontos
específicos levando a formação de pites na superfície do alumínio.
33
As ligas de alumínio da série 1000, denominadas liga alumínio puro, são as mais
resistentes corrosão.
33
A liga AA1100, embora pertença à série 1000, possui uma alta taxa de
corrosão devido à presença de intermetálicos. Destacam-se o Al
6
Fe, Al
3
Fe e Al
12
Fe
3
Si
2
, de
atividade catódica em relação à matriz alumínio. Quando a liga é exposta a ambientes
agressivos, como por exemplo, água do mar, células galvânicas criadas por essas partículas
intermetálicas tendem a promover a iniciação e progresso dos pites mais rapidamente na
matriz Al ao redor delas
34
.
O intermetálico Al
3
Fe sendo catódico em relação à matriz, fornece sítios para a
redução do oxigênio durante o processo de corrosão. As reações catódicas geram íons
hidróxido resultando em alto pH em torno destes intermetálicos.
34
Nisangioglu
35
encontrou
que em alto pH ocorre dissolução do Al da superfície da partícula Al
3
Fe, resultando no
enriquecimento em Fe desta partícula. Conforme o pesquisador, este ferro pode formar uma
camada de Fe
3
O
4
sobre a superfície da partícula. A formação do óxido de ferro inibe a
dissolução do alumínio.
A literatura reporta alguns trabalhos com a liga AA1050 revestida com silano,
5,36,37,38
mas não foi encontrado nenhum estudo para a liga AA1100. Os dois primeiros
5,36
avaliam a
influência da temperatura de cura de filme de BTSE. Zand e colaboradores
37
reportaram que
em pH 5,0, abaixo do ponto isoelétrico da alumina (8,4), onde a superfície esta carregada
9
positivamente, as moléculas de VTMS (viniltrimetoxisilano) que se encontram na forma
δ+
CH2 =CH-SiOH têm maior chance de se orientar para reagir com o hidróxido de alumínio,
o filme formado nesta condição apresentou excelente performance na proteção à corrosão
avaliada com EIE. Os filmes obtidos em pH 9, maior que o ponto isoelétrico da alumina, não
apresentaram bons resultados eletroquímicos, porque neste pH a superfície de alumina está
carregada negativamente e as moléculas de VTMS estão com carga residual negativa,
dificultando a reação com óxido de alumínio. Os filmes de VTMS e APMS
(aminopropiltrimetoxisilano) obtidos por Mohseni e colaboradores
38
em pH abaixo do ponto
isoelétrico da alumina tiveram melhor adesão frente ao obtidos em pH superior ao ponto
isoelétrico da alumina.
I.1.1.3 Revestimentos a base de TEOS
O TEOS é geralmente usado em misturas com outros silanos funcionalizados.
39,40
Conde e colaboradores
41
aplicaram sobre AA 3005 e 5555 GPTMS com a adição da mistura
TEOS/MTES e de partículas de Aerosil. A adição de Aerosil contribuiu para o aumento da
impedância na baixa freqüência, visto que diminui a porosidade do revestimento. Nesta
condição o processo de corrosão foi controlado pela transferência de carga. Já para os filmes
sem Aerosil o processo de corrosão foi controlado pela difusão, pois estes são mais porosos e,
consequentemente, há mais áreas descobertas.
O agente de crosslinking PDMS 10%wt foi adicionado a sóis GPTMS/TEOS em
diversas razões molares e depositado em AA2024-T3 e AA6061-T6
42
. O revestimento com
melhor resistência a corrosão foi o produzido com o sol na razão molar de 4GPTMS para
1TEOS, os autores concluíram que a estrutura nesta condição encontra-se mais reticulada.
Geralmente, razões TEOS/GPTMS baixas fornecem melhores veis de proteção que altas
razões, pois em excesso de TEOS o revestimento formado é extremamente hidrofílico.
Hu e colaboradores
43
avaliaram dois sistemas precursores de sílica: TEOS e
TEOS/VTES(trietoxivinilsilano) sobre a liga de magnésio AZ91D. Nas imagens de MEV para
os revestimentos obtidos apenas com TEOS observaram algumas partículas brancas sobre o
revestimento devido a aglomeração de SiO
2
durante o processo de aquecimento (350°C por
2h) e zonas craqueadas resultantes destas aglomerações. Desta forma, nos testes
eletroquímicos a capacidade anticorrosiva foi baixa. Os revestimentos TEOS/VTES
submetidos ao mesmo processo de aquecimento mostraram uma estrutura mais compacta nas
10
imagens de MEV e boas propriedades barreira para a proteção à corrosão da liga. Após 20
minutos de imersão a resistência de polarização para este revestimento é 25kOhm.cm
2
, 50
vezes maior que do substrato.
Revestimentos de TEOS sobre a matriz de alumínio reforçada com SiC foram
avaliados por López et.al.
44
. No estudo, duas velocidades de extração por dip-coating foram
testadas, 10cm/min e 35cm/min e os filmes foram depositados em mono e dupla camada. A
velocidade de extração mostrou maior influencia que o número de camadas depositadas. Os
filmes produzidos com a velocidade de extração igual a 10cm/min apresentaram melhor
desempenho contra a corrosão. Para os pesquisadores a baixa velocidade permite a formação
de um filme mais uniforme e reticulado.
I.1.2 Ácidos fosfônicos
Os ácidos fosfônicos são agentes quelantes muito eficientes usados em várias
aplicações, por exemplo, na indústria têxtil e de papel para complexar metais pesados em
soluções livres de cloreto em processos de lixiviação
45
. Na medicina, são usados para quelar
radionucleotídeos do tratamento de câncer. Uma grande vantagem destes compostos é sua
baixa toxicidade em organismos vivos
45
.
Os ácidos fosfônicos se adsorvem
fortemente em quase todas as superfícies minerais na
faixa de pH próxima à neutralidade.
42
Portanto, podem se adsorver sobre o metal ou sobre o
óxido metálico, constituindo uma barreira física que impede ou dificulta a ação de um meio
agressivo, como aquele contendo cloreto, que pode levar a um ataque localizado ou
generalizado. trabalhos que reportam o uso como inibidores da corrosão metálica, por
exemplo, do alumínio
46
e do aço
47
. Stefenel e colaboradores
46
constataram que a adsorção
sobre Al
2
O
3
de um ácido fosfônico em NaCl 0,5 mol.L
-1
em pH 6 evitou a adsorção de Cl
-
,
levando à formação de um complexo de Al(III) insolúvel e à diminuição significante da taxa
de dissolução de Al naquele meio agressivo. O mesmo efeito
48
é menor para o Zn e pode ser
explicado pelo princípio de ácidos e Bases Duros e Moles. Os ácidos fosfônicos atuam como
bases duras de Lewis e formam complexos mais estáveis com Al
3+
, que se comportam como
ácidos mais duros que Zn
2+
.
Foi reportado
49
que ATMP pode atuar como inibidor da corrosão do aço carbono em
solução de cloreto de sódio. Utilizando IR e XPS os pesquisadores atribuíram a ação inibidora
11
à formação de um complexo entre a molécula de ATMP e os íons Fe
2+
. Dois anos mais tarde
To e col.
50
investigaram tratamentos superficiais para o aço carbono em misturas etanol/água
com três ácidos fosfônicos: ácido laurilfosfônico (LPA), ácido etillaurilfosfônico (ELP) e
ácido dietillaurilfosfônico (DELP). Os testes eletroquímicos destes sistemas em NaCl
0,1mol.L
-1
revelaram que apenas o ELP propicia proteção à corrosão. A imersão por 24h em
solução 5% foi a condição otimizada para a formação de um filme protetor identificado como
um complexo Fe(ELP)
2
.
Hector e colaboradoeres
51
propuseram que os grupamentos fosfônicos PO(OH)
2,
ligam-se através de uma reação de condensação ácido-base com os grupos hidróxidos
presentes na superfície do alumínio, como mostrado na Figura 4. Laiti e colaboradores
52
investigaram as propriedades ácido-base da interface Al
2
O
3
/água e complexação do ácido
fenilfosfônico no intervalo de pH entre 5,0 e 9,5. Concluíram que o ácido fenilfosfônico
adsorve-se fortemente na supefície da alumina em pH menores que 7,0, enquanto completa
dessorção ácido fenilfosfônico foi detectada em pH 9.5.
Maege e colaboradores
53
investigaram ácidos alquil-fosfônicos, ácidos graxos,
alquilsilanos e alquilsiloxanos como inibidores de corrosão. Segundo este estudo dependendo
do pH e da solução estes compostos são capazes de reagir espontaneamente com a superfície
de óxido de alumínio. Os grupos fosfônicos tendem a se ligar com Al
2
O
3
por interações
eletrostáticas enquanto as cadeias orgânicas alinham-se perpendicularmente à superfície,
permitindo, assim, a ligação com revestimentos orgânicos posteriores, como as tintas. As
moléculas que possuem estas características são chamadas de auto-organizáveis (self-
assembled). De acordo com o teste de umidade, entre todas as moléculas estudadas, os ácidos
fosfônicos apresentaram a melhor proteção à corrosão. E foram estudados por Reis e
colaboradores
54
que submeteram a liga Al5052-H32 a dois pré-tratamentos: limpeza alcalina e
limpeza alcalina seguida por imersão em solução 320g.L
-1
HNO
3
e 20g.L
-1
HF antes da
imersão em solução 300mg.L
-1
de alcano fosfonato. Os resultados de MEV/EDS indicam que
com o pré-tratamento alcalino ocorre preferencial ataque da matriz próxima aos precipitados
ricos em Fe. para o pré-tratamento alcalino+ ácido dissolução dos intermetálicos ricos
em Fe e muitos pites. Os valores de impedância total são maiores para o revestimento SAM
com pré-tratamento alcalino+ ácido, isto foi atribuído à remoção dos precipitados e formação
de uma camada de óxido com melhores características devido à ação do HNO
3
, favorecendo a
adsorção de moléculas auto-organizáveis.
12
Kramov e colaboradores
17
reportaram que a liga de magnésio AZ31B com
revestimento hídrido orgânico-inorgânico funcionalizado com fosfonatos promovem um
aumento das propriedades de adesão de revestimentos orgânicos e apresenta resistência a
corrosão superior a liga nua após 30 minutos de imersão em solução Harrison (0,35%wt
(NH
4
)
2
SO
4
0,05%wt NaCl). Resultados semelhantes foram observados por Lamaka e
colaboradores
18
com um revestimento de silano funcionalizado com fosfonato após duas
semanas de imersão em 0,005 mol.L
-1
NaCl. Este comportamento é resultado da combinação
das propriedades barreira do silano com as fortes ligações Mg-O-P entre os fosfonatos e o
substrato metálico, conforme mostrado na Figura 5.
Figura 4: Esquema da interação do grupo fosfônico com a superfície do óxido de alumínio
51
.
Figura 5: Representação esquemática da ligação entre o silano funcionalizado com ácido
fosfônico e a superfície do magnésio
17
.
13
A ação dos ácidos fosfônicos na interface metal/tinta foi avaliada nos trabalhos de
Rider
55
e van Brand
56
. Rider
55
investigou o revestimento com fosfonatos e com GPS como
promotores de adesão entre a tinta epóxi e a liga AA2024. Seis fosfonatos foram investigados:
ATMP (ácido aminotrimetilenofosfônico) contendo três grupos fosfônicos, para os outros
cinco fosfonatos um grupo fosfônico foi substituído por: butil, hidroxipropil, hidroxipentil, 3-
etoxipropil e 3-butoxipropil. Corpos de prova de AA2024 foram imersos em solução 100ppm
fosfonato de pH 3,5 por 15min. Apenas os revestimentos com ATMP e ATMP modificado
com 3-etoxipropil e 3-butoxipropil melhoraram a durabilidade do substrato pintado. O pré-
tratamento com GPTMS mostrou-se mais eficaz que os demais; segundo os pesquisadores a
presença do anel epóxi na molécula de GPTMS auxilia na interação com a resina epóxi e as
moléculas de GPTMS formam ligações entre si, as ligaçãoes siloxano, o que não ocorre entre
as moléculas de fosfonatos. No trabalho de van Brand
56
a aplicação de uma fina camada em
torno de 4,6nm de ácido polivinilfosfônico, a partir de solução metanólica com 1% em massa
de fosfonato, na interface epóxi-alumínio (AA1050) não apresentou boas propriedades de
adesão. A partir dos resultados de IR foi possível verificar que mesmo após o processo de
cura as interações na interface epóxi/polímero não são significativas, e com isso o processo de
corrosão não é retardado.
14
I.2 Procedimento experimental
I.2.1 Materiais
A liga comercial AA1100, cuja composição nominal encontra-se na Tabela 1, foi
utilizada. Os reagentes: etanol P.A.(Nuclear), tetraetilortosilicato - TEOS (Merck) e ácidos
fosfônicos (Fluka) foram utilizados como recebidos. A estrutura molecular do ácido 1,2-
diaminoetanotetrametilenofosfônico (EDTPO) e ácido aminotrimetileno fosfônico (ATMP) é
mostrada na Figura 6.
Tabela 1: Composição da liga de alumínio AA1100 (% em massa)
57
Al Si Cu Mn Zn C
99,0 1,00 + Fe 0,05-0,2 0,05 0,1 0,05
(a) (b)
Figura 6: Estrutura molecular (a) EDTPO (ácido etilenodiamino tetrametilenofosfônico) e (b)
ATMP (ácido aminotrimetilenofosfònico)
I.2.2 Preparação dos banhos
Os banhos foram preparados pela mistura de TEOS, etanol e solução aquosa contendo
ATMP ou EDTPO, de acordo com a Tabela 2, com agitação mecânica durante 1h, seguida de
71h em repouso.
15
Tabela 2: Composição dos banhos utilizados.
Branco 90% etanol, 4% de TEOS e 6% de água deionizada
TEOS/5,00x10
-5
ATMP 90% etanol, 4% de TEOS e 6% solução aquosa contendo
fosfônico de modo que a concentração no banho fosse 5,00x10
-5
molL
-1
de ATMP
TEOS/5,00x10
-4
ATMP 90% etanol, 4% de TEOS e 6% solução aquosa contendo
fosfônico de modo que a concentração no banho fosse 5,00x10
-4
molL
-1
de ATMP
TEOS/5,00x10
-3
ATMP 90% etanol, 4% de TEOS e 6% solução aquosa contendo
fosfônico de modo que a concentração no banho fosse 5,00x10
-3
molL
-1
de ATMP
TEOS/3,75x10
-5
EDTPO 90% etanol, 4% de TEOS e 6% solução aquosa contendo
fosfônico de modo que a concentração no banho fosse 3,75x10
-5
molL
-1
de EDTPO
TEOS/3,75x10
-4
EDTPO 90% etanol, 4% de TEOS e 6% solução aquosa contendo
fosfônico de modo que a concentração no banho fosse 3,75x10
-4
molL
-1
de EDTPO
O pH dos banhos foi medido utilizando um eletrodo de vidro próprio para solução
alcóolica, acoplado ao pHmetro calibrado com soluções tampão aquosas padrão (Merck), com
pH 7,01 e 4,01 a 20°C. A medida foi feita com agitação magnética.
16
Tabela 3: pH dos banhos de silano após 1e 72 horas de hidrólise.
pH após 1 hora de hidrólise pH após 72h de hidrólise
Branco 6,71 6,65
TEOS/5,00x10
-5
ATMP 3,03 3,06
TEOS/5,00x10
-4
ATMP 2,22 1,50
TEOS/5,00x10
-3
ATMP 0,68 1,21
TEOS/3,75x10
-5
EDTPO 3,41 3,83
TEOS/3,75x10
-4
EDTPO 2,15 2,27
I.2.3 Processo de revestimento
Os corpos de prova da liga AA1100 foram polidos com lixas de carbeto de silício de
granulometria 280, 600 e 1200. Em seguida, foram lavados com água destilada, secos com ar
quente e transferidos para o banho de silano, cuja composição é dada na Tabela 2, onde
permaneceram por 30 minutos. Após foram submetidos ao processo de cura por 1h em
temperatura 90-100ºC.
I.2.4 Caracterização dos revestimentos
I.2.4.1Técnicas eletroquímicas
Os experimentos eletroquímicos foram executados na presença de oxigênio
dissolvido e à temperatura ambiente em solução aquosa 0,05 molL
-1
NaCl. No mínimo, os
ensaios foram realizados em triplicata. Corpos de prova da liga AA1100 de 1 cm
2
, rede de
platina e eletrodo de calomelano saturado foram empregados, como eletrodo de trabalho,
eletrodo auxiliar e eletrodo de referência, respectivamente. As medidas eletroquímicas foram
realizadas no aparelho AUTOLAB PGSTAT 30/FRA 2. As curvas de polarização foram
17
executadas a 2 mV s
-1
. Os testes de EIE foram realizados no potencial de circuito aberto, na
faixa de frequência 100 kHz-10 mHz com amplitude de voltagem senoidal de 10 mV.
I.3.2.2 Técnicas de análise de superfície
A análise da superfície foi realizada através de Microscopia Eletrônica de Varredura
(MEV) e de Microscopia de Força atômica (AFM). O equipamento utilizado para o MEV foi
um JEOL-JSM 5800 Scanning Microscope, com tensão de aceleração de 20 kV. As amostras
foram analisadas por elétrons secundários, sem metalização. As imagens de AFM foram
obtidas utilizando um microscópio de força atômica Nanoscpoe IIIa
fabricado pela Digital
Instruments Co., operando em modo contato e utilizando ponteiras de nitreto de silício.
18
I.3 Resultados e discussões
I.3.1 Comportamento da liga AA1100 não revestida
Na Figura 7 tem-se o diagrama de Bode e o diagrama de Nyquist para a liga nua
imersa em NaCl 0,05 molL
-1
para 1h, 24h, 48h, 7dias, 15dias e 50dias.
-2 0 2 4
1.5
2.0
2.5
3.0
3.5
4.0
4.5
5.0
5.5
(a)
- ângulo de fase (
θ
)
log |Z| (Ohm cm
2
)
log f (Hz)
-20
-10
0
10
20
30
40
50
60
70
80
90
0 30000 60000 90000 120000
0
30000
60000
90000
120000
Z´´ (Ohm.cm
2
)
Z´ (Ohm.cm
2
)
Figura 7: Diagramas de Bode (a) e de Nyquist (b) para a liga AA1100 após () 1h, () 24h,
() 48h, () 7 dias, () 15 dias, () 50 dias de imersão em NaCl 0,05 mol L
-1
.
19
Após 1h o diagrama de Nyquist da liga nua apresenta dois arcos capacitivos o primeiro
com f
máx
igual a 28,13Hz e o segundo com f
máx
igual a 208,37mHz e a partir de 32,2 mHz
pontos indutivos. O aparecimento de pontos indutivos ocorre em 40,6 mHz para 24 h e em
20,15 mHz para 7 dias. O diagrama de Nyquist para 48 horas não apresenta pontos indutivos.
Com o aumento do tempo de imersão para 24h as constantes da alta e da média frequência
estão mais acopladas e a partir de 48h totalmente acopladas em uma ampla faixa de
frequência. A atribuição das constantes de tempo foi realizada segundo a literatura
58,59
onde a
interface metal/eletrólito foi descrita por duas constantes de tempo capacitivas sendo que o
produto RC da alta frequência relaciona-se com a presença de um filme de óxido de alumínio,
e o da média frequência com a presença de poros e/ou defeitos no filme e, comportamento
indutivo é atribuído ao estado ativo da superfície do alumínio danificada na presença de
cloretos. Conforme McCafferty
60
a dissolução localizada de alumínio ocorre devido à
adsorção de íons cloreto promovida por forças de atração. Entre estas, as forças coulômbicas
são as mais significativas, visto que o pH da solução de NaCl é menor do que o pH de carga
zero do alumínio (8,9-9,2), consequentemente a superfície do óxido encontra-se carregada
positivamente. Após a adsorção há a penetração destes íons através das vacâncias do óxido. A
propagação da corrosão por pites envolve a hidrólise dos íons alumínio, com conseqüente
diminuição de pH no pite levando a propagação dos mesmos. A partir de 15 dias o
comportamento verificado na região de alta e média frequência se repete, mas na baixa
frequência predomina comportamento difusional.
Pode-se postular que inicialmente, a dissolução do metal é controlada cineticamente
pela dissolução localizada do alumínio, com a relaxação atribuída a uma adsorção
específica
61
, no caso cloreto. Ao longo do tempo de imersão, os pites formados no início são
recobertos por produtos de corrosão, que são constatados visualmente. A modificação dos
diagramas de EIE na baixa frequência após 15 dias, onde os valores do ângulo de fase passam
de positivo para negativo, indica que o processo passa a ser limitado pelo transporte de massa
através dos pites e poros destes produtos de corrosão.
Com relação ao módulo da impedância total ele é praticamente igual em 1h e 24h de
imersão, cerca de 20 kOhm cm
2
. Em 48h é 71 kOhm cm
2
aumentando com o tempo de
imersão atingindo 188 kOhm cm
2
em 50 dias. Este resultado pode ser relacionado,
possivelmente, à precipitação de produtos de corrosão na superfície da liga. Em meio de
cloreto os produtos de corrosão são geralmente oxicloretos Al(OH)
2
Cl e Al(OH)Cl
2
.
62
20
Para 24 horas as constantes de tempo estão mais acopladas e utilizou-se para a
simulação dos dados experimentais o circuito em paralelo, apresentado na Figura 8. Na
Tabela 4 são apresentados os valores da simulação. R
1
corresponde à resistência da solução,
R
AF
e CPE
AF
à resistência e capacitância da alta freqüência, respectivamente, atribuídas à
camada de óxido de alumínio. A R
BF
e CPE
BF
representa a resistência e capacitância da baixa
frequência, respectivamente, relacionadas à presença de poros no óxido de alumínio, O
elemento constante de fase CPE foi usado para substituir a capacitância a fim de considerar a
não- homogeneidade da camada. A impedância da CPE depende da frequência de acordo com
a Equação 1, onde Z
CPE
é a impedância, Q é a pseudo-capacitância, ω a frequência angular e
n pode apresentar valores entre 0 e 1, n=0,5 difusão, n=0 resistor e n=1 capacitor.
59
1/Z
CPE
= Q(jω)
n
(Equação 1)
Figura 8: Circuito elétrico equivalente usado para o ajuste dos dados de EIE da liga nua
AA1100 após 24h de imersão em NaCl 0,05molL
-1
.
Tabela 4: Dados do circuito equivalente para a liga AA1100 após 24h de imersão em NaCl
0,05molL
-1
.
R
1
(.cm
2
)
R
AF
(k cm
2
)
CPE
AF
(µF cm
-2
)
n
AF
τ
AF
(s)
R
BF
(k cm
2
)
CPE
BF
(µF cm
-2
)
n
BF
τ
BF
(s)
97,9 10,54 27,82 0,78 0,29 5,92 68,31 0,99 0,40
Os valores mostrados na Tabela 4 foram obtidos mediante simulação apenas da porção
negativa da componente imaginária da impedância, sendo desconsiderado o comportamento
21
indutivo, devido a grande dispersão dos dados experimentais para frequências menores que
51,3 mHz. Os diagramas experimentais de EIE e os valores obtidos na simulação
confirmaram que o óxido de alumínio não propicia uma efetiva barreira contra a corrosão em
meio de cloreto para a liga AA1100, a qual necessita de uma proteção adicional.
22
I.3.2 Comportamento da liga AA 1100 revestida com TEOS
O acompanhamento dos processos eletroquímicos que ocorrem com a liga recoberta
com TEOS (branco) ao longo do tempo de imersão foi realizado através de medidas de
espectroscopia de impedância eletroquímica (Figura 9). O Diagrama de Bode para o branco
imerso por 1h em 0,05 molL
-1
NaCl apresenta dois processos de relaxação acoplados na alta e
média frequência e pontos indutivos a partir de 103,4 mHz. Este comportamento se repete
para 24h, 48h e 7dias com o início de pontos indutivos em 103,4 mHz, 51,3 mHz, 10,0 mHz,
respectivamente. As constantes de tempo na alta frequência (10
2
rad/s) e na média frequência
(10
1
rad/s) se deslocam com o aumento do tempo de imersão para (10
1,5
rad/s) e (10
0,5
rad/s),
respectivamente. Verifica-se um alargamento da curva do ângulo θ sugerindo o aparecimento
de uma nova constante de tempo em frequências mais baixas que pode estar associada à
formação de produtos de corrosão.
22
Para a liga nua a substituição de pontos indutivos por uma reta difusional inicia em 15
dias de imersão e para o branco inicia em 30 dias o que indica que o TEOS retarda o processo,
entretanto não aumenta a resistência de polarização. A resposta eletroquímica é muito
semelhante a da liga nua, devido ao fato da rede de sílica formada ter caráter hidrofílico
63
, não
propiciando, desta maneira, uma barreira efetiva para o controle da corrosão da liga.
O módulo total da impedância em 1h é 8 kOhm cm
2
, 16 kOhm cm
2
em 48h,
51kOhm.cm
2
para 7 dias e 15 dias, 155 kOhm cm
2
em 30 dias e 177 kOhm cm
2
. A tendência
geral é este assumir maiores valores com o tempo, possivelmente, devido à hidratação do
revestimento e do óxido que acaba fechando parcialmente os poros
64
e a migração dos
produtos de corrosão dos pites, selando os poros do revestimento.
62
23
-2 0 2 4 6
2.0
2.5
3.0
3.5
4.0
4.5
5.0
5.5
- ângulo de fase (θ)
log |Z| (Ohm cm
2
)
log f (Hz)
-60
-40
-20
0
20
40
60
80
(a)
0 30000 60000 90000 120000 150000
-30000
0
30000
60000
90000
120000
150000
(b)
Z´´(Ohm cm
2
)
Z´(Ohm cm
2
)
0 10000 20000 30000 40000 50000
-20000
-10000
0
10000
20000
30000
40000
50000
(c)
1 h
24 h
48 h
Z'' (Ohm cm
2
)
Z' (Ohm cm
2
)
Figura 9: Diagramas de (a) Bode e (b) Nyquist para o branco após () 1h, () 24h, () 48h,
() 7 dias, () 15 dias, () 30 dias, () 50 dias de imersão em NaCl 0,05 mol L
-1
(c)
diagrama de Nyquist para os tempos de () 1h, () 24h, () 48h de imersão.
Os resultados obtidos indicam que a deposição de um filme de TEOS o permite a
formação de um revestimento com características protetoras, devido ao fato da sílica ter
caráter hidrofílico, permitindo o acesso do eletrólito ao substrato metálico resultando na
corrosão da amostra. Estão de acordo com o trabalho de Hu et al. onde a sílica formada a
partir de TEOS não mostrou boas propriedades barreira para o substrato de AZ91D. O TEOS
geralmente é associado a silanos funcionalizados gerando híbridos inorgânico/orgânico.
39-43
24
Revestimentos gerados com a mistura de até 20% de TEOS com silanos como
viniltrimetoxisilano (VTMS), 3-[(metacriloxi)propil] trimetoxisilano (MPMS) e GPTMS
apresentam melhores propriedades anticorrosivas que os produzidos sem TEOS.
1
Segundo os
pesquisadores o TEOS forma estruturas contendo sílica que aumentam a reticulação do
revestimento. Contudo um excesso de TEOS (25-30%) deteriora as propriedades
anticorrosivas.
A proposta do revestimento com TEOS reside no fato ser um dos precursores de sílica
mais barato, mas os resultados obtidos mostram que este precursor de sílica não confere
proteção adequada a liga. Na tentativa de melhorar o desempenho dos filmes de TEOS a
incorporação de ácidos fosfônicos na matriz sol-gel foi investigada.
25
I.3.3 Efeito da concentração do ácido aminotrimetilenofosfônico - ATMP
A avaliação da concentração de ATMP a ser adicionada no banho de TEOS foi
efetuada através de ensaios de EIE, realizados em 1h, 24h, 48h, 7 dias, 15 dias e 30 dias de
imersão em NaCl 0,05 molL
-1
. As concentrações testadas foram 5x10
-5
molL
-1
, 5x10
-4
molL
-1
e 5x10
-3
molL
-1
de ATMP. Esta faixa de concentração foi escolhida a partir de ensaios
prévios, onde foi determinada a dependência entre a concentração do ATMP e o efeito
inibidor deste composto, assim como a sua solubilidade em solução etanol/água. Os espectros
de impedância relativos a estes testes são apresentados na Figura 10.
A adição das duas concentrações mais baixas de ATMP produz um espectro muito
semelhante para 1h de imersão com três constantes de tempo. Em 24h, 48h e 7 dias de
imersão em NaCl 0,05 molL
-1
o comportamento eletroquímico da liga revestida com
TEOS/5,00x10
-5
ATMP e TEOS/5,00x10
-4
ATMP
é similar , pois para os dois sistemas
nestes tempos de imersão os diagramas apresentam duas constantes de tempo acopladas. Com
o aumento do tempo de exposição para 30 dias estes revestimentos apresentam uma constante
de tempo na alta frequência, outra na média frequência e comportamento difusional na baixa
frequência, este comportamento se repete para 50 dias de imersão (dados não mostrados). Este
resultado indica que os filmes estão protegendo a liga, visto que o comportamento indutivo
relacionado com a corrosão localizada não é evidenciado nos espectros de EIE e o
comportamento difusional devido ao transporte de massa nos poros da camada é retardado,
aparecendo somente após 30 dias.
Na Tabela 5 são apresentados os valores de resistência medida a 10mHz para a liga
AA1100 com os revestimentos TEOS/5,00x10
-5
ATMP e TEOS/5,00x10
-4
ATMP.
26
-2 0 2 4
1.5
2.0
2.5
3.0
3.5
4.0
4.5
5.0
5.5
6.0
- ângulo de fase (θ)
log |Z| (Ohm cm
2
)
log f (Hz)
-40
-30
-20
-10
0
10
20
30
40
50
60
70
80
90
(a)
-2 0 2 4
2.0
2.5
3.0
3.5
4.0
4.5
5.0
5.5
- ângulo de fase (
θ
)
log |Z| (Ohm cm
2
)
log f (Hz)
0
10
20
30
40
50
60
70
(b)
-2 0 2 4
2.0
2.5
3.0
3.5
4.0
4.5
5.0
5.5
(c)
- ângulo de fase (θ)
log |Z| (Ohm cm
2
)
log f (Hz)
0
10
20
30
40
50
60
70
-2 0 2 4
2.0
2.5
3.0
3.5
4.0
4.5
5.0
5.5
- ângulo de fase (
θ
)
log |Z| (Ohm cm
2
)
log f (Hz)
-20
-10
0
10
20
30
40
50
60
70
80
(d)
-2 0 2 4
2.0
2.5
3.0
3.5
4.0
4.5
5.0
5.5
- ângulo de fase (θ)
log |Z| (Ohm cm
2
)
log f (Hz)
0
10
20
30
40
50
60
70
80
(e)
-2 0 2 4
2.0
2.5
3.0
3.5
4.0
4.5
5.0
5.5
- ângulo de fase (
θ
)
log |Z| (Ohm cm
2
)
log f (Hz)
0
10
20
30
40
50
60
70
80
(f)
Figura 10: Diagramas de Bode da liga AA1100 com os revestimentos de TEOS com
incorporação de () 5,00x10
-5
molL
-1
de ATMP, () 5,00x10
-4
molL
-1
de ATMP, () 5,00x10
-
3
molL
-1
de ATMP após 1h (a), 24h (b), 48h (c), 7 dias (d), 15 dias(e) e 30dias(f) de imersão
em NaCl 0,05 mol L
-1
.
27
Tabela 5: Valores de resistência medida em 10 mHz (R
10mHz
) para a liga AA1100 com os
revestimentos TEOS/5,00x10
-5
ATMP e TEOS/5,00x10
-4
ATMP em longo do tempo de
imersão.
R
10mHz
(kOhm cm
2
)
TEOS/5,00x10
-5
ATMP
R
10mHz
(kOhm cm
2
)
TEOS/5,00x10
-4
ATMP
1h 453,0 570,2
24h 223,9 244,3
48h 199,1 243,8
7 dias 256,4 260,6
15 dias 164,4 232,8
30 dias 228,6 143,5
Os valores de R
10mHz
oscilam com o tempo de imersão, a diminuição até 48h para
TEOS/5,00x10
-4
ATMP e TEOS/5,00x10
-5
ATMP está relacionada com a degradação do
revestimento e intensificação dos processos de corrosão. Em 7 dias a elevação dos valores da
resistência está associada com o bloqueio dos poros por produtos de corrosão.
62
O decréscimo
que ocorre em 15 dias pode ser relacionado com o craqueamento ou desprendimento dos
produtos de corrosão. Comparativamente estes valores são maiores que os obtidos para o
branco, sugerindo que estes revestimentos estão menos sujeitos a delaminação e a hidratação.
Provavelmente, a ligação P-O-Al que se estabelece na superfície metálica é mais estável
permitindo a formação de um revestimento mais compacto.
para TEOS/5,00x10
-3
ATMP existe duas constantes de tempo acopladas na alta e
média frequência e pontos indutivos a partir de 40,6 mHz para 1 hora e a partir de 25,46 mHz
para 24horas de imersão. Em 48h não há o aparecimento de pontos indutivos, os quais voltam
a aparecer em 10,00 mHz para 7 dias. A partir de 15 dias uma reta que representa a
impedância de Warburg, associada ao transporte de massa, provavelmente, através de poros e
falhas do filme. Observando os diagramas de Bode para 7 e 30 dias de imersão o
TEOS/5,00x10
-3
ATMP apresenta valores de módulo total da impedância praticamente igual a
TEOS/5,00x10
-4
ATMP e TEOS/5,00x10
-5
ATMP, respectivamente, superior ao outro
revestimento. No entanto, através da análise de todos os espectros verifica-se que para esta
concentração a resposta eletroquímica é análoga à liga nua, ocorrendo um aumento do valor
do dulo da impedâcia total com o tempo
devido ao selamento dos poros pelos produtos de
28
corrosão.
62
O benefício deste revestimento em relação à liga nua é o retardo na frequência de
aparecimento de pontos indutivos para 24h e 7 dias. Conforme reportado por Gunasekarane
colaboradores
47
altas concentrações de ácido fosfônico em solução favorecem a dissolução do
óxido de alumínio.
Com o intuito de determinar a concentração ótima a ser adicionada no banho de
silanização os dados de EIE foram avaliados utilizando uma simulação com um circuito
elétrico equivalente em paralelo, representado na Figura 11 para as concentrações menores de
fosfônicos e na Figura 8 para TEOS/5,00x10
-3
ATMP. Neste caso, R
1
corresponde à
resistência da solução, R
AF
e CPE
AF
à resistência e capacitância da interface
revestimento/solução, respectivamente e R
BF
e C
BF
/CPE
BF
à resistência e capacitância da
interface metal/solução, respectivamente. Os valores da simulação para TEOS/5,00x10
-5
ATMP e TEOS/5,00x10
-4
ATMP são apresentados na Tabela 6 e para a maior concentração
de ATPM na Tabela 7.
Figura 11: Circuito elétrico equivalente usado para o ajuste dos dados de EIE da liga
AA1100 com os revestimentos TEOS/5,00x10
-5
ATMP e TEOS/5,00x10
-4
ATMP após 24h de
imersão em NaCl 0,05molL
-1
.
29
Tabela 6: Dados do circuito equivalente para liga AA1100 com os revestimentos
TEOS/5,00x10
-5
ATMP e TEOS/5,00x10
-4
ATMP após 24 horas de imersão em NaCl
0,05molL
-1
.
R
1
(.cm
2
)
R
AF
(k cm
2
)
CPE
AF
(µF cm
-2
)
n
AF
R
BF
(k cm
2
)
C
BF
(µF cm
-2
)
TEOS/5,00x10
-5
ATMP
110,3 12,99 16,90 0,73 278,0 1,36
TEOS/5,00x10
-4
ATMP
118,3 3,53 14,89 0,69 397,0 0,23
Tabela 7: Dados do circuito equivalente para a liga AA1100 com o revestimento
TEOS/5,00x10
-3
ATMP após 24 horas de imersão em NaCl 0,05molL
-1
.
R
1
(.cm
2
)
R
AF
(k.cm
2
)
CPE
AF
(µF.cm
2
)
n
AF
R
BF
(k.cm
2
)
CPE
BF
(µF.cm
2
)
n
BF
108,4 1,21 8,41 0,78 110,9 0,304 0,99
A baixa resistência da alta freqüência, relativa à penetração de eletrólito nos poros do
revestimento, obtida na simulação para a liga com TEOS/5,00x10
-3
ATMP é mais um
indicativo do seu desempenho inferior. Na simulação para 24h de imersão em solução de
cloreto, os dois revestimentos com as menores concentrações de ATMP apresentaram
elevados valores de resistência na baixa frequência. Os revestimentos TEOS/5,00x10
-5
ATMP
e TEOS/5,00x10
-4
ATMP são estáveis ao longo do tempo de imersão apresentando
comportamento eletroquímico muito próximo. No entanto, para a liga AA1100 recoberta com
TEOS/5,00x10
-4
ATMP até 15 dias, os valores de resistência mantém-se constantes e
superiores aos do revestimento TEOS/5,00x10
-5
ATMP.
30
I.3.4 Efeito da concentração do ácido etilenodiaminotetrametilenofosfônico
EDTPO
Espectroscopia de impedância eletroquímica foi empregada para avaliar as diferenças
na proteção à corrosão obtida pela adição de 3,75x10
-5
molL
-1
e 3,75x10
-4
molL
-1
de EDTPO
no banho de TEOS. Os diagramas de Bode para as duas concentrações de EDTPO para 1h,
24h, 48h, 7 dias, 30dias e 50 dias são mostrados na Figura 12.
Verificou-se através do perfil das curvas de EIE que o comportamento eletroquímico
dos revestimentos TEOS/3,75x10
-5
EDTPO e TEOS/3,75x10
-4
EDTPO é distinto. O espectro
do revestimento TEOS/3,75x10
-5
EDTPO apresenta três constantes de tempo para 1h de
imersão, uma na alta frequência bem separada com θ em torno de 15º e outras duas constantes
na média e na baixa frequência. Estas constantes de tempo se desacoplam em 24 e 48 horas, e
em 7 dias voltam a se acoplar. A partir de 30 dias de imersão ocorre um estreitamento da
curva log f x ângulo θ, devido à mudança de comportamento na baixa frequência que passa a
ser difusional. Quanto maior o tempo de exposição à solução de cloreto maior a diminuição
do módulo total da impedância. Em 1h é 475,3 kOhm cm
2
, em 48h é 265,5 kOhm cm
2
ocorrendo maior diferença de 7dias (180,3 kOhmcm
2
) para 30 dias (85,3 kOhm cm
2
) não
alterando em 50 dias (85,5 kOhm cm
2
). O comportamento indutivo relacionado com a
presença de pites presente nos espectros da liga nua não aparece nos espectros deste
revestimento e o comportamento difusional atribuído aos processos de corrosão (transporte de
massa através dos pites) é retardado para 30 dias, evidenciando a proteção conferida por este
revestimento.
31
-2 0 2 4
2.0
2.5
3.0
3.5
4.0
4.5
5.0
5.5
6.0
- ângulo de fase (
θ
)
log |Z| (Ohm cm
2
)
log f (Hz)
10
20
30
40
50
60
70
(a)
-2 0 2 4
1.5
2.0
2.5
3.0
3.5
4.0
4.5
5.0
5.5
6.0
- ângulo de fase (
θ
)
log |Z| (Ohm cm
2
)
log f (Hz)
0
10
20
30
40
50
60
70
(b)
-2 0 2 4
2.0
2.5
3.0
3.5
4.0
4.5
5.0
5.5
- ângulo de fase (
θ
)
log |Z| (Ohm cm
2
)
log f (Hz)
0
10
20
30
40
50
60
70
(c)
-2 0 2 4
2.0
2.5
3.0
3.5
4.0
4.5
5.0
5.5
- ângulo de fase (θ)
log |Z| (Ohm cm
2
)
log f (Hz)
0
10
20
30
40
50
60
70
(d)
-2 0 2 4
2.0
2.5
3.0
3.5
4.0
4.5
5.0
5.5
- ângulo de fase (
θ
)
log |Z| (Ohm cm
2
)
log f (Hz)
0
10
20
30
40
50
60
70
(e)
-2 0 2 4 6
1.5
2.0
2.5
3.0
3.5
4.0
4.5
5.0
5.5
6.0
- ângulo de fase (
θ
)
log |Z| (Ohm cm
2
)
log f (Hz)
0
10
20
30
40
50
60
70
80
(f)
Figura 12: Diagrama de Bode para a liga AA1100 com os revestimentos de TEOS com
incorporação de () 3,75x10
-5
molL
-1
de EDTPO, () 3,75x10
-4
molL
-1
de EDTPO após 1h
(a), 24h (b), 48h (c), 7 dias (d), 30 dias(e) e 50dias(f) de imersão em 0,05molL
-1
. NaCl.
32
O diagrama de Bode para 1h de imersão do revestimento TEOS/3,75x10
-4
EDTPO
apresenta três constantes de tempo. Em 24h as constantes da média e baixa frequência se
acoplam e persiste uma constante bem separada na alta frequência. Esta constante da alta
frequência possui θ em torno de 45º para 1h, 40º para 24h, 30º para 48h, 20º para 7dias e a
partir de 15 dias não é mais evidenciada. O valor do módulo total da impedância decai de
325,8 kOhm cm
2
em 1h para 254,1 kOhm cm
2
em 7 dias e para os demais tempos volta a
assumir valores maiores, 293,8 kOhm cm
2
em 30 dias.
A constante da alta frequência 50kHz pode estar relacionada a uma camada
Al/fosfônico- Al-P-O. Na menor concentração este processo de relaxação não é verificado a
partir de 24h. Dois motivos podem ser propostos para elucidar tal comportamento: menos
ligações Al-O-P e/ou as moléculas de EDTPO estejam retidas na matriz de sílica.
Possivelmente, a constante de tempo, em torno de 100Hz¸ seja relacionada com o
revestimento TEOS/EDTPO e a constante de tempo nas médias freqüências (1Hz) com óxido
de alumínio.
Conforme mencionado para 24h de imersão os revestimentos com EDTPO apresentam
duas constantes de tempo\, RC, bem definidas e assim na simulação dos dados experimentais
foi utilizado um circuito em série, apresentado na Figura 13. Os dados obtidos com o circuito
elétrico para TEOS/3,75x10
-5
EDTPO e TEOS/3,75x10
-4
EDTPO imersos em NaCl 0,05molL
-
1
por 24 horas são apresentados na Tabela 8. Verifica-se que o revestimento TEOS/3,75x10
-4
EDTPO permite a formação de um filme mais protetor.
Figura 13: Circuito elétrico equivalente usado para o ajuste dos dados de EIE da liga
AA1100 com os revestimentos TEOS/3,75x10
-5
EDTPO e TEOS/3,75x10
-4
após 24h de
imersão em NaCl 0,05molL
-1
.
33
Tabela 8: Dados do circuito equivalente para a liga AA1100 com os revestimentos
TEOS/3,75x10
-5
EDTPO e TEOS/3,75x10
-4
EDTPO após 24 horas de imersão em NaCl
0,05molL
-1
.
R
1
(.cm
2
)
R
AF
(k.cm
2
)
CPE
AF
(µF.cm
2
)
n
AF
R
BF
(
(k.cm
2
)
CPE
BF
(µF.cm
2
)
n
BF
TEOS/3,75x10
-5
EDTPO
100,7 1,54 36,90 0,71 1215,0 20,25 0,77
TEOS/3,75x10
-4
EDTPO
105,2 169,2 16,10 0,65 1771,0 22,82 0,73
A comparação entre os diagramas obtidos para as duas concentrações de EDTPO com
o tempo de imersão indica que a resistência de polarização a partir de 7 dias é inferior para a
liga com o filme TEOS/3,75x10
-5
EDTPO. Além disso, os diagramas sugerem pela
sobreposição das constantes de tempo em uma ampla faixa de frequência que ocorra um
processo de adsorção mais efetivo com o revestimento TEOS/3,75x10
-4
EDTPO, concordando
com os resultados obtidos na simulação.
34
I.3.5 Comparação entre os revestimentos
A fim de avaliar o desempenho dos revestimentos TEOS/ATMP e TEOS/EDTPO na
proteção da liga de alumínio AA1100, foram realizadas curvas de polarização anódica e
catódica, partindo do Ecorr a 2 mV.s
-1
em NaCl 0,05 mol.L
-1
mostradas na Figura 14.
-1.5 -1.0 -0.5
-10
-8
-6
-4
-2
log (j)
E (V)
-0.6 -0.4 -0.2 0.0 0.2 0.4 0.6 0.8 1.0
-10
-9
-8
-7
-6
-5
-4
-3
-2
-1
log (j)
E (V)
Figura 14: Curva de polarização catódica (a) e anódica (b) para a liga AA1100 com os
revestimentos: branco (--); TEOS/5,00x10
-5
ATMP (--); TEOS/5,00x10
-4
ATMP (--);
TEOS/5,00x10
-3
ATMP (--); TEOS/3,75x10
-5
EDTPO (--) e TEOS/3,75x10
-4
EDTPO (--),
imersos por 24h em 0,05molL
-1
NaCl.
Observa-se uma diminuição das correntes anódicas quando a liga AA1100 é revestida
com TEOS mais ácidos fosfônicos. Para o revestimento apenas com TEOS (branco) e
5,00x10
-3
molL
-1
de ATMP
as correntes atingem os maiores valores, indicando que estes
revestimentos não são efetivos na proteção à corrosão. Isto é concordante com os resultados
de espectroscopia de impedância. O revestimento TEOS/3,75x10
-4
EDTPO apresenta as
menores densidades de corrente anódica, ou seja, a dissolução do metal está sendo dificultada.
Não há alteração significativa nos potenciais de corrosão.
A observação das imagens obtidas por Microscopia de Força Atômica (Figura 15)
indicam que o revestimento TEOS/5,00x10
-4
acompanha as irregularidades da liga nua.
Entretanto a liga revestida propicia uma superfície mais homogênea com decréscimo da
rugosidade de 264 nm da para 67 nm.
35
Figura 15: Microscopia de força atômica da liga nua (a) e do revestimento TEOS/5,00x10
-4
ATMP (b) antes da imersão na solução de cloreto.
A Figura 16 apresenta a microscopia eletrônica de varredura para a liga com os
revestimentos branco e TEOS/5,00x10
-4
. As imagens revelam que o revestimento branco
mostra ranhuras do processo de polimento, ao passo que estas ranhuras não estão presentes na
imagem TEOS/5,00x10
-4
, sugerindo um revestimento mais espesso que poderia dificultar a
entrada de eletrólito, porém não é homogêneo e contém rachaduras, as quais são caminhos
para a penetração de eletrólito e conseqüente diminuição do módulo da impedância total com
tempo de exposição em solução contendo cloreto.
(a)
(b)
Figura 16: Microscopia eletrônica de varredura da liga AA1100 com os revestimentos (a)
branco e (b) TEOS/5,00x10
-4
ATMP antes da imersão na solução de cloreto.
36
I.4 Conclusões
Verificou-se que o revestimento de TEOS não confere proteção à corrosão para a liga
AA1100, pelo fato da rede de sílica formada ser hidrofílica. O comportamento eletroquímico
do alumínio revestido mostrou-se dependente da concentração de ácido fosfônico adicionada
ao sol-gel TEOS e da natureza do composto. Os ensaios realizados neste estudo revelaram
que os revestimentos TEOS/5,00x10
-5
ATMP, TEOS/5,00x10
-4
ATMP, TEOS/3,75x10
-5
EDTPO e TEOS/3,75x10
-4
EDTPO apresentam caráter protetor para a liga AA1100, devido à
ação inibidora destes compostos e a possível formação da ligação Al-O-P, enquanto o
revestimento TEOS/5,00x10
-3
ATMP mostrou comportamento eletroquímico semelhante ao
da liga nua. Revestimentos TEOS/5,00x10
-4
ATMP e TEOS/3,75x10
-4
EDTPO permitiram a
formação de filmes com menor porosidade que se mantém mais estáveis para tempos
prolongados de imersão em cloretos.
37
Capítulo II Estudo de revestimentos TEOS/ácido fosfônicos para a proteção contra
corrosão da liga AA2024
II.1 Revisão da literatura
II.1.1 AA2024-T3
As ligas da série 2XXX são ligas de alumínio que contem cobre como o segundo
elemento majoritário. A liga AA2024-T3 tem grande destaque, sendo utilizada na indústria
aeronáutica. A composição nominal desta liga é apresentada da Tabela 9. O símbolo T3 indica
tratamento rmico que a liga foi submetida: solubilizada pelo aquecimento, resfriada a frio e
envelhecida naturalmente
65
. Após o tratamento térmico microestruturas heterogêneas são
desenvolvidas na liga propiciando elevada resistência mecânica. No entanto estas estruturas
aumentam a susceptibilidade da liga à corrosão localizada e galvânica. A distribuição não
homogênea de cobre na microestrutura desta liga causa uma baixa resistência à formação de
pites.
65
Tabela 9: Composição química das ligas de alumínio 2024-T3 (% em massa)
57
Composição
Química
Al Cu Mg Si Fe Mn Cr Zn Ti Outros
Percentagem
em massa
(%)
Restante
3,8-
4,9
1,2-
1,8
0,5 0,5 0,3-
0,9
0,1 0,15 0,15 0,15
Os tipos de partículas intermetálicas foram investigados por Buchheit e
colarboradores
65
através de análises de EDS e são mostrados na Tabela 10. Pode ser
observado que as partículas principais da liga são Al
2
CuMg (fase S) e Al
6
(Cu,Fe, Mn) (fase
θ). A razão atômica média para Cu:Fe:Mn é 2:1:1 na fase θ. Tais partículas constituem 61,3%
e 12,3% da população total de partículas da liga, respectivamente. A fase S ocupa 2,7% da
área superficial da liga e as partículas Al
6
(Cu,Fe, Mn) cerca de 12,3%. A quantidade de
partículas indeterminadas é alta, uma das razões é que a composição química não pode ser
estimada em partículas menores que 0,5 a 0,7
µm. As análises microquímicas com ponteira
38
eletrônica (EPMA) indicam que as partículas Al
6
(Cu,Fe, Mn) possuem 44 a 46% em massa de
Cu e 14 a 16% em massa de Mg.
Tabela 10: Distribuição das partículas por tipo químico.
(65)
Tipo de partícula Percentual total de partículas Área percentual
Al
2
CuMg 61,3 2,69
Al
6
(Cu,Fe, Mn) 12,3 0,85
Al
7
Cu
2
Fe 5,2 0,17
(Al,Cu)
6
Mn 4,3 0,11
Indeterminadas 16,9 0,37
Segundo o estudo de Liao e colaboradores
66
as partículas Al-Cu-Fe-Mn analisadas por
EDS tem formato irregular (tipicamente > 5 µm de comprimento) enquanto as partículas Al-
Cu-Mg tem formato arredondado (<5 µm de comprimento). A imagem obtida por MEV pelos
pesquisadores é apresentada na Figura 17. Em relação a matriz as partículas Al-Cu-Mg são
anódicas e as partículas Al-Cu-Fe-Mn são catódicas. Utilizando a técnica de MEV os autores
compararam a mesma área da superfície antes e após imersão em NaCl 0,5 mol L
-1
por 24h
(Figura 18). Perceberam que algumas partículas desaparecem da superfície enquanto outras
permanecem com dissolução da matriz ao seu redor destas partículas. As partículas
arredondadas (Al-Cu-Mg) comportam-se catodicamente em relação à matriz. Tal resultado
sugere que as partículas desta liga têm comportamento catódico independente de sua
característica catódica ou anódica em relação à matriz.
Suter e Alkire
67
estudaram a iniciação de pites na liga AA2024-T3 em solução de
NaCl utilizando microcélulas. As curvas de polarização das inclusões AlCuMg, AlCuFeMn e
de uma área sem nenhum intermetálico na superfície da liga obtidas em NaCl 1 mol L
-1
com
microcélula de 20 µm são mostradas na Figura 19. É possível constatar a antecipação do
potencial de pite para as inclusões em comparação com as áreas sem inclusões, mostrando
que estas exercem papel decisivo no processo de iniciação de pites. foram realizados quinze
experimentos para cada inclusão e o potencial de pite para as inclusões AlCuMg variou de -
700 a -150mv (SCE) e da inclusão AlCuFeMn variou de -200 a +950mV (SCE). Para a área
sem inclusões o potencial de pite variou de +600 a +1000mV (SCE) em três experimentos
realizados.´
39
O potencial de corrosão em NaCl 0,5 mol L
-1
da liga e dos intermetálicos foi
determinado por Buchheit
68
. O valor versus ECS do potencial de corrosão para a matriz Al
variou de -880 a -610 mV , para Al
2
CuMg foi -920 mV e para AlCuFeMn foi encontrado -675
mV.
Figura 17: Microscopia eletrônica de varredura de uma área típica da superfície da
liga AA2024-T3mostrando a distribuição e o tipo de partículas. As partículas com formato
arredondado (round particles) referem a Al-Cu-Mg e as com formato irregular (Irregularly
shapes particles) a Al-Cu-Fe-Mn.
(66)
Figura 18: Comparação da mesma área da superfície (a) antes e (b) após imersão em
NaCl 0,5 mol L
-1
por 24h.
(66)
40
Figura 19: Curva de polarização da área contendo o intermetálico AlCuMg (curva
pontilhada AlCuMg inclusion), AlCuFeMn (curva escura- AlCuFeMn inclusion) e de uma
área sem nenhum intermetálico na superfície da liga em NaCl 1 mol L
-1
a 1 mV s
-1
.
(67)
No trabalho de Muller e Galvele
69
foi reportado que o aumento da concentração de
cobre (0-5% em massa) acarreta o aumento do potencial de pite das ligas Al-Cu, em solução
NaCl 0,1 mol L
-1
. Para o alumínio puro o potencial de pite é -520 mV, para Al-1%Cu é em
torno de -460mV e para Al-5% Cu é -330mV. Os mesmos pesquisadores
70
constataram que a
adição de até 5% em massa do elemento de liga Mg não afeta o potencial de pite do Al no
meio estudado NaCl 0,1 mol L
-1
. O potencial das ligas Al-Mg pode varia cerca de 50mV
dependendo .da técnica utilizada: passo de potencial e scratching. As imagens obtidas por
MEV mostraram que a morfologia dos pites é semelhante à encontrada para o alumínio puro.
Em soluções aquosas contendo cloreto dissolução do alumínio e do magnésio da
fase S, a qual se torna uma estrutura porosa rica em Cu e passa a atuar como um sítio
catódico. Isto causa a dissolução da matriz ao seu redor.
65
Em trabalho posterior Buchheit e
col.
71
propuseram que a energia superficial desta estrutura porosa é reduzida ocorrendo o
descolamento de alguns clusters ricos em cobre. Estes clusters são capturados pelo gel do
produto de corrosão hidratado e movem-se devido à ação mecânica de crescimento do filme e
41
de fluxo de solução, conforme mostrado na Figura 20. Desta forma, o cobre é redepositado
em várias zonas da superfície da liga, ocasionando os pites secundários, verificados em
fotografias ópticas da liga AA2024 após 168h de exposição em câmera salina.
65
Figura 20: Esquema do mecanismo de redistribuição de cobre por dissolução dos
intermetálicos Al
2
CuMg na liga AA2024-T3.
(71)
II.1.2 Revestimentos de silanos aplicados na AA2024
Hu e colaboradores
72
investigaram a eletrodeposição e caracterização de filmes de
BTSE na liga de alumínio AA2024-T3. A partir do potencial de circuito aberto ca. de -
0.45V/ECS para liga de alumínio AA2024-T3 em solução de BTSE, dois potenciais anódicos
(-0.40 e -0.20V/ECS) e três potenciais catódicos (-0.60, -0.80 e -1.0V/ECS) foram
selecionados para deposição de filmes de silano. Os resultados indicam que a deposição em
potenciais catódicos facilita a formação de filmes de silano e aumenta as propriedades
inibidoras, enquanto potenciais anódicos deterioram a proteção dos filmes. A aplicação do
potencial de -0.80V/SCE tornou os filmes mais compactos e espessos. A formação de filmes
em potenciais catódicos é facilitada devido à formação de OH
-
na redução do oxigênio ou na
eletrólise da água que ocorrem próximo da superfície do eletrodo, estes íons gerados
deslocam o equilíbrio na reação de condensação dos silanos, possibilitando maior grau de
42
condensação. Resultados semelhantes
73
foram reportados para a eletrodeposição de filmes de
viniltrimetoxisilano, metiltrimetoxisilano e dodeciltrimetoxisilano na liga AA2024, entre os
potenciais testados -0.80V/SCE mostrou-se o mais eficiente. Independente do potencial
aplicado os filmes com dodeciltrimetoxisilano apresentaram maiores valores de impedância
na baixa freqüência.
No trabalho de Wang e colaboradores
9
após o tratamento mecânico a liga AA2024 foi
imersa e sonificada em hexano e secas, sendo, então, imersas em soluções de hexano
contendo alquil silanos C
18
SiMe
2
Cl, C
18
SiCl
3
, C
18
Si(OCH)
3
e C
8
Si(OCH)
3
. Houve inversão
da ligação na superfície, ou seja, as cadeias carbônicas interagiram com a superfície recoberta
por hexano e apenas nas regiões onde o óxido de alumínio não foi removido a ligação Si-O-Al
foi formada, resultando em um revestimento auto-organizável. Os revestimentos de C
18
SiCl
3
,
C
18
Si(OCH)
3
e C
8
Si(OCH)
3
aumentaram a hidrofobicidade da superfície. Testes de câmera
salina utilizando solução Harrison indicaram um melhoramento da resistência à corrosão para
os revestimentos produzidos a partir de silanos contendo cloro na estrutura. Entretanto
revelaram resistência na baixa frequência menor para os revestimentos com clorosilanos,
resultado associado com a corrosão por pites gerada por íons cloreto oriundos do processo de
hidrólise de silano.
Diversos inibidores inorgânicos têm sido incorporados a matrizes sol-gel para a
proteção da liga AA2024. Voevodin e colaboradores
74
investigaram as propriedades anti-
corrosivas de revestimentos sol-gel GPTMS/TPOZ (tetrapropóxido de zircônio(IV)) contendo
Ce(NO)
3
, NaVO
3
e Na
2
MoO
4
sob AA2024-T3. Os filmes sol-gel com os inibidores anódicos
NaVO
3
e Na
2
MoO
4
não promoveram uma adequada proteção acarretando a
desestabilização da
rede sol-gel. Para os filmes dopados com cério a resposta eletroquímica foi muito semelhante
a dos filmes não dopados.
De forma geral, a incorporação de sais de cério em matrizes sol-gel como BTSE
29
e
misturas GPTMS/TEOS
75,10
ou em camadas de conversão de cério e camadas de silano:
metacriloxipropilmetoxisilano
76
propicia um melhoramento das propriedades anticorrosivas.
Estes resultados são atribuídos à atuação do cério nos sítios catódicos da liga AA2024. Nestes
sítios ocorre a redução do oxigênio com a formação de íons hidróxido. O íon Ce
3+
reage com
estes íons de acordo com a reação 4,
76
formando óxido/hidróxido de cério, os quais se
depositam sobre os sitos catódicos, reduzindo as reações de redução e, consequentemente, a
velocidade de corrosão.
75
43
Ce
3+
+ 3OH
-
Ce(OH)
3
Ce
2
O
3
(Reação 4)
Palanivel et. al
28
avaliaram a incorporação na matriz sol-gel
[trimetoxisililpropil]amino (bis amino)/VTMS de moléculas orgânicas de toluiltriazol e
benzotriazol e sais inorgânicos de cério. Os três revestimentos mostraram propriedades
protetoras para a liga AA2024. Contudo apenas para o revestimento que continha sais de cério
foi verificada habilidade de auto-selamento.
Estudos com a utilização de bissilano para proteção da liga AA2024 são os mais
reportados na literatura. Zhu e van Ooij
26
avaliaram a utilização de bis-
[trimetoxisililpropil]amino (bis-amino), BTESPT (bis[trietoxisililpropil]tetraenxofre) e suas
misturas. Revestimentos com bis-amino são hidrofílicos e positivamente carregados, devido à
protonação dos grupos amina secundários, acarretando na atração de ânions como cloretos e
com isso intensificação dos processos de corrosão. A aplicação do silano hidrofóbico
BTESPT e da mistura 3:1 BTESPT/bis-amino proporcionou excelentes propriedades
anticorrosivas e adesão ao substrato. A base para a proteção da mistura é a grande quantidade
de BTESPT hidrofóbico. Em trabalho prévio
23
estes pesquisadores já haviam relatado a
hidrofobicidade do revestimento BTESPT, atribuída às cadeias de S presentes nas suas
moléculas, as quais aliadas a camada interfacial altamente reticulada retardam a penetração de
água durante o processo de imersão, desta forma, a velocidade de corrosão é diminuída.
No estudo comparativo realizado por Cabrale colaboradores
7
entre MPS (γ-
mercaptopropiltrimetoxisilano), BTSE (bis-1,2-[trietoxisilil]etano e BTESPT
(bis[trietoxisililpropil]tetraenxofre). Os filmes de bissilanos apresentaram maior espessura e
melhor desempenho na proteção à corrosão em solução 0,1mol.L
-1
NaCl. Os resultados
obtidos com espectroscopia de elétron Auger (AES) sugerem que uma superfície mais rica em
Si e O é produzida quando se usa bissilanos, os quais são capazes de formar maior densidade
de ligações Al-O-Si na interface e uma rede de silano mais organizada. Para o sistema com
BTESPT a resistência a transferência de carga foi maior que para o BTSE e MPS. Conforme
reportado pelo mesmo grupo em outro trabalho
8
a presença de intermetálicos ricos em cobre
facilita a formação do filme BTESPT mais uniforme, pois além da ligação Si-O-Me ilhas de
Cu-S são formadas, devido a alta afinidade entre Cu e S presente na molécula de BTESPT.
Com isso, há aumento da aderência no substrato e da proteção à corrosão.
Zheludkevich e colaboradores
10
investigaram a influência da dopagem de sol-gel de
um revestimento sol-gel TEOS/GPTMS com nanopartículas de ZrO
2
, geradas a partir de
44
TPOZ, e com nitrato de cério para a liga AA2024. Através da técnica de EIE concluíram que
a incorporação de nanopartículas de óxido de zircônio dopadas com nitrato de cério melhora
as propriedades barreira dos revestimentos híbridos. O mesmo grupo
77
em trabalho posterior
estudou os parâmetros tempo de hidrólise (5 minutos, 1h, 2h), temperatura (ambiente e 50°C)
de hidrólise do TPOZ e concentração de TPOZ (10 e 20% em mol). Nas imagens de AFM os
revestimentos com 20% de TPOZ apresentaram partículas de maior tamanho que com 10%,
devido à aglomeração. Com a mesma técnica foi identificado que os parâmetros nos níveis
mais altos resultam em um maior número de nanopartículas. Nos testes eletroquímicos a
presença de nanopartículas aumentou a proteção à corrosão dos revestimentos, através do
bloqueio dos poros do revestimento. No trabalho de Palomino e colaboradores
29
foi verificado
um efeito sinérgico entre nanopartículas de sílica e os íons cério para a proteção contra à
corrosão da liga AA2024 quando incorporados a uma matriz sol-gel BTSE .
A incorporação de nano partículas de sílica em revestimentos sol-gel BTESPT
78
possibilitou maior dureza e aumento das propriedades protetoras para a liga em 0,6 mol.L
-1
NaCl, até uma concentração ótima de 15ppm. Em concentrações maiores as nanopartículas
adsorvem nos filmes tornando-os mais porosos e permitindo a entrada de eletrólito.
II.2 Procedimento experimental
II.2.1 Preparação do substrato
Corpos de prova de liga de alumínio AA2024-T3 foram submetidos ao polimento
mecânico com lixas de carbeto de silício até granulometria 1200 seguido por enxágüe em
água destilada e secagem com ar quente. Antes da imersão das amostras em banho de silano
quatro pré-tratamentos foram testados conforme descrito abaixo:
A: Somente polimento mecânico, denominado MP;
B: A seguido de imersão por 5 min em 0,05 mol.L
-1
ácido acético, denominado aac;
C: B seguido de imersão por 2 min em 0,5 mol.L
-1
NaOH (pH 12,0), denominado aacn
e
D: A seguido de imersão por 2 min em 0,5 mol.L
-1
NaOH (pH 12,0), denominado n.
45
Após a imersão nas soluções de ácido acético e NaOH as amostras foram lavadas com
água destilada e secas com ar quente.
II.2.2 Preparação dos revestimentos
A composição dos banhos é a mesma da apresentada na Tabela 2 do Capítulo 1. Após
a adição de todos os componentes do banho, foi realizada a agitação por 1h e repouso por
71h. No item Efeito do tempo de hidrólise, os tempos de repouso de 5h, 23h e 47h também
foram investigados.
Após os pré-tratamentos as placas foram imersas nos banhos de silano, o qual havia
ficado em repouso, onde permaneceram por 30 minutos, seguido pelo processo de cura por 1h
em temperatura 90-100ºC.
Nove sistemas TEOS/ácido fosfônico foram testados, conforme descrito abaixo:
1) MPTN4: filme obtido a partir do banho TEOS/5x10
-4
ATMP após pré-tratamento
MP.
2) aacTN4: filme obtido a partir do banho TEOS/5x10
-4
ATMP após pré-tratamento
aac.
3) aacnTN4: filme obtido a partir do banho TEOS/5x10
-4
ATMP após pré-tratamento
aacn.
4) nTN4: filme obtido a partir do banho TEOS/5x10
-4
ATMP após pré-tratamento n.
5) aacTN5: filme obtido a partir do banho TEOS/5x10
-5
ATMP após pré-tratamento
aac.
6) aacTN3: filme obtido a partir do banho TEOS/5x10
-3
ATMP após pré-tratamento
aac.
7) aacTE5: filme obtido a partir do banho TEOS/3,75x10
-5
EDTPO após pré-
tratamento aac.
8) aacTE4: filme obtido a partir do banho TEOS/3,75x10
-4
EDTPO após pré-
tratamento aac.
9) aacTE4ns: filme obtido a partir do banho TEOS/3,75x10
-4
EDTPO com
incorporação de 20 ppm de sílica pirogênica Wacker após pré-tratamento aac.
46
Para efeito de comparação a liga AA2024 foi revestida com um filme apenas com
TEOS e outro apenas com EDTPO. O revestimento de TEOS foi obtido a partir do banho
branco após pré-tratamento B. Revestimentos apenas com EDTPO obtidos a partir de um
banho composto de 94% de etanol e 6% solução aquosa contendo fosfônico de modo que a
concentração no banho fosse 3,75x10
-4
molL
-1
de EDTPO. O tempo de imersão e o processo
de cura foram os mesmos que para os sistemas TEOS/ácido fosfônico.
II.2.3 Caracterização dos revestimentos
II.2.3.1 Técnicas eletroquímicas
Os experimentos eletroquímicos foram executados na presença de oxigênio dissolvido
e a temperatura ambiente em solução aquosa 0,05 molL
-1
NaCl (pH ~ 6,2). Utilizando a
tradicional célula eletroquímica de três eletrodos: como eletrodo de trabalho foi usado placas
de AA2024-T3 com área exposta de 1 cm
2
, como contra-eletrodo utilizou-se uma tela de
platina e como referência um eletrodo de calomelano saturado (ECS). Os potenciais no texto
são relativos ao ECS.
Curvas amperométricas foram obtidas no potencial de -0,3V(ECS) por 1200s. Os
ensaios de espectroscopia impedância eletroquímica (EIE) foram realizados no potencial de
circuito aberto (PCA), em diferentes condições experimentais, utilizando um aparelho
AUTOLAB-PGSTAT 30. As medidas de impedância foram feitas sob controle
potenciostático com uma amplitude de 10mV e um intervalo de frequências de 100kHz até
10mHz.
II.2.3.2 Técnicas de análise de superfície
Para as análises de superfície as amostras polidas com lixa até granulometria 2500. A
análise da superfície foi realizada através de Microscopia Eletrônica de Varredura e
Espectroscopia de Energia Dispersiva (MEV-EDS). O equipamento utilizado para o MEV-
EDS foi um JEOL-JSM 5800 Scanning Microscope, com tensão de aceleração de 20 kV. As
imagens de MEV apresentadas no trabalho foram obtidas por elétrons retroespalhados e as
placas foram metalizadas com carbono antes da análise.
47
II.2.3.3 Espectroscopia de infravermelho (IV)
As medidas de IV foram realizadas utilizando o equipamento Shimadzu modelo IR-
Prestige-21. O sol foi inserido na cela de seleneto de zinco e espectro foi coletado após 26
varreduras com resolução 4 cm
-1
.
II.2.3.4 Medida de espessura
As medidas de espessura foram realizadas com o equipamento Dual Scope MP 20
Fischer.
48
II.3 Resultados e discussões
II.3 .1 Estudo da liga AA2024-T3 não revestida
II.3.1.1 Caracterização eletroquímica
Os diagramas de Bode e os diagramas de Nyquist para a liga AA2024-T3 imersa em
NaCl 0,05 molL
-1
por 1h, 24h, 48h, 72h, 7dias, 15dias, 30dias e 50dias são mostrados na
Figura 21. A liga nua após 1h de imersão apresenta dois arcos capacitivos bem separados com
máximos em 3,44 Hz e 40,6 mHz. A partir de 24h o arco capacitivo da baixa frequência é
substituído por uma reta difusional. A frequência do máximo da constante de tempo da alta
frequência em 1h é 3,44Hz, em 24h diminui para 2,154 Hz e com o passar do tempo de
imersão é deslocada para frequências ainda menores sendo igual a 1,069Hz em 50 dias. Este
deslocamento para frequências menores aliado com o estreitamento da curva log f x θ sugere
a intensificação dos processos de corrosão, dissolução do alumínio e do magnésio da liga,
como esperado devido à alta agressividade do meio. O ângulo de fase da constante de tempo
da alta frequência tem valor inicial de -68°, -57° após 72h e -50° para 50 dias de imersão,
tendendo a valores menores e próximos de -45°, que caracteriza comportamento difusional.
A constante de tempo da alta frequência relaciona-se com a camada de óxido que
ocorrem na superfície metálica e o comportamento difusional na baixa frequência sugere
impedância de Warburg. Conde e col.
79
atribuem o aparecimento da impedância de Warburg à
formação de caminhos secundários ou descontinuidades dentro do filme de óxido presente na
superfície da liga. A impedância de Warburg (Z
w
) é definida segundo Walter
80
como:
Z
w
= σω
-1/2
(1-j) ( Equação 2)
Onde, σ coeficiente de impedância de Warburg (ohm s
-1/2
) e ω = 2πf (rad s
-1
)
49
-3 -2 -1 0 1 2 3 4 5 6
2.0
2.5
3.0
3.5
4.0
4.5
1h
24h
48h
72h
7 dias
15 dias
30 dias
50 dias
log IZI
log f
-3 -2 -1 0 1 2 3 4 5 6
0.0
0.2
0.4
0.6
0.8
1.0
1.2
1h
24h
48h
72h
7 dias
15 dias
30 dias
50 dias
ângulo
θ
log f
0 5000 10000 15000 20000 25000
0
5000
10000
15000
20000
25000
Z´ (Ohm.cm
2
)
Z (Ohm.cm
2
)
1h
24h
48h
72h
7 dias
15 dias
30 dias
50 dias
0 1500 3000 4500 6000 7500
0
1500
3000
4500
6000
7500
Z´ (Ohm.cm
2
)
Z (Ohm.cm
2
)
24h
48h
72h
7 dias
15 dias
30 dias
50 dias
Figura 21: Diagramas de Bode e Nyquist para a liga AA2024-T3 após () 1h, () 24h, ()
48h, () 72h, () 7 dias, () 15 dias, () 30 dias e () 50 dias de imersão em NaCl 0,05
molL
-1
.
O circuito equivalente usado para simular as dados obtidos após 1h de imersão (Figura
22) baseia-se no modelo proposto por Mansfeld e col.
81
para descrever a resposta de ligas de
alumínio em consequência da corrosão localizada. O autor inclui o fator F como sendo a
fração da superfície onde ocorrem os pites, sendo assim, a constante da alta frequência R
p
(1-
F) CPE
p
(1-F) corresponde ao desempenho da superfície não atacada e a constante da baixa
frequência FR
pit
FCPE
pit
aos defeitos do filme de óxido. Neste trabalho R
AF
representa R
p
(1-F),
CPE
AF
a
CPE
p
(1-F) na alta frequência e na baixa frequência R
BF
é FR
pit
e CPE
BF
é
CPE
pit
, seus
valores estão na Tabela 11. Os valores elevados para R
BF
podem estar relacionados tanto com
a entrada de eletrólito nos pites quanto ao aumento da área efetiva pelo ataque do metal.
50
Figura 22: Circuito elétrico equivalente utilizado para simular os dados experimentais da liga
AA2024 após 1h de imersão em 0,05 molL
-1
NaCl.
Tabela 11: Dados do circuito equivalente para a liga AA2024 após 1h de imersão em NaCl
0,05molL
-1
.
R
1
( cm
2
)
R
AF
(k cm
2
)
CPE
AF
(µF cm
2
)
n
AF
R
BF
(k cm
2
)
CPE
BF
(µF cm
2
)
n
BF
94,2 3,68 117,4 0,89 60,0 236,3 0,94
Quando o grau de ataque da superfície é muito alto pode-se assumir F=1, desta forma,
para simular os dados experimentais dos demais tempos de imersão utilizou o circuito elétrico
R
1
(CPE[R
2
W]) (Figura 23), proposto por Conde e colaboradores,
79
, onde R
1
é a resistência
da solução, R
2
resistência à transferência de carga e CPE a capacitância da dupla camada
elétrica e W a impedância de Warburg. Os valores obtidos na simulação são apresentados na
Tabela 12.
Figura 23: Circuito elétrico equivalente utilizado para simular os dados experimentais da liga
AA2024 após 24h de imersão em 0,05 molL
-1
NaCl.
51
Tabela 12: Dados do circuito equivalente para a liga AA2024-T3 após 24h, 48h, 72h,7dias,
15dias, 30dias e 50dias de imersão em NaCl 0,05molL
-1
.
R
1
(.cm
2
)
R
2
(k.cm
2
)
CPE
1
(µF.cm
2
)
n
1
24h 102,1 1,92 176,5 0,86
48h 103,6 1,75 228,0 0,84
72h 95,2 1,98 213,5 0,86
7 dias 110,7 1,70 328,7 0,84
15 dias 112,7 1,95 304,5 0,82
30 dias 107,2 2,38 373,3 0,82
50 dias 111,6 1,55 376,6 0,82
Com aumento do tempo de imersão os valores de resistência mostram pequenas
oscilações, a capacitância aumenta de 176,5 µF cm
2
em 24h para 376,6 µF cm
2
em 50dias e a
impedância de Warburg
diminui. Este comportamento sugere que os produtos de corrosão, os
quais predominam na superfície da liga após a imersão, como mostrado nas imagens obtidas
por MEV a seguir, não propiciam uma efetiva barreira contra a entrada de eletrólito e a
difusão das espécies. Conforme mencionado, a corrosão da liga é intensa nas condições
testadas e pode ser atribuída ao ataque da camada de óxido.
82
II.3.1.2 Caracterização da superfície
Nas imagens obtidas por MEV (Figura 24a) da liga AA2024 são nítidas as ranhuras do
polimento mecânico. Os pontos brancos da Figura 24a correspondem aos intermetálicos Al-
Fe-Mn-Cu como detectado por EDS (Figura 24b). Após 48h de imersão (Figura 25a) surgem
muitos pontos escuros. Com uma maior magnificação (Figura 25b) pode-se constatar que
duas regiões distintas em uma grumos de formato irregular e aspecto craqueado, e de
acordo com os resultados de EDS (ponto 1), estes são compostos de Al, Cu, O, Mg e Cl,
sugerindo tratar-se dos produtos de corrosão da liga. A outra região bem escura,
possivelmente, trata-se dos pites, de composição Al, Mg e Cu (ponto 4). Os produtos de
52
corrosão e os pites, predominam na superfície da liga, mostrando que a corrosão é intensa
após apenas 48h de imersão em 0,05 molL
-1
NaCl, sendo constatada visualmente.
(a)
Pontos brancos
(b)
Figura 24: Microscopia eletrônica de varredura e espectroscopia de energia dispersiva da liga
AA2024 antes da imersão em solução de NaCl.
(a)
Ponto 1
(b)
Ponto 4
Figura 25: Microscopia eletrônica de varredura e espectroscopia de energia dispersiva da liga
AA2024 após 48h de imersão em NaCl 0,05molL
-1
.
53
II.3.2 Efeito do pré-tratamento da liga na deposição de TEOS/acido fosfônico
Quatro pré-tratamentos foram avaliados a fim de obter o melhor desempenho dos
filmes TEOS/ácidos fosfônicos com a superfície da liga AA2024-T3. Neste estudo os corpos
de prova foram submetidos aos pré-tratamentos A, B, C e D e após imersos no banho
TEOS/5x10
-4
ATMP e curados. A liga revestida com estes quatro tipos de revestimentos foi
caracterizada através de testes eletroquímicos (EIE e cronoamperometria) e de cnicas de
superfície (MEV/EDS).
II.3.2.1 Caracterização eletroquímica
A evolução do comportamento eletroquímico da liga revestida com TEOS/5x10
-
4
ATMP após os quatro pré-tratamentos foi realizada através de EIS.
Os diagramas de Bode da liga revestida com os filmes aacTN4, aacnTN4 e nTN4 para
1h, 24h, 48h, 72h, 7 dias, 15 dias são apresentados na Figura 26 e para 30 dias e 50 dias na
Figura 27. Uma diferença intensa pode ser observada entre eles, visto que o módulo de
impedância total (Z
t
) é mais de 1,0 ordem de grandeza maior para o filme aacTN4 até 72h
e após 7 dias, pelo menos, meia ordem de grandeza maior quando comparado aos filmes
nTN4 e aacnTN4.
54
-2 0 2 4
2.0
2.5
3.0
3.5
4.0
4.5
5.0
5.5
(a)
- ângulo de fase (
θ
)
log |Z| (Ohm.cm
2
)
log f (Hz)
0
10
20
30
40
50
60
70
80
-2 0 2 4
2.0
2.5
3.0
3.5
4.0
4.5
5.0
5.5
(b)
- ângulo de fase (θ)
log |Z| (Ohm cm
2
)
log f (Hz)
0
10
20
30
40
50
60
70
-2 0 2 4
2.0
2.5
3.0
3.5
4.0
4.5
5.0
- ângulo de fase (
θ
)
log |Z| (Ohm cm
2
)
log f (Hz)
0
10
20
30
40
50
60
70
(c)
-2 0 2 4 6
2.0
2.5
3.0
3.5
4.0
4.5
(d)
- ângulo de fase (
θ
)
log |Z| (Ohm cm
2
)
log f (Hz)
0
10
20
30
40
50
60
70
-2 0 2 4
2.0
2.5
3.0
3.5
4.0
4.5
(e)
- ângulo de fase (
θ
)
log |Z| (Ohm cm
2
)
log f (Hz)
0
10
20
30
40
50
60
-2 0 2 4
2.0
2.5
3.0
3.5
4.0
4.5
- ângulo de fase (
θ
)
log |Z| (Ohm cm
2
)
log f (Hz)
0
10
20
30
40
50
60
70
(f)
Figura 26: Diagramas de Bode para a liga AA2024-T3 com os filmes aacTN4(),
aacnTN4(), nTN4() após 1h (a), 24h (b), 48h (c), 72h (d), 7 dias(e) e 15 dias (f) de
imersão em NaCl 0,05molL
-1
.
55
-2 0 2 4
2.0
2.5
3.0
3.5
4.0
- ângulo de fase θ
log |Z| (Ohm cm
2
)
log f (Hz)
0
10
20
30
40
50
60
(a)
-2 0 2 4
2.0
2.5
3.0
3.5
4.0
- ângulo de fase (
θ
)
log |Z| (Ohm cm
2
)
log f (Hz)
0
10
20
30
40
50
60
(b)
Figura 27: Diagramas de Bode para a liga AA2024-T3 com os filmes aacTN4(),
aacnTN4(), nTN4() após 30dias(a) e 50dias(b) de imersão em NaCl 0,05molL
-1
.
.
Após 1h de imersão o Diagrama de Bode dos corpos-de-prova da AA2024-T3 como
filme nTN4 (Figura 26a) apresenta uma constante de tempo centrada em 5Hz. Apesar da
dispersão, nota-se uma mudança nas curvas de logZ e do ângulo de fase em 0,1Hz
indicando o surgimento de outro processo de relaxação, provavelmente, associado com a
corrosão do substrato. O espectro da liga com filmes aacnTN4, assim como com o filme
nTN4, possui um estreito perfil da curva do ângulo de fase x log f. Neste tempo de imersão o
revestimento da liga com aacTN4 produz um espectro com o perfil do ângulo de fase bem
alargado compreendendo as frequências entre 1kHz e 100mHz, característico de filmes
adsorvidos sobre o metal. Nas menores frequências a dispersão inviabiliza uma interpretação
precisa, mas parece que não há o aparecimento de uma nova constante de tempo.
Os diagramas de Bode dos filmes nTN4 e aacnTN4 apresentam pelo menos duas
constantes de tempo bem definidas a partir de 24h (Figura 24b-f e Figura 27). A constante de
tempo da alta frequência (2 Hz) pode ser relacionada com a presença de um filme na
superfície da liga, enquanto que a baixas frequências pode ser relacionada com o processo de
corrosão do metal devido aos poros e defeitos do revestimento que permitem a entrada de
água e eletrólito, como reportados por Tamborim e colaboradores
76
e por Hu e
colaboradores.
72
As curvas do ângulo de fase (Figura 26a-c) para o filme aacTN4 até 48h de imersão
são mais alargadas no intervalo de frequência (~ 10kHz até ~ 100mHz) do que as curvas para
nTN4 e aacnTN4 (~100Hz até ~100mHz) indicando a sobreposição de duas constantes de
56
tempo na alta e média freqüência. Em 72 h e 7 dias (Figura 26e e 26f) o desacoplamento
destas constantes e com um máximo do ângulo de fase em torno de 15° a 3kHz , o qual
pode estar relacionado à degradação do revestimento de silano com o aparecimento de poros
que permitem a entrada de eletrólito, justificando este comportamento resistivo. A separação
desta constante de tempo da alta frequência não é visualizada nos diagramas de Nyquist
(Anexo1).
Após 15 dias os diagramas de Bode para o filme aacTN4 (Figura 26f e Figura 27),
exibem um estreitamento da curva do ângulo θ na alta e média frequência e perfil muito
semelhante aos filmes aacnTN4 e nTN4. Com uma constante de tempo na alta frequência em
torno de 2Hz e outra na baixa freqüência, relacionadas aos processos descritos acima para os
outros dois revestimentos.
A segunda constante de tempo para aacnTN4 inicia em 81,9mHz de 24h até 50 dias,
indicando queo há alteração na cinética do processo de corrosão. Para nTN4 é mais
complexo iniciando em 64,8mHz para 24h, 48h e 72h, em 51,3mHz para 7 e 15 dias e a partir
de 30 dias em 64,8mHz. De forma geral, a segunda constante de tempo inicia em frequências
um pouco menores a partir de 24h para o filme submetido apenas ao tratamento alcalino,
sugerindo um pequeno retardo no processo de corrosão,
83
indicando um filme mais protetor.
Isto também foi constatado com os valores obtidos na simulação a seguir. A constante de
tempo da baixa frequência para o filme aacTN4 começa em 40,6mHz para 24h e a partir de
48h tem início na mesma frequência que o filme nTN4.
Nos tempos iniciais de imersão até 72h o ângulo de fase da constante de tempo da alta
frequência para os filmes aacTN4, nTN4 e aacnTN4 (Figura 26 a-d) é em torno de -65º, -55º e
-60º, respectivamente. Tais resultados podem indicar uma redução do controle difusional para
os filmes accTN4 em comparação aos demais. uma diminuição progressiva do ângulo de
fase para o filme aacTN4 atingindo o valor de -60° após 15 dias. A mesma tendência ocorre
para os filmes nTN4 e aacnTN4. Após 30 dias todos os filmes apresentam ângulo de fase
próximo a -55º.
O polimento mecânico sem posterior tratamento químico também foi testado como
pré-tratamento para a deposição do revestimento. Na Figura 28 são apresentados os
Diagramas de Bode e de Nyquist para 1h, 48h e 15 dias para a liga revestida com MPTN4,
aacTN4, aacnTN4 e nTN4. Apesar da alta dispersão dos espectros para o filme MPTN4,
percebe-se que o módulo da impedância total (
Z
t
) para este filme em 1h é próximo do
filme aacTN4, mas a partir de 24h (dados não mostrados) assume menores valores, sendo em
57
15 dias semelhante ao dos filmes aacnTN4 e nTN4. Além disso, o ângulo θ da alta frequência
diminui significativamente, após 15 dias ( θ≅ - 40°), caracterizando um filme extremamente
poroso, evidenciando menores níveis de proteção em comparação com o filme aacTN4.
Optou-se em não realizar a simulação para este pré-tratamento, pois não seria garantida a
confiabilidade dos resultados, uma vez que, não foi possível a análise direta dos espectros
devido à alta dispersão na baixa freqüência, que inviabiliza a retirada de dos parâmetros (R e
CPE).
58
-2 0 2 4
2.0
2.5
3.0
3.5
4.0
4.5
5.0
5.5
6.0
6.5
- ângulo de fase (
θ
)
log |Z| (Ohm cm
2
)
log f (Hz)
0
10
20
30
40
50
60
70
80
90
1h
0 70000 140000 210000 280000 350000
0
70000
140000
210000
280000
350000
1h
- Z'' (Ohm cm
2
)
Z'(O hm cm
2
)
-2 0 2 4
2.0
2.5
3.0
3.5
4.0
4.5
5.0
- ângulo de fase (
θ
)
log |Z| (Ohm cm
2
)
log f (Hz)
0
10
20
30
40
50
60
70
48h
0 20000 40000 60000 80000 100000
0
20000
40000
60000
80000
100000
48h
- Z'' (Ohm cm
2
)
Z' (Ohm cm
2
)
-2 0 2 4
2.0
2.5
3.0
3.5
4.0
4.5
- ângulo de fase (
θ
)
log |Z| (Ohm cm
2
)
log f (Hz)
0
10
20
30
40
50
60
15 dias
0 20 00 4000 6000 8000 10000
0
2000
4000
6000
8000
10000
15 dias
- Z'' (Ohm cm
2
)
Z' (Ohm cm
2
)
Figura 28: Diagramas de Bode e de Nyquist para a liga AA2024-T3 com revestimentos
MPTN4(), aacTN4(), aacnTN4(), nTN4() após 1h, 48h e 15 dias de imersão em NaCl
0,05molL
-1
.
59
A partir de 24h para os revestimentos nTN4 e aacnTN4 não houve mudança no
processo de corrosão e os dados obtidos foram simulados utilizando o circuito equivalente
R
s
(CPE
AF
[R
AF
(R
BF
CPE
BF
)]), onde R
s
é a resistência da solução, CPE
AF
e R
AF
é a capacitância
e a resistência da interface filme/solução, respectivamente, R
BF
e CPE
BF
resistência e
capacitância dos processos de corrosão, conforme o trabalho de Metroke et.al. Na simulação
para metais pintados este circuito é frequentemente empregado.
80
O uso de CPE permite
melhor ajuste dos dados experimentais quando comparado a modelos similares usando puros
capacitores.
4
O programa utilizado na simulação não consegue separar sem grandes erros três
constantes de tempo até 7 dias para os filmes aacTN4. Desta forma e para facilitar a
interpretação dos resultados todos os filmes foram simulados com o mesmo circuito após 24h.
Na Figura 29 é apresentado o circuito equivalente usado para analisar os dados experimentais
das amostras aacTN4, nTN4 e aacnTN4.
Figura 29: Circuito elétrico equivalente usado para analisar os dados experimentais das
amostras aacTN4, nTN4 e aacnTN4 a partir de 24h de imersão.
O ajuste dos dados experimentais de EIE a partir de 24h para a liga com os filmes
nTN4, aacnTN4 e aacTN4 encontra-se na Tabelas 13, 14 e 15, respectivamente.
60
Tabela 13: Dados ajustados a partir do circuito equivalente (Figura 29) para as medidas de
EIE da liga AA2024 com o filme nTN4 após 24h de imersão em NaCl 0,05molL
-1
.
R
1
( cm
2
)
R
AF
(k cm
2
)
CPE
AF
(µF cm
-2
)
n
AF
τ
AF
(s)
R
BF
(k cm
2
)
CPE
BF
(mF cm
-2
)
n
BF
τ
BF
(s)
24h
98,0 3,90 326,4 0,79 1,27 15,0 1,04 0,66
15,6
48h
103,5 3,09 249,3 0,84 0,77 7,37 2,65 0,77
19,5
72h
95,4 2,67 290,1 0,82 0,77 4,08 3,35 0,86
13,7
7 dias
95,2 3,14 247,9 0,83 0,78 4,50 3,67 0,96
16,5
15 dias
101,2 3,01 273,1 0,85 0,82 4,43 4,74 0,89
19,8
30 dias
90,0 2,11 264,8 0,86 0,56 4,54 6,21 0,95
28,1
50 dias
103,4 2,5 322,1 0,85 0,80 3,72 6,01 0,65
22,3
Tabela 14: Dados ajustados a partir do circuito equivalente (Figura 29) para as medidas de
EIE da liga AA2024 com o filme aacnTN4 após 24h de imersão em NaCl 0,05 molL
-1
.
R
1
( cm
2
)
R
AF
(k cm
2
)
CPE
AF
(µF cm
-2
)
n
AF
τ
AF
(s)
R
BF
(k cm
2
)
CPE
BF
(mF cm
-2
)
n
BF
τ
BF
(s)
24h
102,4 3,24 222,8 0,82 0,72 8,53 1,69 0,82 14,4
48h
108,0 3,13 203,3 0,87 0,64 5,07 3,66 0,83 18,5
72h
101,1 2,81 201,7 0,89 0,57 4,96 4,09 0,81 20,3
7 dias
92,1 3,60 180,9 0,79 0,65 8,25 3,91 0,89 32,2
15 dias
100,6 3,06 327,8 0,85 0,55 4,82 3,16 0,89 15,2
30 dias
82,4 1,81 454,0 0,84 0,82 2,78 4,21 0,79 11,7
50 dias
101,1 1,49 683,7 0,85 1,02 2,50 4,82 0,62 12,0
61
Tabela 15: Dados ajustados a partir do circuito equivalente (Figura 29) para as medidas de
EIE da liga AA2024 com o filme aacTN4 após 24h de imersão em NaCl 0,05molL
-1
.
R
1
( cm
2
)
R
AF
(k cm
2
)
CPE
AF
(µF cm
-2
)
n
AF
τ
AF
(s)
R
BF
(k cm
2
)
CPE
BF
(mF cm
-2
)
n
BF
τ
BF
(s)
24h
115,7 115,3 13,3 0,74 1,53 112,3 0,102 0,79 11,4
48h
104,1 81,4 16,2 0,70 1,32 192,9 0,094 0,89 18,1
72h
113,0 25,99 42,81 0,74 1,11 84,9 0,248 0,93 21,0
7 dias
103,3 13,05 75,0 0,71 0,98 32,1 0,435 0,69 13,9
15 dias
100,7 7,33 145,4 0,78 1,07 22,4 0,475 0,79 10,6
30 dias
91,1 4,32 236,4 0,73 1,02 15,7 0,916 0,85 14,4
50 dias
98,0 4,47 347,0 0,75 1,55 39,1 0,581 0,71 22,7
Para facilitar a visualização os dados de resistência e capacitância obtidos nas
simulações foram plotados em função do tempo de imersão (Figura 30). Na Figura 31 é
mostrada a evolução das resistências para os filmes aacnTN4 e nTN4 com tempo de imersão,
uma vez que os elevados valores de resistência para a liga com o filme aacTN4 frente aos
demais não são nítidas as transformações com a exposição ao meio agressivo para estes filmes
(Figura 30a e 30c).
62
0 200 400 600 800 1000 1200
0
20
40
60
80
100
120
resistência da AF
R
AF
(kOhm.cm
2
)
tempo (h)
0 200 400 600 800 1000 1200
0
100
200
300
400
500
600
700
capacitância da AF
CPE
AF
(
µ
Fcm
-2
)
tempo (h)
0 200 400 600 800 1000 1200
0
20
40
60
80
100
120
140
160
180
200
resisncia da BF
R
BF
(kOhm.cm
2
)
tempo (h)
0 200 400 600 800 1000 1200
0
1
2
3
4
5
6
7
capacitância da BF
CPE
BF
(mFcm
-2
)
tempo (h)
Figura 30: Evolução das capacitâncias e das resistências da alta e da baixa frequência para o
filmes aacTN4() aacnTN4 () e nTN4 () com tempo de imersão em NaCl 0,05mol.L
-1
.
0 200 400 600 800 1000 1200
1.5
2.0
2.5
3.0
3.5
4.0
Resisncia da AF
R
AF
(kOhmcm
2
)
tempo (h)
0 200 400 600 800 1000 1200
2
4
6
8
10
12
14
16
Resistência da BF
R
BF
(kOhmcm
2
)
tempo (h)
Figura 31: Evolução das resistências da alta e baixa frequência para o filmes aacnTN4 () e
nTN4 () com tempo de imersão em NaCl 0,05mol.L
-1
.
63
O valor de R
AF
para a liga revestida com nTN4 decresce de 3,90 kOhm cm
2
em 24h
para 2,67 kOhm cm
2
em 72h. Em 168h um aumento da resistência (3,14 kOhm cm
2
),
provavelmente, devido ao bloqueio dos poros pelos produtos de corrosão como descrito em
trabalhos prévios,
10,62,77
voltando a decrescer a partir de 720h. A mesma tendência ocorre para
os filmes aacnTN4, os valores são semelhantes aos do filme nTN4 até 72h, em 168h um
máximo de 3,60 kOhm cm
2
é atingindo, retornando para 3,06 kOhm cm
2
em 15 dias. Os
valores obtidos para estes filmes são ligeiramente maiores à R
AF
da liga nua, entretanto a
melhora não é significante. Para o filme aacTN4 o valor de R
AF
é cerca de trinta vezes maior
do que os filmes com tratamento alcalino até 48h, em 7dias decresce para 25,99 kOhm cm
2
e
13,05 kOhm cm
2
em 15dias, valores ainda elevados em relação aos outros filmes. A R
AF
continua diminuindo, em 30 dias e 50dias alcançando 4,32 e 4,47 kOhm cm
2
,
respectivamente, duas vezes superior aos filmes pré-tratados com NaOH. Como R
AF
descreve
a resistência do revestimento a penetração de água e/ou eletrólito,
4
o decréscimo dos seus
valores com tempo de imersão revela a degradação dos três filmes de silano.
A capacitância da alta frequência para a liga com a camada nTN4 diminui de 326,4 µF
cm
-2
para 290,1 µF cm
-2
em 72h e para 247,9 µF cm
-2
em 7 dias tornando a atingir maiores
valores em 15 dias, decrescendo em 30 dias e aumentando em 50 dias. Após 24h a CPE
AF
da
liga com o filme aacnTN4 é 222,8 µF cm
-2
decaindo até 7 dias (180,9 µF cm
-2
), crescendo
a partir de 15 dias. Os valores para estes dois revestimentos apesar de oscilarem são todos
elevados, semelhantes ao da capacitância da alta frequência para a liga nua. A CPE
AF
do filme
aacTN4 depois de 24h é 13,3 µF cm
-2
, aumentando com o tempo de imersão, e, após 15 dias
de imersão é 145,4 3 µF cm
-2
Portanto, somente após 30dias a capacitância assume um valor
semelhante ao verificado para os demais filmes nos estágios iniciais de imersão. Este aumento
com o tempo e exposição à solução de cloreto, pode ser associado com a entrada de água no
filme de silano.
10,77
Os menores valores encontrados para a liga com aacTN4 revelam a
formação de um filme mais protetor.
Os filmes de aacTN4 apresentam melhores valores de resistência e capacitância na alta
frequência em todos os tempo estudados, com uma diferença mais pronunciada até 15 dias.
Os valores da R
BF
para a liga com os três revestimentos exibem um decréscimo com o
tempo de imersão, sugerindo aumento do processo de corrosão da liga AA2024-T3.
10,77
Para
os filmes aacnTN4 e nTN4 desde o início os valores desta resistência são baixos em torno de
4 kOhm cm
2
a partir de 72h para nTN4 e menores ainda para aacnTN4, para os quais em 50
dias R
BF
é apenas 1,49 kOhm cm
2
. A R
BF
para os filmes aacTN4 é 112,3 kOhm cm
2
em 24h,
64
diminuindo com o tempo de exposição, após 72h é 32,1 kOhm cm
2
. A maior magnitude da
R
BF
para a liga com a camada de aacTN4 indica maior resistência à corrosão frente à liga
revestida após tratamento alcalino.
A tendência geral é o aumento do valor de CPE
BF
para os três revestimentos indicando
que o processo de corrosão ocorre continuamente no meio de cloreto. Entretanto, a CPE
BF
da
liga com o filme de aacTN4 é cerca de uma ordem de grandeza menor nos tempos de
exposição estudados do que para os outros dois revestimentos, mais um indício da melhor
performance anticorrosiva deste filme.
O desempenho na proteção à corrosão inferior dos filmes com pré-tratamento alcalino,
está em desacordo com o resultado reportado por Frignani e colaboradores.
6
Os autores
reportam que este tratamento aumenta a concentração de hidroxilas na superfície do alumínio,
e dessa forma, mais ligações metalo-siloxano são formadas, produzindo um filme mais
protetor. O comportamento observado no presente trabalho pode ser atribuído ao fato dos
íons hidróxidos da solução 0,5 molL
-1
NaOH (pH 12,0) reagirem com óxido de alumínio
formando o íon aluminato
2
, de acordo com as reação:
Al
2
O
3
+ 2OH
-
2 AlO
2
-
+ H
2
O (Reação 5)
Conforme Beccaria et.al
84
a proteção à corrosão ocorre devido a um efeito sinérgico
entre o óxido de alumínio e o filme de silano, assim a dissolução do óxido de alumínio obtida
com o pré-tratamento alcalino faz com que eficiência de proteção à corrosão seja diminuída.
Considerando a presença dos elementos de liga Cu e Mg, sabe-se que para o Mg a
partir do pH 11,5 a superfície metálica é recoberta hidróxido de magnésio Mg(OH)
2
85
. Este
pré-tratamento enriquece a superfície em cobre, acentuando a corrosão galvânica da liga.
O cobre é altamente suscetível ao ácido acético,
86,87,88
sendo dissolvido
preferencialmente durante o pré-tratamento com Hac. A partir dos dados de EDS verificou-se
que ocorre uma diminuição da quantidade de Cu na superfície metálica em torno de 20%, para
liga pré-tratada com ácido acético em relação a liga somente lixada. O desempenho superior
do pré-tratamento com ácido acético frente aos demais se deve, possivelmente, a dois fatores:
(a) o processo de corrosão galvânica é reduzido com a diminuição de partículas mais
nobres na superfície da liga,
89
ou seja, a menor razão catodo-anodo desacelera a corrosão
galvânica.
65
(b) a menor tendência à formação hidróxido na superfície do cobre. A dissolução do
Cu promove um enriquecimento superficial de Al e Mg os quais podem se apresentar na
forma de hidróxidos favorecendo a formação da ligação metalosiloxano e metal-fosfônico.
Na Figura 32 é apresentado a cronoamperometria no potencial anódico de -0,3V para a
liga AA2024-T3 e com os filmes aacTN4, aacnTN4 e nTN4, cujo potencial de corrosão no
início do ensaio foi -0,630; -0,612V; -0,619V e -0,703V, respectivamente. Os resultados da
cronoamperometria confirmam que a liga com o filme aacTN4 apresenta melhor desempenho
anticorrosivo, uma vez que a corrente é três vezes menor em relação à liga nua e ao filme
nTN4 e duas vezes menor que o filme aacnTN4. A corrente atinge o patamar em poucos
segundos para a liga com o filme nTN4, evidenciando o baixo nível de proteção deste
revestimento. A diminuição das correntes anódicas deve-se a barreira física do filme de silano
que reduz a área ativo da liga e a ação dos ácidos fosfônicos.
0 200 400 600 800 1000 1200
0.0
5.0x10
-4
1.0x10
-3
1.5x10
-3
2.0x10
-3
2.5x10
-3
3.0x10
-3
nTN4
aacTN4
aacnTN4
liga nua
j (A.cm
-2
)
tempo (s)
Figura 32: Cronoamperometria aplicando o potencial anódico -0,3V(ECS) para a liga
AA2024-T3 e com os filmes aacTN4, aacnTN4 e nTN4 após 24h de imersão em 0,05molL
-1
NaCl.
66
II.3.2.2 Caracterização da superfície
Nas imagens obtidas por microscopia eletrônica de varredura da liga com o
revestimento aacTN4 é possível identificar as ranhuras do polimento mecânico e a presença
de grumos (Figura 33(a)). No espectro de EDS foi identificado apenas Al,Cu e Mg. Com a
magnificação de 900 vezes, (Figura 33(b)) percebe-se que os grumos têm formato irregular e
nas análises de EDS foi verificada a presença de Al, Cu, O, Si e P com percentagem mássica
de Si 70,51% e de P 1,15%. Os pontos brancos (ponto 2) assim como na liga nua
correspondem aos intermetálicos Al-Cu-Mn-Fe e apresentam pequena quantidade de Si
2,60%, maior que a concentração nomimal de Si da liga, em torno de 0,5%, e 0,48% de P.
No ponto 3 não foi detectado silício, e a concentração de P é baixa igual a 0,17%, valor acima
da estimativa de erro, sugerindo que os ácidos fosfônicos podem se ligar e/ou adsorver ao
substrato metálico independente da presença de TEOS. Filmes não uniformes concordam
com os resultados eletroquímicos, onde mostram ser eficientes até 15 dias e podem ser
resultado da baixa concentração de silano utilizada
36
e conforme Hu e colaboradores
73
a
complexa composição dos intermetálicos na liga AA2024 pode impedir a formação de um
filme sol-gel uniforme.
(a)
(b)
Figura 33: Microscopia eletrônica de varredura para a liga AA2024 com o filme aacTN4
antes da imersão.
As micrografias das amostras nTN4 e aacnTN4 (Figura 34 (a) e (b) ) mostram uma
camada craqueada. No espectro geral de EDS alta percentagem de Si 44,25% para nTN4 e
67
35,38% para aacnTN4 foi detectada, maior percentagem em relação ao aacTN4. Conforme
reportado por Frignani e colaboradores
6
o tratamento com NaOH propicia o aumento da
concentração superficial de hidroxilas, dessa forma, mais ligações metalo-siloxano são
formadas contribuindo na formação de um filme mais uniforme e protetor. Entretanto neste
trabalho o tratamento com NaOH é deletério no desempenho anticorrosivo do filme, fato
relacionado com as rachaduras destes revestimentos, as quais tornam-se zonas preferenciais
para o ataque dos íons cloreto e como mencionado anteriormente com a dissolução do óxido
de alumínio.
(a)
(b)
Figura 34: Microscopia eletrônica de varredura para a liga AA2024 com o filmes nTN4 (a)
aacnTN4 (b) antes da imersão.
As imagens obtidas por MEV da liga com os três revestimentos após 48h de imersão
em 0,05mol.L
-1
NaCl são apresentadas na Figura 35. Na Figura 35(a) do revestimento
aacTN4 após 48h de imersão os grumos que antes da imersão apresentavam elevadas
concentrações de Si continuam presentes. A composição de um destes grumos é apresentada
na Tabela 16, onde se constata que a concentração de Si é ainda elevada, mas a adsorção
de Cl nesta área, indo ao encontro dos resultados eletroquímicos que mostram a diminuição
da resistência com o tempo de imersão. Após 48h de imersão os filmes com tratamento
alcalino (Figura 35 (b) e (c)) parecem estar inchados, ou seja, houve penetração de água e são
visíveis áreas delaminadas. O filme aacnTN4 mostra nas análises de EDS (Tabela 17) uma
diminuição da concentração de Si inicial do revestimento (ponto 2), exibindo nódulos (ponto
1) não presentes antes da imersão compostos de Al, Cu, Mg, Mn, O, Si e P. As análises de
EDS para nTN4 (Tabela 18) revelam que, provavalmente, o ponto 1 trata-se de produto de
68
corrosão sob o filme, sendo detectado Si e P, que o ponto 2 correspondente a liga sem
revestimento, ou seja, uma área delaminada. O ponto 3 representa as áreas com revestimento,
a concentração de Si diminui em relação as análises antes da imersão, sugerindo a dissolução
do revestimento.
(a)
(b)
(c)
Figura 35: Microscopia de varredura para a liga AA2024 com o filme aacTN4(a) aacnTN4
(b) e nTN4 (c) após 48h de imersão em 0,05mol.L
-1
NaCl.
69
Tabela 16: Concentração superficial de elementos estimada por EDS em percentagem
mássica para a liga AA2024 com o revestimento aacTN4.
O Al Si P Cl Cu
Ponto 1 32.50 11.61 42.84 0.24 12.21 0.59
Tabela 17: Concentração superficial de elementos estimada por EDS em percentagem
mássica para a liga AA2024 com o revestimento aacnTN4.
O Mg Al Si P Mn Cu
Ponto 1 26.28 4.23 48.20 4.43 11.44 5.43
Ponto 2 6.63 5.91 69.17 9.20 0.19 1.21 7.68
Tabela 18: Concentração superficial de elementos estimada por EDS em percentagem
mássica para a liga AA2024 com o revestimento nTN4.
O Mg Al Si P Cl Mn Cu
Ponto 1 34.64 3.93 53.89 3.02 0.84 3.00 0.68
Ponto 2 6.29 88.86 4.86
Ponto 3 7.73 4.98 67.89 10.05 0.41 1.35 7.59
Conclusão parcial
O pré-tratamento com ácido acético mostrou-se o mais eficiente até 15 dias de
exposição e foi escolhido para ser usado na avaliação do comportamento corrosivo dos
revestimentos. Após 30 dias com o domínio da corrosão metálica não se tem grande diferença
entre os pré-tratamentos.
70
II.3.3 Efeito da concentração de ATMP no desempenho dos revestimentos
TEOS/ATMP
Três concentrações de ATMP (5,00x10
-5
, 5,00x10
-4
e 5,00x10
-3
mol L
-1
) foram
incorporadas a matriz de TEOS, sendo formados os filmes aacTN5, aacTN4 e aacTN3 sobre a
liga AA2024-T3 após o pré-tratamento com ácido acético.
II.3.3.1 Caracterização eletroquímica
O comportamento corrosivo da liga AA2024-T3 revestida com os filmes de
TEOS/ATMP foi monitorado através de EIE em função do tempo de imersão em solução
aerada de 0,05mol.L
-1
NaCl. Os diagramas de Bode para a liga com os revestimentos aacTN5,
aacTN4 e aacTN3 após 1h e 24h encontram-se na Figura 36 e após 48h, 72h, 7 dias, 15 dias e
30 dias na Figura 37. Observa-se a partir dos Diagramasas de Bode um significativo aumento
do nível de proteção com os filmes aacTN4, que possuem os maiores valores de impedância a
partir de 24h.
-2 0 2 4
1.5
2.0
2.5
3.0
3.5
4.0
4.5
5.0
5.5
- ângulo de fase (θ)
log |Z| (Ohm cm
2
)
log f (Hz)
0
10
20
30
40
50
60
70
80
-2 0 2 4
1.5
2.0
2.5
3.0
3.5
4.0
4.5
5.0
5.5
- ângulo de fase (
θ
)
log |Z| (Ohm cm
2
)
log f (Hz)
0
10
20
30
40
50
60
70
(b)
Figura 36: Diagramas de Bode para a liga AA2024 com os filmes aacTN5 (), aacTN4 () e
aacTN3() após 1h (a) e 24h (b) de imersão em 0,05molL
-1
NaCl.
71
-2 0 2 4
1.5
2.0
2.5
3.0
3.5
4.0
4.5
5.0
5.5
- ângulo de fase (θ)
log |Z| (Ohm cm
2
)
log f (Hz)
0
10
20
30
40
50
60
70
(a)
-2 0 2 4
1.5
2.0
2.5
3.0
3.5
4.0
4.5
- ângulo de fase (
θ
)
log |Z| (Ohm cm
2
)
log f (Hz)
0
10
20
30
40
50
60
70
(b)
-2 0 2 4
1.5
2.0
2.5
3.0
3.5
4.0
4.5
- ângulo de fase (θ)
log |Z| (Ohm cm
2
)
log f (Hz)
0
10
20
30
40
50
60
70
(c)
-2 0 2 4
1.5
2.0
2.5
3.0
3.5
4.0
4.5
- ângulo de fase (θ)
log |Z| (Ohm cm
2
)
log f (Hz)
0
10
20
30
40
50
60
70
(d)
-2 0 2 4
2.0
2.5
3.0
3.5
4.0
- ângulo de fase (
θ
)
log |Z| (Ohm cm
2
)
log f (Hz)
0
10
20
30
40
50
60
(e)
Figura 37: Diagramas de Bode para a liga AA2024 com os filmes aacTN5 (), aacTN4 () e
aacTN3 () após 48h (a), 72h (b), 7 dias (c), 15 dias (d) e 30dias (e) de imersão em
0,05molL
-1
NaCl.
72
Em 1h de imersão os espectros dos filmes aacTN4 e aacTN5 apresentam valor de
módulo de impedância total praticamente igual, perfil da curva do ângulo de fase abrangendo
uma ampla faixa de frequência (10 kHz-10 mHz) e dispersão na baixa freqüência. Para este
tempo de exposição em solução de NaCl os filmes aacTN3 apresentam uma constante de
tempo da alta frequência (5kHz) com θ
máx
de -20°, revelando tratar-se de um filme poroso e
outra na média (10Hz), na baixa frequência a partir 0,05 Hz indícios de comportamento
indutivo.
É possível perceber através da análise dos espectros após 24h que o comportamento da
liga com os filmes aacTN5 e aacTN3 é muito semelhante, revelando a presença de duas
constantes de tempo. O processo de relaxação em altas frequências, isto é, superiores a 2Hz,
foi associado com o filme de TEOS/ATMP sobre a superfície metálica, ao passo que, a
constante de tempo da baixa frequência representa a interface metal/solução, indicando que o
filme apresenta defeitos, que acarretam no contato do metal como eletrólito. O início da
segunda constante de tempo após 1 dia e nos outros tempos para a liga AA2024-T3 com os
filmes aacTN5 e aacTN3 é em 64,8mHz, com exceção de 7 dias que ocorre em 81,9mHz.
Estas frequências são semelhantes as do filme aacTN4, não evidenciando retardo na
velocidade das reações na interface metal/revestimento com relação à concentração de
ATMP.
O ângulo de fase máximo para a constante de tempo da alta frequência é praticamente
constante em torno de -63° para o filme aacTN5. Enquanto que para o revestimento com alta
concentração de ATMP os valores são oscilatórios, para 24h é -50°, entre 48h e 15 dias é
cerca de -57°, voltando a cair em 30 dias para -47° e no último tempo avaliado é -63°. Estes
resultados sugerem que o filme com menor concentração de ATMP apresenta um
comportamento com característica menos difusional que com a maior concentração de
ATMP.
No ajuste dos dados obtidos para os filmes aacTN5 e aacTN3 será usado o mesmo
circuito equivalente mostrado na Figura 29, as atribuições para os produtos RQ continuam
válidas. Os valores dos parâmetros obtidos na simulação estão apresentados na Tabela 19 para
o filme aacTN3 e na Tabela 20 para o filme aacTN5.
73
Tabela 19: Dados ajustados a partir do circuito equivalente (Figura 29) para as medidas de
EIE da liga AA2024 com o filme aacTN3 após 24h de imersão em NaCl 0,05 molL
-1
.
R
1
( cm
2
)
R
AF
(k cm
2
)
CPE
AF
(µF cm
-2
)
n
AF
τ
AF
(s)
R
BF
(k cm
2
)
CPE
BF
(mF cm
-2
)
n
BF
τ
BF
(s)
24h
77,9 2,44 286,6 0,74 0,70 5,02 2,28 0,79 11,46
48h
81,5 2,95 281,6 0,80 0,83 6,79 2,57 0,89 17,5
72h
78,1 2,70 271,1 0,78 0,73 4,22 3,14 0,93 13,2
7 dias
75,2 2,57 280,9 0,81 0,72 8,34 1,58 0,69 13,2
15 dias
77,3 2,26 328,2 0,81 0,74 7,65 2,53 0,79 19,3
30 dias
81,8 2,01 411,4 0,79 0,83 3,25 3,85 0,85 12,5
50 dias
98,1 1,20 448,9 0,86 0,54 1,64 6,81 0,71 11,2
Tabela 20: Dados ajustados a partir do circuito equivalente (Figura 29) para as medidas de
EIE da liga AA2024 com o filme aacTN5 após 24h de imersão em NaCl 0,05 molL
-1
.
R
1
( cm
2
)
R
AF
(k cm
2
)
CPE
AF
(µF cm
-2
)
n
AF
τ
AF
(s)
R
BF
(k cm
2
)
CPE
BF
(mF cm
-2
)
n
BF
τ
BF
(s)
24h
70,6 7,57 144,1 0,79 1,09 32,66 0,125 0,67 12,9
48h
76,5 6,60 154,1 0,80 1,02 34,58 0,379 0,89 13,1
72h
69,8 6,28 168,7 0,82 1,06 21,83 0,752 0,80 16,4
7 dias
76,4 3,05 260,0 0,84 0,79 22,00 0,814 0,63 17,9
15 dias
77,8 7,83 432,7 0,76 3,39 18,34 0,732 0,72 13,4
30 dias
80,5 6,74 420,0 0,78 2,83 19,10 0,852 0,72 16,3
50 dias
78,1 4,68 329,2 0,87 1,54 9,18 0,781 0,67 7,2
Para uma melhor visualização dos valores de resistência e capacitância de obtidos nas
simulações foram plotados em função do tempo de imersão (Figura 38).
74
0 200 400 600 800 1000 1200
0
20
40
60
80
100
120
resisncia AF
R
AF
(kOhm.cm
2
)
tempo (h)
0 200 400 600 800 1000 1200
0
50
100
150
200
250
300
350
400
450
capacitância AF
CPE
AF
(
µ
Fcm
-2
)
tempo (h)
0 200 400 600 800 1000 1200
0
20
40
60
80
100
120
140
160
180
200
resistência BF
R
BF
(kOhm.cm
2
)
tempo (h)
0 200 400 600 800 1000 1200
0
1
2
3
4
5
6
7
capacitância BF
CPE
BF
(
µ
F.cm
-2
)
tempo (h)
Figura 38: Evolução das capacitâncias e das resistências da baixa e da alta frequência para o
filmes aacTN5() aacTN4 () e aacTN3 () com tempo de imersão em NaCl 0,05mol.L
-1
.
A R
AF
para a liga com o revestimento aacTN5 diminui de 1h (7,57 kOhmcm
2
) para 7
dias (3,05 kOhm cm
2
) e tem um pico máximo em 15dias (7,83 kOhm cm
2
), retornando a
menores valores 4,58kOhm.cm
2
em 50 dias. Para que esta resistência, a qual é relacionada
com a entrada de eletrólito, aumente em 15 dias deve existir um impedimento a esta entrada,
conforme Montemor e col.
10,77
ocorre o bloqueio dos poros da camada de silano pelos
produtos de corrosão. A liga com o filme de aacTN3 mostra pequenas oscilações da R
AF
de 1h
(2,44 kOhm cm
2
) para 7 dias (2,57 kOhm cm
2
) e depois diminui para 1,20 kOhm cm
2
em 50
dias, estes valores são semelhantes aos da R
AF
da liga nua, indicando que esta concentração
não propicia a formação de um filme protetor. Os filmes aacTN4 propiciam a liga maiores
valores de R
AF
que os filmes aacTN3 durante todos os tempos de imersão acompanhados e
que os filmes aacTN5 até 7 dias, assumindo após valores similares.
75
A CPE
AF
é 286,6 µF cm
-2
para a liga com o revestimentos aacTN3 é 144,1µF cm
-2
para aacTN5 em 24h e tende a aumentar com o tempo, devido a penetração de solução
eletrolítica através do seio do revestimento. Estes valores são elevados não caracterizando um
filme com propriedades anticorrosivas. a CPE
AF
para o filme aacTN4 só a partir de 15 dias
é que há um grande acréscimo no seu valor.
A adição da concentração ótima de ATMP permite o retardo do processo de corrosão
da liga até 15 dias, em relação às demais concentrações testadas.
Com o tempo a R
BF
diminui para os revestimentos independentes da concentração de
ATMP, sugerindo a intensificação dos processos de corrosão. Analisando os valores pode-se
elencar aacTN4>aacTN5>aacTN3 até 7 dias para o qual R
BF
é 32,1; 22,0; 2,57 kOhm cm
2
,
respectivamente. A partir de 15 dias a resistência de transferência de carga para os filmes com
as menores concentrações é similar e maior que para o filme com maior concentração de
ATMP.
Para a liga com a camada de aacTN5 a CPE
BF
é maior que para aacTN4 até 15 dias e
após 30 dias é semelhante. Os valores de CPE
BF
para aacTN3 são elevados e comparáveis aos
dos filmes nTN4 e aacnTN4.
A análise de todos os parâmetros revela que o filme com a maior concentração de
ATMP não confere proteção à corrosão para a liga AA2024. Este resultado é concordante
com o obtido para a liga AA110. Gunasekaran e colaboradores
47
afirmam que os ácidos
fosfônicos quando utilizados em soluções como inibidores em alta concentração podem
dissolver o óxido de alumínio. Com a dissolução do óxido a proteção à corrosão é reduzida,
visto que segundo Beccaria
76
a proteção a corrosão é um efeito sinérgico entre este óxido
presente e a camada de silano. Além disso, altas concentrações podem desestabilizar a rede de
silano, conforme o trabalho de Quinet
22
houve um aumento na proteção à corrosão da liga
AA2017 com o revestimento obtido a partir de uma matriz sol-gel híbrida, composta por
dietoxidimetilsilano (DEODMS), metiltrietoxisilano (MTEOS) e tetra-propoxizircônio
(TPOZ) até adições de 9,0x10
-4
mol.L
-1
de para-tetracloro-benzoquinina. Concentrações
maiores acarretam a desorganização da rede de sol-gel, explicando o desempenho
anticorrosivo inferior.
A presença dos filmes aacTN5, aacTN4 e aacTN3 diminui a densidade de corrente
anódica com pode ser constatado nas curvas cronoamperométricas da Figura 39. Isto sugere
que a reação oxidação da liga AA2024 é retardada. As curvas cronoamperométricas mostram
76
o melhor efeito protetor para os filmes aacTN5 e aacTN4, sendo o filme aacTN5 o que
apresenta menores densidades de corrente.
0 200 400 600 800 1000 1200
0.0000
0.0005
0.0010
0.0015
0.0020
0.0025
0.0030
aacTN4
aacTN5
aacTN3
liga nua
j (A cm
-2
)
tempo (s)
Figura 39: Cronoamperometria aplicando o potencial anódico -0,3V para a liga AA2024-T3 e
com os filmes aacTN5, aacTN4 e aacTN3 após 24h de imersão em 0,05molL
-1
NaCl.
II.3.3.2 Caracterização da superfície
As imagens obtidas por MEV da liga com os revestimentos aacTN5 e accTN3 (Figura
40) apresentam aspecto semelhante à imagem do revestimento aacTN4, sendo possível
perceber as ranhuras do polimento, pontos brancos e grumos. Através de análises de XPS nas
imagens ampliadas (não mostradas) identificou-se que os pontos brancos tratam-se dos
intermetálicos Al-Fe-Cu-Mn e que os grumos são as regiões com maior percentagem mássica
de Si e P, ou seja, a distribuição de Si e P na superfície não é homogênea, concordando com o
resultado obtido para os revestimentos depositados após os diversos pré-tratamentos. A
percentagem mássica de Si encontrada em um dos grumos de aacTN5 foi 3,23% e de aacTN3
foi 5,68%, inferior a percentagem do revestimento aacTN4 (70,51%). Quanto ao P a
percentagem nestes grumos foi 0,44% e 3,00 %, respectivamente para aacTN5 e aacTN3.
77
(a)
(b)
Figura 40: Microscopia eletrônica de varredura para a liga AA2024 com o filmes aacTN3 (a)
aacTN5 (b) antes da imersão.
Após 48h de imersão na solução de cloreto foi realizada MEV das placas com os
revestimentos aacTN3 e aacTN5, as imagens obtidas foram apresentadas na Figura 41
revelam que o filme está craqueado e para aacTN3 parece que houve o inchamento do filme,
possivelmente, devido à entrada de água nos seus poros. Os espectros gerais de EDS destes
revestimentos (Figura 42 e 43) apresentam intensos picos de Al e picos de Cu e Mg,
indicando que regiões do substrato encontram-se descobertas, isto vai ao encontro com a
baixa resistência e elevada capacitância obtida na simulação dos dados de EIE após 48h de
imersão.
(a)
(b)
Figura 41: Microscopia eletrônica de varredura para a liga AA2024 com o filmes aacTN3 (a)
aacTN5 (b) após 48h de imersão em NaCl 0,05mol L
-1
.
78
Figura 42: Espectro de EDS para a liga AA2024 com o filme aacTN3 após 48h de imersão
em NaCl 0,05mol L
-1
.
Figura 43: Espectros de EDS para a liga AA2024 com o filme aacTN5 após 48h de imersão
em NaCl 0,05mol L
-1
.
79
Conclusão Parcial
Acredita-se, a partir dos resultados de EIE e de MEV/EDS que os filmes aacTN5 e
aacTN3 apresentam mais áreas com defeitos em comparação com os filmes aacTN4,
facilitando a penetração de íons cloreto para o substrato metálico. A partir dos resultados da
simulação pode-se concluir que a concentração de ATMP tem papel decisivo na proteção
contra a corrosão da liga AA2024, sendo o revestimento aacTN4 o que apresenta melhor
resposta eletroquímica.
80
II.3.4 Efeito da concentração de EDTPO no desempenho dos revestimentos
TEOS/EDTPO
A natureza dos ácidos fosfônicos tem mostrado grande influência quando o
formados filmes a partir destes compostos
50
. Neste sentido, outro ácido fosfônico, EDTPO,
foi incorporado à matriz TEOS. Os sol-géis produzidos com duas diferentes concentrações de
EDTPO (3,75x10
-4
e 3,75x10
-5
mol L
-1
) foram aplicados sobre a liga AA2024-T3 após pré-
tratamento com ácido acético, resultando nas camadas aacTE4 e aacTE5.
II.3.4 .1Estudo eletroquímico
Os diagramas de Bode para a liga revestida com aacTE4 e aacTE5 após 1h e 24h de
imersão em NaCl 0,05mol.L
-1
são apresentados na Figura 44 e para os tempos de 48h, 72h, 7
dias, 15 dias, 30 dias e 50 dias na Figura 45.
-2 0 2 4
1.5
2.0
2.5
3.0
3.5
4.0
4.5
5.0
5.5
6.0
6.5
- ângulo de fase (
θ
)
log |Z| (Ohm cm
2
)
log f (Hz)
10
20
30
40
50
60
70
80
90
(a)
-2 0 2 4
1.5
2.0
2.5
3.0
3.5
4.0
4.5
5.0
5.5
6.0
- ângulo de fase (θ)
log |Z| (Ohm.cm
2
)
log f (Hz)
0
10
20
30
40
50
60
70
80
90
(b)
Figura 44: Diagramas de Bode para a liga AA2024-T3 com os filmes aacTE4(), aacTE5()
após 1h (a) e 24h (b) de imersão em NaCl 0,05 mol L
-1
.
81
-2 0 2 4
2.0
2.5
3.0
3.5
4.0
4.5
5.0
5.5
(a)
- ângulo de fase (θ)
log |Z| (Ohm cm
2
)
log f (Hz)
10
20
30
40
50
60
70
80
-2 0 2 4
2.0
2.5
3.0
3.5
4.0
4.5
5.0
5.5
(b)
- ângulo de fase (θ)
log |Z| (Ohm cm
2
)
log f (Hz)
10
20
30
40
50
60
70
80
-2 0 2 4
1.5
2.0
2.5
3.0
3.5
4.0
4.5
5.0
- ângulo de fase (
θ
)
log |Z| (Ohm cm
2
)
log f (Hz)
0
10
20
30
40
50
60
70
(c)
-2 0 2 4
1.5
2.0
2.5
3.0
3.5
4.0
4.5
- ângulo de fase (
θ
)
log |Z| (Ohm cm
2
)
log f (Hz)
0
10
20
30
40
50
60
70
(d)
-2 0 2 4
2.0
2.5
3.0
3.5
4.0
4.5
- ângulo de fase (
θ
)
log |Z| (Ohm cm
2
)
log f (Hz)
0
10
20
30
40
50
60
(e)
-2 0 2 4
2.0
2.5
3.0
3.5
4.0
4.5
(f)
- ângulo de fase (θ)
log |Z| (Ohm cm
2
)
log f (Hz)
0
10
20
30
40
50
60
Figura 45: Diagramas de Bode para os revestimentos aacTE4 () e aacTE5 () após 48h (a),
72h (b), 7 dias(c) e 15 dias (d) 30dias (e) e 50dias (f) de imersão em NaCl 0,05 mol L
-1
.
82
Os espectros de EIE para a liga AA2024-T3 revestida com camada de aacTE4 e
aacTE5 mostram altos valores de impedância na baixa frequência ( acima 10
5
Ohm cm
2
) até
72h. Os filmes aacTE5 em 7 dias apresentam diminuição de uma ordem de grandeza para esta
impedância, enquanto os revestimento aacTE4 continua na mesma ordem de grandeza que
para 72h, propiciando maior índice de proteção em relação aos filmes aacTE5
O formato dos espectros de EIE é semelhante para a liga com os dois de filmes com
EDTPO em 1h e 24h, a representação do logZnão permite a detecção de mais de uma
inclinação, o que poderia indicar a existência de um único processo.
90
Entretanto, na
representação do ângulo de fase vê-se um “ombroem torno de 10
2
Hz o qual poderia sugerir
a sobreposição de duas constante de tempo. O valor máximo do ângulo de fase nestes tempos
é cerca de -80° para aacTE4 e de -75° para aacTE5, indicando o caráter mais capacitivo destes
filmes em relação aos filmes com ATMP. Após 48h o perfil da curva de θ continua
abrangendo uma larga faixa de frequência de 10kHz até em torno de 50mHz, no entanto em
frequências menores é detectado um novo processo de relaxação, associado com a corrosão
da liga. Os espectros em 72h são praticamente sobreponíveis com θ
máx
em torno de -70°. Em
7 dias o diagrama de Bode para aacTE5 revela o estreitamento da curva do ângulo de fase,
com diminuição do seu valor máximo para -60°, deslocamento para menores frequências e
queda significativa do módulo da impedância total. Comportamento que não ocorre para os
filmes de aacTE4, evidenciando a presença de um filme mais protetor. Após 15 dias de
imersão a constante da alta frequência para aacTE4 é deslocada para frequências ainda
menores e pode ser notado um leve estreitamento do perfil do ângulo θ que culmina em
30dias, quando o comportamento eletroquímico é igual com a perfeita sobreposição dos
espectros e θ
máx
igual a -63°. O ângulo de fase da constante de tempo da alta frequência para o
filme aacTE4 após 50dias decresce para -57°, ao passo que para o filme aacTE5 mantém-se
em -63°. Entretanto nos resultados da simulação, apresentados a seguir o revestimento com a
maior concentração de EDTPO persiste mostrando melhor performance.
Utilizou-se um circuito equivalente R
1
(R
2
CPE
1
) para obtenção dos parâmetros dos
sistemas revestidos aacTE4 e aacTE5 após 24h, o produtos R
2
CPE
1
representa a resistência e
a capacitância do revestimento. Após 48h o aparecimento de uma nova constante da baixa
frequência e o circuito equivalente mostrado na Figura 29, passou a ser empregado. Conforme
descrito anteriormente, R
1
é a resistência da solução, CPE
AF
e R
AF
é a capacitância e a
resistência do revestimento, respectivamente, R
BF
a resistência e CPE
BF
a capacitância
associada aos processos de corrosão, conforme trabalho de Metroke e colaboradores
4
83
Tabela 21: Dados ajustados a partir do circuito equivalente R
1
(R
2
CPE
1
) para a medida de
impedância da liga AA2024 com os filme aacTE4 e aacTE5 após 1h de imersão em NaCl
0,05molL
-1
.
R
1
( cm
2
)
R
AF
(k cm
2
)
CPE
AF
(µF cm
-2
)
n
AF
τ
AF
(s)
aacTE4 92,4
428,2 4,98 0,93 2,13
aacTE5 124,9
216,7 6,25 0,82 1,35
Tabela 23: Dados ajustados a partir do circuito equivalente (Figura 29) para as medidas de
EIE da liga AA2024 com o filme aacTE4 após 48h de imersão em NaCl 0,05 molL
-1
.
R
1
( cm
2
)
R
AF
(k cm
2
)
CPE
AF
(µF cm
-2
)
n
AF
τ
AF
(s)
R
BF
(k cm
2
)
CPE
BF
(mF cm
-2
)
n
BF
τ
BF
(s)
48h
99,5 76,1 7,14 0,84 0,54 784,58 0,0511 0,59 40,1
72h
96,8 89,1 7,35 0,74 0,65 232,62 0,0583 0,58 13,6
7 dias
125,1 82,7 10,36 0,78 0,86 131,61 0,123 0,91 16,1
15 dias
86,0 195,9 40,65 0,79 7,96 40,74 0,237 0,71 9,7
30 dias
97,9 23,0 161,8 0,78 3,73 76,09 0,249 0,65 19,0
50 dias
128,4 13,2 102,0 0,75 1,69 214,02 0,449 0,80 96,2
Tabela 23: Dados ajustados a partir do circuito equivalente (Figura 29) para as medidas de
EIE da liga AA2024 com o filme aacTE5 após 48h de imersão em NaCl 0,05 molL
-1
.
R
1
( cm
2
)
R
AF
(k cm
2
)
CPE
AF
(µF cm
-2
)
n
AF
τ
AF
(s)
R
BF
(k cm
2
)
CPE
BF
(mF cm
-2
)
n
BF
τ
BF
(s)
48h
116,0 136,2 6,49 0,73 0,88 199,65 0,0427 0,86 8,53
72h
96,3 92,8 6,78 0,78 0,63 152,15 0,0708 0,82 10,78
7 dias
88,1 7,98 98,95 0,68 0,79 30,56 0,187 0,60 5,73
15 dias
123,3 12,25 241,4 0,75 2,96 39,04 0,417 0,70 16,28
30 dias
125,2 42,2 191,8 0,77 8,09 71,99 0,264 0,71 19,06
50 dias
102,5 16,41 211,4 0,85 3,47 56,59 0,345 0,61 19,52
84
Os valores obtidos na simulação dos dados experimentais de EIE foram plotados em
função do tempo de imersão na solução de cloreto e os gráficos gerados são apresentados na
Figura 46.
0 200 400 600 800 1000 1200
0
100
200
300
400
500
resistência AF
R
AF
(kOhm.cm
2
)
tempo (h)
0 200 400 600 800 1000 1200
0
40
80
120
160
200
240
capacincia AF
Q
AF
(
µ
F.cm
-2
)
tempo (h)
0 200 400 600 800 1000 1200
0
100
200
300
400
500
600
700
800
resisncia BF
R
BF
(kOhm.cm
2
)
tempo (h)
0 200 400 600 800 1000 1200
0.0
0.2
0.4
0.6
capacitância BF
Q
BF
(mF.cm
-2
)
tempo (h)
Figura 46: Evolução das capacitâncias e das resistências da alta e da baixa frequência para a
liga com os filmes aacTE4() e aacTE5 () com tempo de imersão em NaCl 0,05 mol.L
-1
.
Os valores de R
AF
para aacTE4 sofrem muitas alterações com o tempo de imersão
decrescendo de 1h (428,2 kOhm cm
2
) para 24h (76,1 kOhm cm
2
), como conseqüência da
formação de novos caminhos condutores no revestimento. Em 15 dias um grande salto
para 195,0 kOhm cm
2
, decrescendo após 30 dias para um valor mínimo de 23,0 kOhm cm
2
devido à dissolução e/ou craqueamento dos produtos de corrosão, os quais novamente
bloqueiam os poros em 50 dias, onde R
AF
é 134,2 kOhmcm
2
. Alguns autores
91
atribuíram
semelhante flutuação de valores de R
AF
à hidrólise e condensação de componentes ativos”
da matriz de silano , onde a hidrólise provocaria uma diminuição do valor de resistência e a
formação de ligações Si-O-Si devido a condensação poderiam causar um aumento de R
AF.
A
85
liga com o filme aacTE5 também apresenta estas oscilações, em geral, os valores de R
AF
são
menores que para aacTE4.
A capacitância da alta frequência que fornece informações a respeito da estabilidade
do revestimento e da entrada de água
10,77
assume maiores valores com o tempo apontando a
degradação destes revestimentos. Entretanto, os valores desta capacitância para o substrato
com o filme aacTE4 são inicialmente próximos e após 7 dias menores que com aacTE5,
sugerindo que o filme com a maior concentração é mais estável e adsorve menor quantidade
de água.
A liga revestida com o sistema TEOS/EDTPO nas duas concentrações avaliadas
mostra valores de R
AF
significativamente maiores e valores de CPE
AF
menores, para todos os
tempos avaliados, que a liga com os sistemas TEOS/ATMP. Isto pode indicar aumento no
nível de proteção com estes filmes na ordem aacTE4>aacTE5 para um tempo de exposição de
até 15 dias. Após 30 dias predominam os processos de corrosão da liga AA2024-T3.
A resistência da baixa frequência mostra flutuações com o tempo de imersão para os
dois revestimentos. Para a liga com a camada aacTE4 decresce de 784,6 kOhm cm
2
em 48h
para 40,6 kOhm cm
2
em 15 dias, regressando para maior valor em 30 dias (76,1 kOhm cm
2
) e
tornando a cair em 50dias. Para aacTE5 a redução ocorre de 48h (199,6 kOhm cm
2
) para 7
dias (30,6 kOhm cm
2
), em 15 e 30 dias aumenta e baixa para 56,6 kOhm cm
2
em 50 dias. O
valor desta resistência é uma estimativa da velocidade dos processos de corrosão, sendo
inversamente proporcional a corrente de corrosão. Para que a corrente de corrosão diminua
em 30 dias para aacTE4 e em 15 dias para aacTE5, os processos de corrosão devem ser
reduzidos nestes tempos e a explicação para isto é a deposição dos produtos de corrosão na
superfície da liga diminuindo a área ativa.
A capacitância da baixa frequência da liga AA2024 até 7 dias apresenta valores
característicos de capacitância de dupla camada elétrica, mas a partir de 15 dias os valores
aumentam sugerindo a contribuição de processos faradaicos nos valores de capacitância.
Através destas observações constata-se que a partir de 15 dias os revestimentos não
são eficientes para a proteção à corrosão. Entretanto, não se pode ser esquecer que estes
revestimentos são pré-tratamentos para uma posterior pintura que irá aumentar a proteção
contra a corrosão da liga.
Na Figura 47 é apresentada a cronoamperometria aplicando o potencial de -0,3V para
a liga nua e com os filmes aacTE4 e aacTE5. Assim como nos resultados de EIE para este
86
tempo de imersão estes revestimentos mostram-se semelhantes, proporcionando a liga uma
significativa diminuição das correntes anódicas.
0 200 400 600 800 1000 1200
0.0000
0.0005
0.0010
0.0015
0.0020
0.0025
0.0030
aacTE4
aacTE5
liga nua
j (A cm
-2
)
tempo (s)
Figura 47: Cronoamperometria aplicando o potencial anódico -0,3V para a liga AA2024-T3 e
com os filmes aacTE4 e aacTE5 após 24h de imersão em 0,05molL
-1
NaCl.
II.3.4.2 Caracterização da superfície
Na Figura 48 são mostradas as imagens obtidas por MEV da liga AA2024 com os
revestimentos aacTE4 e aacTE5. O aspecto é semelhante ao dos revestimentos TEOS/ATMP
obtidos após pré-tratamento da liga com ácido acético.
(a)
(b)
Figura 48: Microscopia eletrônica de varredura para a liga com o filmes aacTE4 (a) aacTE5
(b) antes da imersão.
87
As imagens obtidas por MEV da liga com os revestimentos aacTE4 e aacTE5 após
48h de imersão em NaCl 0,05molL
-1
são apresentadas na Figura 49. Com o objetivo de
comparar os resultados eletroquímicos foram realizadas análises de EDS destas imagens
(Figura 50). Nos dois casos estão presentes nos espectros de EDS Al, Cu e Mg, indicando,
possivelmente, que há áreas da liga sem revestimento. O espectro de EDS da liga com o filme
aacTE4 mostra um intenso pico de Si, ao passo que para aacTE5 o pico referente a este
elemento é desprezível. A presença de uma maior quantidade de Si na superfície da liga para
aacTE4 pode indicar que este revestimento esteja recobrindo uma maior área do substrato,
ocasionando a diminuição do processo de corrosão como verificado nas análises de EIE.
(a)
(b)
Figura 49: Microscopia eletrônica de varredura para a liga com o filmes aacTE4 (a) aacTE5
(b) após 48h de imersão em NaCl 0,05mol L
-1
.
88
Figura 50: Espectros de EDS para a liga com o filmes aacTE5 (a) e aacTE4 (b) após 48h de
imersão em NaCl 0,05mol L
-1
.
Conclusão parcial
Os revestimentos TEOS/EDTPO propiciam melhor performance em relação ao
revestimento TEOS/ATMP, o que pode estar relacionada a estrutura química do EDTPO pela
presença de 4 grupos fosfônicos na molécula e da cadeia carbônica, a qual pode conferir
maior hidrofobicidade. Além disso, a conformação dos grupos fosfônicos com a superfície,
provavelmente, seja diferente conforme o ácido fosfônico. A adição de 3,75x10
-4
mol L
-1
EDTPO ao banho de TEOS confere maior proteção à liga.
89
II.3.5 Efeito do tempo de hidrólise para o sol-gel TEOS/EDTPO
O processo de hidrólise necessita ser investigado para compreender a cinética do
processo, possibilitando o aperfeiçoamento dos filmes obtidos.
II.3.5.1 Caracterização eletroquímica
A impedância no limite da baixa freqüência é um parâmetro usado para avaliar a
resistência à corrosão de superfícies metálicas revestidas.
76,78
Neste trabalho a menor
freqüência empregada foi 10mHz e o estudo comparativo do desempenho dos filmes obtidos a
partir de 6h, 24h, 48h e 72h de hidrólise foi realizado através da evolução da resistência nesta
frequência (R
10mHz
) com o tempo de imersão em 0,05mol.L
-1
NaCl (Figura 51).
0 20 40 60 80 100 120 140 160 180
0
200
400
600
800
1000
1200
1400
1600
R
10mHz
(kOhm.cm
2
)
tempo (h)
6h
24h
48h
72h
40 60 80 100 120 140 160 180
0
40
80
120
160
200
R
10mHz
(kOhm.cm
2
)
tempo (h)
Figura 51: Evolução da resistência medida a 10 mHz (R
10mHz
) para os filmes obtidos a partir
do banho TEOS/3,75x10
-4
EDTPO após 6h (), 24h(), 48h() e 72h() de hidrólise.
Os valores de R
10mHz
para os filmes TEOS/3,75x10
-4
EDTPO obtidos a partir de 6h e
24h de hidrólise são muito semelhantes e inferiores aos obtidos após 48h e 72h, o último
durante o período de teste apresentou os maiores valores. A tendência geral, é a queda dos
valores de resistência com aumento do tempo de exposição em NaCl 0,05 mol.L
-1
,
possivelmente devido à penetração de cloreto pelo poros do filme TEOS/3,75x10
-4
EDTPO,
levando ao ataque da camada de óxido e gradual deterioração.
90
II.3.5.2 Acompanhamento do tempo de hidrólise através de IV
Espectros de IV foram realizados para sol-gel TEOS/3,75x10
-4
EDTPO após 6h, 24h,
48h e 72 de hidrólise. Na Figura 52 são apresentados os espectros de IV obtidos após 6h e 48h
de hidrólise. As bandas características estão listadas na Tabela 24.
4000 3500 3000 2500 2000 1500 1000 500
0.00
0.05
0.10
0.15
0.20
0.25
0.30
0.35
6h
Absorbância (u.a.)
mero de onda (cm
-1
)
4000 3500 3000 2500 2000 1500 1000 500
0.00
0.05
0.10
0.15
0.20
0.25
0.30
0.35
48h
Absorbância (u.a.)
número de onda (cm
-1
)
Figura 52: Espectros no IV do banho TEOS/3,75x10
-4
EDTPO após 6h e 48h de
hidrólise.
Tabela 24: Atribuições das bandas de absorção características
3,36,92
observadas no espectro
IV do banho TEOS/3,75x10
-4
EDTPO.
Número de onda da banda (cm
-1
) Atribuições das bandas
3360 deformação axial de OH (SiOH)
2974-2880 estiramentos simétrico e assimétrico C-H
(CH
2
e CH
3
)
1180 estiramento (balanço) C-H (SiOCH
2
CH
3
)
1089-1049 estiramento Si-O (Si-O-Si)
880 estiramento Si-O (SiOH)
Utilizou-se a razão entre as alturas das bandas para a análise (Tabela 25).
91
Tabela 25: Razão entre as alturas dos picos dos espectros de IV obtidos após 6h, 24h, 48h e
72h de hidrólise do banho TEOS/3,75x10
-4
EDTPO.
SiOH(3360)/SiOCH
2
CH
3
SiOH(3360)/SiOSi(1089)
6h 1,92 0,96
24h 2,05 0,91
48h 3,89 1,10
72h 3,67 1,14
A razão entre SiOH/SiOCH
2
CH
3
atinge maiores valores com o aumento do tempo de
hidrólise, conforme esperado uma vez que os grupos SiOH são formados a partir dos grupos
SiOCH
2
CH
3
. A maior variação ocorre de 24h para 48h e em 72h uma queda, pode supor
que os grupos silanóis estão sendo consumidos nas reações de condensação. A razão entre
SiOH/SiOSi aumenta com tempo de hidrólise confirmando a suposição.
Conclusão parcial
A presença de mais grupos siloxanos no banho de silano no maior tempo de hidrólise,
provavelmente, permite a formação de um filme mais reticulado, indo ao encontro dos
resultados eletroquímicos, onde os maiores valores de resistência foram obtidos para a liga
revestida neste tempo de hidrólise.
92
II.3.6 Comparação entre revestimento EDTPO, TEOS e TEOS/EDTPO
Através da observação do diagrama de Bode e de Nyquist (Figura 53) para 1h dos
filmes aacTE4, aacEDTPO com cura, aacEDTPO sem cura e aacbranco nota-se uma diferença
marcante. Os filmes aacEDTPO com cura, aacEDTPO sem cura e aacbranco possuem módulo
de impedância total duas ordem de grandeza menor para este tempo de imersão, o qual é
assumidos após 15 dias para o filme aacTE4. O comportamento destes filmes é semelhante ao
da liga nua com dois processos de relaxação, um em 10
0,5
Hz e outro em 10
-1,5
Hz. A menor
proteção conferida pelo ácido fosfônico é concordante com os resultados de Rider
54
e segundo
o pesquisador pode ser atribuída ao fato de que não existe reticulação entre estas moléculas.
Desta forma, não seria necessária a etapa de cura. Entretanto, como o processo de cura não
altera o formato nem o valor de resistência, pode-se concluir que nesta temperatura não
alteração da liga. Segundo Navarro e colaboradores
40
a degradação do tratamento térmico
ocorre em temperaturas superiores a 120ºC. A incorporação de EDTPO causa o espessamento
do filme de aacTEOS de 0,3 µm para 0,4 µm.
93
-2 0 2 4
1.5
2.0
2.5
3.0
3.5
4.0
4.5
5.0
5.5
6.0
6.5
aacTE4
aacEDTPO curado
aacEDTPO semcura
aacbranco
liga nua
- ângulo de fase (
θ
)
log |Z| (Ohm cm
2
)
log f (Hz)
0
10
20
30
40
50
60
70
80
(a)
0 300000 600000 900000 1200000 1500000
0
300000
600000
900000
1200000
1500000
(b)
aacTE4
aacEDTPOcurado
aacEDTPOsemcura
aacbranco
liga nua
- Z´´(Ohm.cm
2
)
(Ohm.cm
2
)
0 3000 6000 9000 12000 15000
0
3000
6000
9000
12000
15000
(c)
aacEDTPO curado
aacEDTPO sem cura
aacbranco
- Z´´(Ohm.cm
2
)
Z´(Ohm.cm
2
)
Figura 53: Diagramas de Bode (a) e de Nyquist (b e c) para a liga nua AA2024 e com os
revestimentos aacTE4, aacEDTPO curado, aacEDTPO sem cura e aacbranco após 1h de
imersão em 0,05molL
-1
NaCl.
Conclusão parcial:
A partir destes resultados constata-se um efeito sinérgico entre o TEOS e o EDTPO.
Pode-se supor que a ligação entre Al-O-P é mais estável sendo menos sujeita ao rompimento
devido à hidratação que a ligação Al-O-Si e que as moléculas de EDTPO estejam
incorporadas a uma rede de sílica que retarda a entrada de eletrólito, fato que não ocorre com
os revestimentos só com ácidos fosfônicos, pois não há entre os mesmos reticulação.
55
94
II.3.7 Incorporação de nanopartículas de sílica ao sol-gel TEOS/EDTPO
Os filmes aacTN4, aacTE4 e aacTE5 apresentam níveis de proteção à corrosão
elevados nos tempos iniciais, mas com o tempo de imersão, devido a presença de poros no
revestimento, diminuem. Na tentativa de reduzir os poros e/ou defeitos dos filmes foi
incorporado 20ppm de nanopartículas de sílica no banho TEOS/3,75x10
-4
EDTPO. Os filmes
obtidos a partir deste banho após o tratamento com ácido acético foram denominados
aacTE4ns. A evolução dos Diagramas de Bode com o tempo de imersão para os filmes
aacTE4ns é apresentada na Figura 54 ((a) curva do ângulo de fase (θ) e (b) curva de log
Zem função de log f). Para efeito de comparação foram plotadas as curvas de EIE dos
filmes aacTE4 e aacTE4ns para 1h, 24h e 48h (Figura 55) e 72h, 7 dias e 15 dias (Figura 56).
-2 -1 0 1 2 3 4 5
10
20
30
40
50
60
70
80
(a)
1 h
24 h
48 h
72 h
7 dias
15 dias
- ângulo de fase (θ)
log f (Hz)
-2 -1 0 1 2 3 4 5
1.5
2.0
2.5
3.0
3.5
4.0
4.5
5.0
5.5
6.0
(b)
1 h
24 h
48 h
72 h
7 dias
15 dias
log IZI (Ohm cm
2
)
log f (Hz)
Figura 54: Diagramas de Bode para a liga AA2024-T3 com o filmes aacTE4ns ((a) curva do
ângulo de fase (θ) e (b) curva de log Zem função de log f) após ()1h, ()24h,()48h,
()72h, ()7dias e (+)15dias de imersão em NaCl 0,05mol.L
-1
.
95
-2 -1 0 1 2 3 4 5
0
10
20
30
40
50
60
70
80
90
(a)
aacTE4ns 1h
aacTE4ns 24h
aacTE4ns 48h
aacTE4 1h
aacTE4 24h
aacTE4 48h
- ângulo de fase (
θ
)
log f (Hz)
-2 -1 0 1 2 3 4 5
1.5
2.0
2.5
3.0
3.5
4.0
4.5
5.0
5.5
6.0
6.5
(b)
aacTE4ns 1h
aacTE4ns 24h
aacTE4ns 48h
aacTE4 1h
aacTE4 24h
aacTE4 48h
log IZI (Ohm cm
2
)
log f (Hz)
Figura 55: Diagramas de Bode ((a) curva do ângulo de fase (θ) e (b) curva de log Z em
função de log f) para a liga AA2024-T3 com os revestimentos aacTE4 e aacTE4ns após 1h,
24h e 48h após imersão em NaCl 0,05mol.L
-1
.
-2 -1 0 1 2 3 4 5
0
10
20
30
40
50
60
70
80
(a)
aacTE4ns 72h
aacTE4ns 7 dias
aacTE4ns 15 dias
aacTE4 72h
aacTE4 7 dias
aacTE4 15 dias
- ângulo de fase (θ)
log f (Hz)
-2 -1 0 1 2 3 4 5
1.5
2.0
2.5
3.0
3.5
4.0
4.5
5.0
5.5
(b)
aacTE4ns 72h
aacTE4ns 7 dias
aacTE4ns 15 dias
aacTE4 72h
aacTE4 7 dias
aacTE4 15 dias
log IZI (Ohm cm
2
)
log f (Hz)
Figura 56: Diagramas de Bode ((a) curva do ângulo de fase (θ) e (b) curva de log Z em
função de log f) para a liga AA2024-T3 com os revestimentos aacTE4 e aacTE4ns após 72h,
7 dias e 15 dias após imersão em NaCl 0,05mol.L
-1
.
Os valores de R
10mHz
da liga com os revestimentos aacTE4 e aacTE4ns são
apresentados na Tabela 26. Para a liga revestida com aacTE4 a diminuição é bem mais
acentuada do que para os filmes com a incorporação de nanopartículas. Além disso, os valores
de ângulo de fase correspondente a constante de tempo da alta frequência mantém-se
praticamente com o aumento do tempo de imersão, alcançando após 15 dias um valor de Ө~-
70º, caracterizando um filme mais capacitivo.
96
Tabela 26: Valores de resistência medida em 10mHz para a liga AA2024 com os
revestimentos aacTE4 e aacTE4ns
aacTE4ns
R
10mHz
(kOhm.cm
2
)
aacTE4
R
10mHz
(kOhm.cm
2
)
1h 693,4 1471,0
24h 416,9 367,7
48h 255,3 83,6
72h 227,5 112,5
7 dias 134,9 64,9
15 dias 145,9 14,3
Duas hipóteses podem elucidar este comportamento. A primeira propõe o
bloqueamento dos poros do revestimento e, conseqüentemente, menor grau de degradação do
substrato metálico. Tal proposição foi estabelecida no trabalho de Montemor
93
, onde o
carregamento da matriz de bissilano (BTSE e BTESPT) com microsílica retardou a corrosão
do aço. Por outro lado, Palanivel e colaboradores
78
quando doparam uma matriz sol-gel
BTESPT com nanopartículas de sílica obtiveram um aumento da Z
t
até a concentração de
15ppm. Foi postulado por estes autores que quando o filme é dopado com pequenas
quantidades, a sílica suprime as reações catódicas (redução da água e oxigênio) reagindo com
os íons OH
-
gerados (Reação 5), formando o íon silicato, o qual reage com os íons Al
3+
do
ânodo originando um filme de silicato de alumínio,
SiO
2
+ 2OH
-
SiO
3
2-
+ H
2
O (Reação 5)
Conclusão parcial:
O filme obtido a partir da matriz TEOS/EDTPO dopada com nanopartículas de sílica
possibilita maior desempenho na proteção à corrosão quando comparado ao filme não
dopado. Isto pode ocorrer pelo bloqueamento dos poros da rede sílica/EDTPO e/ou pela
97
formação de um filme de silicato de alumínio na superfície metálica que diminui a área ativa
da liga.
II.4 Conclusão
Com relação aos dados obtidos com a liga de alumínio 2024 pode-se concluir que:
O efeito protetor dos revestimentos TEOS/Fosfônicos mostrou-se dependente do pré-
tratamento da liga, da natureza e da concentração do composto fosfônico. Entre os pré-
tratamentos testados o pré-tratamento alcalino mostrou-se ineficiente devido à dissolução do
filme de óxido formado sobre a liga. Por outro lado, o pré-tratamento com ácido acético
apresentou melhor desempenho, devido à dissolução dos intermetálicos ricos em Cu
permitindo a formação de um revestimento com maiores níveis de proteção.
A adição de compostos fosfônicos ao revestimento de TEOS aumenta a resistência à
corrosão
da liga. A partir dos resultados eletroquímicos pode-se concluir que a concentração
de ATMP e EDTPO tem papel decisivo na proteção à corrosão do revestimento. A
concentração ótima de acido fosfônico foi 5,00x10
-4
mol L
-1
de ATMP e 3,75x10
-4
mol L
-1
de
EDTPO. Constatou-se um efeito sinérgico entre o TEOS e os compostos fosfônicos atribuído
à formação de ligações Al-O-P e Al-O-Si conferindo maior hidrofobicidade, quando
comparado ao revestimento com TEOS.
Entre todos os revestimentos testados o revestimento obtido a partir da matriz
TEOS/3,75x10
-4
EDTPO mol L
-1
dopada com nanopartículas de sílica apresentou maior
desempenho na proteção à corrosão da liga AA2024 após 15 dias de imersão em solução
NaCl 0,05mol.L
-1
.
98
Conclusão geral
Para as duas ligas de alumínio o revestimento obtido a partir do precursor de sílica
TEOS não mostrou bom nível de proteção à corrosão em meio de cloreto. Os filmes
TEOS/ácido fosfônico proporcionaram um aumento da proteção anticorrosiva das ligas, mas
este efeito é dependente da concentração e da natureza do ácido fosfônico.
Para a liga AA2024-T3 entre os pré-tratamentos avaliados, o pré-tratamento com ácido
acético mostrou-se o mais eficiente para a proteção contra à corrosão da liga com o
revestimento TEOS/ácido fosfônico, resultado atribuído à dissolução do cobre nos
intermetálicos, que proporciona a diminuição da corrosão galvânica.
Foi observado um efeito sinérgico entre a rede de sílica obtida a partir do TEOS e os
ácidos fosfônicos. A incorporação de nanopartículas de sílica permitiu o bloqueio dos poros
dos revestimentos possibilitando uma significativa melhoria anticorrosiva.
99
III Referências
1
Liu,Y.; Sun,D.; You,H.; Chung, J.S. Applied Surface Science 2005, 246, 82.
2
Pourbaix, M., Atlas d´equilibres electrochimiques. (Gauthier-Villars & Cie Éditeur-
Imprimeur-Libraire, Paris, (1963) p. 168.
3
Wang, X.; Li, G.; Li, A.; Zhang, Z. J. of Materials Processing Technology 2007, 186, 259.
4
Metroke, T.L.; Gandhi, J.S; Apblett, A. Progress in Organic Coatings 2004, 50, 231.
5
De Graeve,I.; Vereecken,J.; Franquet,A.; Van Schaftinghen,T.; Terryn,H. Progress in
Organic Coatings 2007, 59, 224.
6
Frignani,A.; Zucchi,F.; Trabanelli,G.; Grassi;V. Corrosion Science 48 (2006) 2258–2273.
7
Cabral,A.M.; Duarte, R.G.; Montemor, M.F.; Ferreira, M.G.S. Progress in Organic
Coatings 2005, 54, 322.
8
Cabral, A.;. Duarte, R.G; Montemor, M.F.; Zheludkevich,M.L.; Ferreira, M.G.S Corrosion
Science 47 (2005) 869–881.
9
Wang,D.; Ni,Y.; Huo,Q.; Tallman,D.E. Thin Solid Films 471 (2005) 177– 185.
10
Zheludkevich ,M.L; Serra,R.; Montemor,M.F.;. Yasakau,K.A ; Salvado, I.M.M.; Ferreira,
M.G.S. Electrochimica Acta 51 (2005) 208–217.
11
Moutarlier,V.; Neveu,B.; Gidandet,M.P. Surface & Coatings Technology 202 (2007) 2052-
2058.
12
Montemor, M.F.;Trabelsi, W.; Zheludevich, M.; Ferreira, M.G.S. Progress in Organic
Coatings 57 (2006) 67-77.
13
Montemor,M.F.; Simões,A.M; Ferreira,M.G.S.; Williams,B.; Edwards,H.; Progress in
Organic Coatings 38 (2000) 17–26.
14
Flis, J.; Kanoza, M. Electrochimica Acta 51 (2006) 2338–2345.
15
Trabelsi, W.; Dhouibi L.; Triki, E.; Ferreira, M.G.S.; Montemor, M.F. Surface & Coatings
Technology 192 (2005) 284–290.
16
Kim , J.; Wong ,K.C.; Wong ,P.C.; Kulinich ,S.A.; Metson,J.B.; Mitchell, K.A.R. Applied
Surface Science 253 (2007) 4197–4207.
17
Kramov, A.N.; Balbyshev, V.N.; Kasten, L.S.; Mantz; R.A. Thin solid Films 514 (2006)
174-181.
18
Lamaka,S.V.; Montemor,M.F.; Gálio,A.F.; Zheludkevich, M.L. Trindade, C.; Dick, L.F.;
M.G.S. Ferreira Electrochimica Acta 53 (2008) 4773–4783.
19
Ferreira, M.G.S; Duarte, R.G.; Montemor, M.F.; Simões, A.M.P. Electrochimica Acta 49
(2004) 2927–2935.
100
20
Montemor, M.F.; Rosqvist, A.; H. Fagerholm, H.; Ferreira, M.G.S. Progress in Organic
Coatings 51 (2004) 188–194.
21
Trabelsi, W.; Triki,E; Dhouibi, L.; Ferreira, M.G.S.; Zheludkevich, M.L.; Montemor, M.F.
Surface & Coatings Technology 200 (2006) 4240– 4250.
22
Quinet, M.; Neveu, B.; Moutarlier,V.; Audebert, P.; Ricq, L. Progress in Organic Coatings
58 (2007) 46–53.
23
Zhu, D.; van Ooij, W.J. Corrosion Science 45 (2003) 2163-2175.
24
El-Nahhal,I.M.; El-Ashgar,N.M. Journal of Organometallic Chemistry 692 (2007) 2861–
2886.
25
Donley,M.S.; Mantz; R.A; Kramov, A.N.; Balbyshev,V.N.; Kasten, L.S.; Gaspar, D.J.
Progress in Organic Coatings 47 (2003) 401-415.
26
Zhu, D.; van Ooij, W.J. Electrochimica Acta 49 (2004) 1113-1125.
27
Zhu, D.; van Ooij, W.J. Corrosion Science (2002).
28
Palanivel,V.; Huang, Y.; van Ooij, W.J. Progress in Organic Coatings 53 (2005) 153–168.
29
Palomino,L.M.; Suegama,P.H.; Aoki, I.V.; Montemor, M.F.; Melo, H.G. Corrosion Science
50 (2008) 1258–1266.
30
Zhu,D.; van Ooij, W.J. Progress in Organic Coatings 49 (2004) 42–53.
31
Li,G.; Wang, X.; Li,A.; Wang,W.; Zheng, L. Surface and Coating Tecnology 201 (2007)
9571-9578.
32
Zheludkevich ,M.L; Shchukin, D.G.; Yasakau,K.A ;Möhwald, H.; Ferreira, M.G.S. Chem.
Mater. 19 (2007) 402-411.
33
Szklarska-Smialowska Z. Corrosion Science 41 (1999) 1743–1767.
34
Hosni Ezuber,H.; El-Houd,A.; El-Shawesh,F. Materials and Design 29 (2008) 801-805.
35
Nisancioglu K. J Electrochem Soc 137 (1990) 69–77.
36
Franquet, A.; Terryn, H.; Verecken, Journal of Applied Surface Science 211 (2003) 259-
269.
37
Zand,B.N; Mahdavian,M. Electrochimica Acta 52 (2007) 6438–6442.
38
Mohseni; M.; Mirabedini,M.; Hashemi,M.; Thompson,G.E. Progress in Organic Coatings
57 (2006) 307–313.
39
López, D.A.; Navarro, N.C.R.; Ballarre, J.; Durán, A.; Aparicio, M.; Ceré, S. Surface &
Coatings Technology 202 (2008) 2194–2201.
101
40
Navarro, N.C.R . Pellice, S.A.; Castro, Y.; Aparicio, M .; Durán, A. Surface & Coatings
Technology 203 (2009) 1897–1903.
41
Conde,A; Durán,A.; Damborenea, J.J. Progress in Organic Coatings 46 (2003) 288–296.
42
Wu, K.H.; Chao, C.M.; Yeh, T.F.; Chang, T.C. Surface & Coatings Technology 201 (2007)
5782–5788.
43
Hu, J.; Li,Q.; Zhang,X; Kang,W. Progress in Organic Coatings 63 (2008) 13–17.
44
López, A.J.; Ureña, A.; López, M.D.; Rams, J. Surface & Coatings Technology 202
(2008) 3755–3763.
45
Novack,B. Water Research 37 (2003) 2533–2546.
46
Stefenel, M.M.;Vuano,B.M; Mayer, C.E. 57 Corrosion (2001) 898.
47
Gunasekaran,G; Palanisamy,N.; Appa Rao, B. V; Muralidharan,V. S. Electrochimica Acta
42 (1997) 1427-1434.
48
Müller, B.; Förster, I. Corrosion Science 38 (1996)1103-1108.
49
Y. Gonzalez, M.C. Lafont, N. Pébère, G. Chatainier, J. Roy, T. Bouissou Corrosion Science
37 (1995) 1823
50
To, X.H.; Pebere, N.; Pelaprat, N.; Boutevin, B.; Hervaud, Y. Corrosion Science 39 (1997)
1925-1934.
51
Hector Jr, L.G.; Opalka,S.M.; Nitowski,G.A.,Wieserman,L.; Siegel, D.J.; Yu,H.;
Adams,J.B. Surface Science 494 (2001) 1-20.
52
E. Laiti, L.O. Öhman, J. Nordin, S. Sjöberg, J. Colloids Interface Science, 175 (1995) 230-
238.
53
Maege,I.; Jaehne,E.; Henke,A.; Adler,H-J. P.;Bram,C.; Jung,C.:; Stratmann,M. Progress in
Organic Coatings 34 (1998) 1–12.
54
Reis,F.M.; Melo, H.G.; Costa, I. Electrochimica Acta 51 (2006) 1780-1788.
55
Rider,A.N. International Journal of Adhesion &Adhesives 26 (2006) 67-78.
56
van den Brand,J.; Van Gils, S.; Beentjes, P.C.J.; Terryn, H.; Sivel, V.; Wit, J.H.W.
Progress in Organic Coatings 51 (2004) 339–350.
57
ASTM 2024.
58
Brett, C.M.A.; Gomes, I.A.R.; Martins, J.P.S. Journal of Applied Electrochemistry 24
(1994) 1158-1163.
59
Mètikos-Hukovic, M.; Babic, R.; Grubac,Z; Brinic,S. Journal of Applied Electrochemistry
24 (1994) 772-778.
60
McCafferty, E. Corrosion Science 37 (1995) 481-492.
102
61
M. E. Orazen, B. Tribollet Electrochemical Impedance Spectroscopy John Wiley, New
Jersey, 2008.
62
Zhu,D.; van Ooij, W.J. Corrosion Science 45 (2003) 2177-2197.
63
Brinker, C.J.; Scherer, G.W. Sol-gel Science Academic Press: San Diego, 1990.
64
Deflorian, F.; Rossi, S.; Fedrizzi, L. Electrochimica Acta 51 (2006) 6097-6103.
65
Buchheit, R.G., Grant, R.P.; Hlava, P.F.; Mckenzie,B.; Zender, G.L. Journal of the
Electrochemical Society 144 (1997) 2621-2628.
66
Liao, C.-M.; Olive, J.M.; Gao, M. Wei, R.P. Corrosion Science 54 (1998) 451-458.
67
Suter, T.; Alkire, R.C. Journal of the Electrochemical Society148 (2001) B36-B42.
68
Buchheit, R.G. Journal of the Electrochemical Society142 (1995) 3994.
69
Muller, I.L.; Galvele, J.R. Corrosion Science 17 (1977) 179-193.
70
Muller, I.L.; Galvele, J.R. Corrosion Science 17 (1977) 995-1007.
71
Buchheit, R.G.; Martinez, M.A.; Montes, L.P. Journal of the Electrochemical Society147
(2000) 119-124.
72
Hu, J.-H.;Liu,L; Zhang, J.-Q.; Nao, C-N. Electrochimica Acta 51 (2006) 3944–3949.
73
Hu, J.-H.;Liu,L; Zhang, J.-Q.; Nao, C-N. Progress in Organic Coatings 58 (2007) 265–
271.
74
Voevodin,N.N.; Grebasch, N.T.; Soto, W.S.; Arnold, F.E.; Donley, M.S. Surface and
Coatings Technology 140 (2001) 24-28.
75
Wang, H.; Akid,R. Corrosion Science (2007).
76
Tamborim, S.M.; Maisonnave, A.P.Z.;. Azambuja, D.S; Englert, G.E. Surface & Coatings
Technology 202 (2008) 5991–6001.
77
Zheludkevich, M.L.; Serra,R.;Montemor, M.F.; Salvado, I.M.M. Ferrreira, M.G.S. Surface
& Coatings Technology 200 (2006) 3084– 3094.
78
Palanivel,V; Zhu, D.; van Ooij, W.J. Progress in Organic Coatings 47 (2003) 384–392.
79
Conde,A.; Damborenea Corrosion Science 39 (1997) 295-303.
80
Walter, G.W. Corrosion Science 26 (1986) 681-703.
81
Mansfeld, F.; Shin,H Journal of the Electrochemical Society 135 (1988) 1171-1172.
82
Mansfeld,F.; Kendig,M.W. Journal of the Electrochemical Society 135 (1988) 828.
103
83
Palomino, L. E.M., Suegama, P.H.; Aoki, I.V.; Pászti, Z.; Melo, H.G. Electrochimica Acta
52 (2007) 7496–7505.
84
Beccaria, A.M.; Chiaruttini, L. Corrosion Science 41 (1999) 885-889.
85
Pourbaix, M., Atlas d´equilibres electrochimiques. (Gauthier-Villars & Cie Éditeur-
Imprimeur-Libraire, Paris, (1963) p. 139.
86
Bastidas, D. M; La Iglesia, V. M. Corrosion Engineering Science and Technology 42
(2007) 272-280.
87
Gil,H.; Leygraf ,C Journal of the Electrochemical Society 154 (2007) C272-C278.
88
Cano, E; Simancas, J; Narvaez, L; Bastidas,JM Boletin De La Sociedad Espanola De
Ceramica Y Vidrio 43 (2004) 212-215.
89
Palomino, L. E.M.; Castro, J.F.W; Aoki, I.V.; Melo, H.G J. Braz. Chem. Soc, 14 (2003)
651-659.
90
Conde,A.; Damborenea,J.J. Corrosion Science 44 (2002) 1555–1567.
91
Ji,W.-G.; Hu,J.-M.; Liu,L.; Zhang,J.-Q.; Cao, C.-N.Surface & Coatings Technology 201
(2007) 4789–4795
92
Yim, J. Langmir 21 (2005) 4382-4392
93
Montemor, M.F.; Cabral, A.M.; Zheludevich, M.; Ferreira, M.G.S. Surface & Coatings
Technology 200 (2006) 2875– 2885.
104
IV ANEXO
0 5000 10000 15000 20000 25000 30000
0
5000
10000
15000
20000
25000
30000
Z´´ (Ohm cm
2
)
Z´ (Ohm cm
2
)
72h
7 dias
Figura 1: Digrama de Nyquist para a liga AA2024-T3 com os filmes aacTN4 após 72h () e
7 dias () de imersão em NaCl 0,05molL
-1
.
Livros Grátis
( http://www.livrosgratis.com.br )
Milhares de Livros para Download:
Baixar livros de Administração
Baixar livros de Agronomia
Baixar livros de Arquitetura
Baixar livros de Artes
Baixar livros de Astronomia
Baixar livros de Biologia Geral
Baixar livros de Ciência da Computação
Baixar livros de Ciência da Informação
Baixar livros de Ciência Política
Baixar livros de Ciências da Saúde
Baixar livros de Comunicação
Baixar livros do Conselho Nacional de Educação - CNE
Baixar livros de Defesa civil
Baixar livros de Direito
Baixar livros de Direitos humanos
Baixar livros de Economia
Baixar livros de Economia Doméstica
Baixar livros de Educação
Baixar livros de Educação - Trânsito
Baixar livros de Educação Física
Baixar livros de Engenharia Aeroespacial
Baixar livros de Farmácia
Baixar livros de Filosofia
Baixar livros de Física
Baixar livros de Geociências
Baixar livros de Geografia
Baixar livros de História
Baixar livros de Línguas
Baixar livros de Literatura
Baixar livros de Literatura de Cordel
Baixar livros de Literatura Infantil
Baixar livros de Matemática
Baixar livros de Medicina
Baixar livros de Medicina Veterinária
Baixar livros de Meio Ambiente
Baixar livros de Meteorologia
Baixar Monografias e TCC
Baixar livros Multidisciplinar
Baixar livros de Música
Baixar livros de Psicologia
Baixar livros de Química
Baixar livros de Saúde Coletiva
Baixar livros de Serviço Social
Baixar livros de Sociologia
Baixar livros de Teologia
Baixar livros de Trabalho
Baixar livros de Turismo